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반도체 테스트 프로그램의 디버깅(debugging)과 관련된 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선 순위를 결정하기 위한 장치에 있어서,상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 각각의 전체 테스트 시간과 관련된 가중치들에 기초하여 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선순위 값들을 계산하는 우선순위 계산부;상기 계산된 우선순위 값들 중 제1 테스트 항목과 관련된 제1 우선순위 값과 제2 테스트 항목과 관련된 제2 우선순위 값을 비교하는 우선순위 비교부; 및상기 제1 우선순위 값이 상기 제2 우선순위 값보다 낮을 경우, 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제2 테스트 항목보다 낮은 열(row)에 배치하는 테스트 항목 배치부를 포함하고,상기 우선순위 계산부는,상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 수, 다수의 사이트들에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들을 테스트하기 위해 소요되는 전체 시간, 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들을 테스트하기 위해 소요되는 전체 시간, 상기 다수의 사이트들에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 어느 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간, 및 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간에 기초하여 상기 가중치들을 계산하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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제1항에 있어서,상기 우선순위 계산부는,상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들과 관련된 병렬 테스트 효율 값들과 상기 가중치들을 결합하여 상기 우선순위 값들을 계산하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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제3항에 있어서,상기 우선순위 계산부는,다수의 사이트들에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 어느 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간에서 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간을 제외한 값, 상기 다수의 사이트들에서 하나를 제외한 값과 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간을 결합한 값으로 나눈 값을 하나에서 제외한 값을 상기 병렬 테스트 효율 값들 중 어느 하나로 계산하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 수에 상응하는 열(row)을 갖는 상기 테스트 항목 순위표를 생성하는 순위표 생성부를 더 포함하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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제1항에 있어서,상기 우선순위 비교부는,상기 제1 우선순위 값이 상기 제2 우선순위 값보다 높을 경우, 상기 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제2 테스트 항목보다 높은 열에 배치된 제3 테스트 항목과 관련된 제3 우선순위 값과 비교하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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제6항에 있어서,상기 테스트 항목 배치부는,상기 제1 우선순위 값이 상기 제3 우선순위 값보다 낮을 경우, 상기 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제3 테스트 항목보다 낮은 열에 배치하는테스트 항목 우선순위 결정 장치
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반도체 테스트 프로그램의 디버깅(debugging)과 관련된 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선 순위를 결정하기 위한 방법에 있어서,우선순위 계산부에서, 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 각각의 전체 테스트 시간과 관련된 가중치들에 기초하여 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선순위 값들을 계산하는 단계;우선순위 비교부에서, 상기 계산된 우선순위 값들 중 제1 테스트 항목과 관련된 제1 우선순위 값과 제2 테스트 항목과 관련된 제2 우선순위 값을 비교하는 단계; 및테스트 항목 배치부에서, 상기 제1 우선순위 값이 상기 제2 우선순위 값보다 낮을 경우, 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제2 테스트 항목보다 낮은 열(row)에 배치하는 단계를 포함하고,상기 가중치들에 기초하여 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선순위 값들을 계산하는 단계는,상기 우선순위 계산부에서, 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 수, 다수의 사이트들에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들을 테스트하기 위해 소요되는 전체 시간, 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들을 테스트하기 위해 소요되는 전체 시간, 상기 다수의 사이트들에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 어느 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간, 및 상기 다수의 사이트들 중 하나에서 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들 중 하나를 테스트하기 위해 소요되는 시간에 기초하여 상기 가중치들을 계산하는 단계를 포함하는테스트 항목 우선순위 결정 방법
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제8항에 있어서,상기 가중치들에 기초하여 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 우선순위 값들을 계산하는 단계는,상기 우선순위 계산부에서, 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들과 관련된 병렬 테스트 효율 값들과 상기 가중치들을 결합하여 상기 우선순위 값들을 계산하는 단계를 포함하는테스트 항목 우선순위 결정 방법
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제8항에 있어서,순위표 생성부에서, 상기 적어도 하나 이상의 테스트 항목들의 수에 상응하는 열(row)을 갖는 상기 테스트 항목 순위표를 생성하는 단계를 더 포함하는테스트 항목 우선순위 결정 방법
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제8항에 있어서,상기 우선순위 비교부에서, 상기 제1 우선순위 값이 상기 제2 우선순위 값보다 높을 경우, 상기 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제2 테스트 항목보다 높은 열에 배치된 제3 테스트 항목과 관련된 제3 우선순위 값과 비교하는 단계; 및상기 테스트 항목 배치부에서, 상기 제1 우선순위 값이 상기 제3 우선순위 값보다 낮을 경우, 상기 테스트 항목 순위표에서 상기 제1 테스트 항목을 상기 제3 테스트 항목보다 낮은 열에 배치하는 단계를 더 포함하는테스트 항목 우선순위 결정 방법
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