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테스트 대상 집적회로(IC: Integrated circuit)의 스캔 셀 배치 정보를 획득하는 스캔 셀 배치 정보 획득부;상기 스캔 셀 배치 정보에 기초하여 상기 테스트 대상 집적 회로를 복수의 파티션(partition)으로 구분하고, 각각의 파티션에 포함되는 스캔 셀의 개수를 조정하는 파티셔닝부; 및상기 구분된 파티션 별로 스캔 셀을 재 배열하고 스캔 셀 재배열 정보를 생성하는 제어부를 포함하는 스캔 셀 재배열 장치
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제1항에 있어서, 상기 파티셔닝부는,상기 구분된 파티션 내의 스캔 셀 중에서 특정 스캔 셀을 기준으로 파티션 경계선을 이동하면서 상기 각각의 파티션에 포함되는 스캔 셀의 개수를 조정하는 스캔 셀 재배열 장치
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제2항에 있어서, 상기 파티셔닝부는,상기 구분된 파티션의 경계선에서 가장 가까운 거리에 위치하는 스캔 셀을 상기 특정 스캔 셀로 결정하는 스캔 셀 재배열 장치
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제1항에 있어서, 상기 제어부는,X-필링 값을 결정하고, 상기 결정된 X-필링 값에 기초하여 상기 스캔 셀을 재 배열하는 스캔 셀 재배열 장치
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제4항에 있어서,상기 제어부는,시뮬레이션 패턴을 생성하고, 상기 생성된 시뮬레이션 패턴에 따른 시뮬레이션을 통해 응답(response) 값을 획득하며, 상기 획득된 응답(response) 값을 이용하여 전이 확률(transition probability)을 계산하고, 상기 계산된 전이 확률(transition probability)에 기초하여 상기 X-필링 값을 결정하는 스캔 셀 재배열 장치
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제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 구분된 파티션 별로 스캔 셀에 대한 가중 해밍 거리(weighted hamming distance, WHD)를 계산하고, 상기 계산 결과 파티션 내에서 가장 작은 가중 해밍 거리(weighted hamming distance, WHD)에 해당하는 스캔 셀에 대해 연속으로 재 배열 및 스티칭하는 스캔 셀 재배열 장치
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테스트 대상 집적회로(IC: Integrated circuit)의 스캔 셀 배치 정보를 획득하는 단계;상기 스캔 셀 배치 정보에 기초하여 상기 테스트 대상 집적 회로를 복수의 파티션(partition)으로 구분하고, 각각의 파티션에 포함되는 스캔 셀의 개수를 조정하는 단계; 및상기 구분된 파티션 별로 스캔 셀을 재 배열하고 스캔 셀 재배열 정보를 생성하는 단계를 포함하는 스캔 셀 재배열 방법
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제7항에 있어서, 상기 스캔 셀의 개수를 조정하는 단계는,상기 구분된 파티션의 경계선에서 가장 가까운 거리에 위치하는 스캔 셀을 결정하고, 상기 결정된 스캔 셀을 기준으로 파티션 경계선을 이동하면서 상기 각각의 파티션에 포함되는 스캔 셀의 개수를 조정하는 스캔 셀 재배열 방법
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제7항에 있어서, 상기 스캔 셀을 재 배열하는 단계는,시뮬레이션 패턴을 생성하는 단계;상기 생성된 시뮬레이션 패턴에 따른 시뮬레이션을 통해 응답(response) 값을 획득하는 단계;상기 획득된 응답(response) 값을 이용하여 전이 확률(transition probability)을 계산하는 단계;상기 계산된 전이 확률(transition probability)에 기초하여 X-필링 값을 결정하는 단계; 및상기 결정된 X-필링 값에 기초하여 상기 스캔 셀을 재 배열하는 단계를 포함하는 스캔 셀 재배열 방법
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제7항에 있어서,상기 스캔 셀을 재 배열하는 단계는,상기 구분된 파티션 별로 스캔 셀에 대한 가중 해밍 거리(weighted hamming distance, WHD)를 계산하는 단계; 및상기 계산 결과 파티션 내에서 가장 작은 가중 해밍 거리(weighted hamming distance, WHD)에 해당하는 스캔 셀에 대해 연속으로 재 배열 및 스티칭하는 단계를 포함하는 스캔 셀 재배열 방법
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스캔 셀 배치(placement) 정보를 활용하여 파티셔닝 하는 단계;파티션닝된 각 파티션 및 상기 각 파티션 내의 스캔 셀을 0 또는 1로 X-필링하는 시뮬레이션 패턴을 생성하는 단계;상기 생성된 시뮬레이션 패턴을 이용하여 패턴 시뮬레이션을 수행하고, 상기 패턴 시뮬레이션 결과로 전이 확률(transition probability)을 계산하는 단계;상기 각 파티션 및 상기 각 파티션 내 스캔 셀의 X-비트를 0 또는 1로 필링하는 단계;상기 각 파티션 내 스캔 셀 패턴 정보를 활용하여 가중 해밍 거리(weighted hamming distance)를 계산하는 단계; 및상기 계산된 가중 해밍 거리(weighted hamming distance)를 이용하여 스캔 셀을 재배열 하는 단계를 포함하는 스캔 셀 재배열 방법
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제11항에 있어서,상기 전이 확률(transition probability)을 계산하는 단계는,직각 거리를 이용해 스캔 셀의 파티션의 경계를 이동하고, 상기 경계가 이동된 각 스캔 셀을 임시로 재 배열하며, 상기 임시로 재 배열된 스캔 셀을 기반으로 상기 전이 확률(transition probability)을 계산하는 단계를 포함하는 스캔 셀 재배열 방법
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