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자기 저항을 이용하는 논리 기억 회로 및 이를 이용한 논리 연산 수행 방법

  • 기술번호 : KST2019031157
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 MTJ를 이용한 논리 기억 회로가 개시된다. 상기 논리 기억 회로는 감지 회로, 상기 감지 회로에 연결된 적어도 하나의 입력 메모리, 상기 감지 회로에 연결된 기준 회로부 및 적어도 하나의 논리 회로부를 포함하며, 상기 입력 메모리, 상기 기준 회로부 및 상기 논리 회로부 중 적어도 하나는 자기 터널 접합(Magnetic Tunnel Junction, MTJ)을 포함한다. 여기서, 상기 논리 기억 회로는 리드 동작 및 논리 연산 동작을 모두 수행할 수 있고, 상기 리드 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 기준 회로부가 활성화되며, 상기 논리 연산 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 논리 회로부가 활성화된다.
Int. CL G11C 11/15 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020180099159 (2018.08.24)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0132901 (2019.11.29) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020180057978   |   2018.05.21
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.08.24)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유창식 서울특별시 강남구
2 김경민 서울특별시 광진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.08.24 수리 (Accepted) 1-1-2018-0840587-72
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0785575-81
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2019-1356535-02
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.01.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0096157-15
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2020-0096156-69
8 등록결정서
Decision to grant
2020.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0200514-11
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번호 청구항
1 1
논리 기억 회로에 있어서, 감지 회로;상기 감지 회로에 연결된 적어도 하나의 입력 메모리;상기 감지 회로에 연결된 기준 회로부; 상기 감지 회로의 출력을 저장하는 출력 메모리; 및적어도 하나의 논리 회로부를 포함하며,상기 입력 메모리, 상기 기준 회로부 및 상기 논리 회로부 중 적어도 하나는 자기 터널 접합(Magnetic Tunnel Junction, MTJ)을 포함하되,상기 논리 기억 회로는 리드 동작 및 논리 연산 동작을 모두 수행할 수 있고, 상기 리드 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 기준 회로부가 활성화되며, 상기 논리 연산 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 논리 회로부가 활성화되고,상기 입력 메모리 및 상기 출력 메모리는 동일한 구조를 가지며, 상기 입력 메모리는,제 1 트랜지스터;제 2 트랜지스터; 및MTJ를 포함하며, 상기 제 1 트랜지스터의 드레인은 데이터 라인(DL)을 통하여 상기 감지 회로에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 소스와 상기 제 2 트랜지스터의 드레인이 연결되며, 상기 제 2 트랜지스터의 소스는 논리 연산을 위한 컬럼 라인(CL)에 연결되고, 상기 MTJ의 일단은 상기 트랜지스터들 사이에 연결되고, 상기 MTJ의 타단은 리드 동작을 위한 비트 라인(BL)에 연결되는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
2 2
제1항에 있어서, 상기 입력 메모리, 상기 기준 회로부 및 상기 논리 회로부는 각기 MTJ를 포함하되,상기 감지 회로는 상기 리드 동작시 상기 입력 메모리의 저항과 상기 기준 회로부의 저항을 비교하여 비교 결과를 출력하며, 상기 논리 연산 동작시 상기 입력 메모리의 저항과 상기 논리 회로부의 저항을 비교하여 비교 결과를 출력하는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
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삭제
4 4
삭제
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제1항에 있어서, 상기 비트 라인(BL)에는 상기 비트 라인(BL)을 활성화시키기 위한 리드 트랜지스터가 연결되고, 상기 컬럼 라인(CL)에는 상기 컬럼 라인(CL)을 활성화시키기 위한 논리 트랜지스터가 연결되되,상기 리드 트랜지스터와 상기 논리 트랜지스터가 상보적으로 동작하는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
6 6
논리 기억 회로에 있어서, 감지 회로;상기 감지 회로에 연결된 적어도 하나의 입력 메모리;상기 감지 회로에 연결된 기준 회로부; 및적어도 하나의 논리 회로부를 포함하며,상기 입력 메모리, 상기 기준 회로부 및 상기 논리 회로부 중 적어도 하나는 자기 터널 접합(Magnetic Tunnel Junction, MTJ)을 포함하되,상기 논리 기억 회로는 리드 동작 및 논리 연산 동작을 모두 수행할 수 있고, 상기 리드 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 기준 회로부가 활성화되며, 상기 논리 연산 동작시 상기 입력 메모리 및 상기 논리 회로부가 활성화되고, 상기 기준 회로부는,기준 트랜지스터;P 상태를 가지는 2개의 제 1 기준 MTJ 및 제 2 기준 MTJ; 및AP 상태를 가지는 제 3 기준 MTJ를 포함하며,상기 기준 트랜지스터의 드레인은 상기 감지 회로에 연결되고, 상기 기준 트랜지스터의 소스는 상기 제 1 기준 MTJ의 일단에 연결되며, 상기 제 1 기준 MTJ의 타단은 상기 제 2 기준 MTJ 및 상기 제 3 기준 MTJ의 일단들에 연결되고, 상기 제 2 기준 MTJ 및 상기 제 3 기준 MTJ의 타단들은 리드 동작을 위한 기준 비트 라인(RBL)에 연결되며, 상기 기준 비트 라인(RBL)에는 상기 기준 비트 라인(RBL)을 활성화시키기 위한 리드 트랜지스터가 연결되는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
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제1항에 있어서, 상기 논리 회로부는 제 1 논리 회로부와 제 2 논리 회로부를 포함하되,상기 제 1 논리 회로부는 AND 연산을 위해 사용되고, 상기 제 2 논리 회로부는 OR 연산을 위해 사용되며, 상기 제 1 논리 회로부 동작시 상기 제 2 논리 회로부는 비활성화되고, 상기 제 2 논리 회로부 동작시 상기 제 1 논리 회로부는 비활성화되는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
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제7항에 있어서, 상기 제 1 논리 회로부는,P 상태를 가지는 제 1 논리 MTJ 및 2개의 제 1 트랜지스터들을 포함하고, 상기 제 1 논리 MTJ의 일단은 기준 비트 라인(RBL)에 연결되고 타단은 상기 제 1 트랜지스터들 사이에 연결되며, 상기 제 1 트랜지스터들 중 하나의 소스는 기준 컬럼 라인(RCL)에 연결되고,상기 제 2 논리 회로부는,AP 상태를 가지는 제 2 논리 MTJ 및 2개의 제 2 트랜지스터들을 포함하고, 상기 제 2 논리 MTJ의 일단은 상기 기준 비트 라인(RBL)에 연결되고 타단은 상기 제 2 트랜지스터들 사이에 연결되며, 상기 제 2 트랜지스터들 중 하나의 소스는 기준 컬럼 라인(RCL)에 연결되는 것을 특징으로 하는 논리 기억 회로
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순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한양대학교산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발 10nm급 STT-MRAM의 MTJ 신뢰성 모델링 및 신뢰성불량에 강인한 회로 기술 연구