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명령어 기반의 보스트 회로 장치

  • 기술번호 : KST2019034149
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 실시예들은 자동 테스트 장비의 제한된 출력 채널의 수와 일치시킨 테스트 인스트럭션을 변환한 인코딩된 인스트럭션에 대해 커맨드 메모리를 참조하여 적어도 하나의 패턴을 생성하도록 디코딩함으로써, 테스트 시간을 감소시키고 테스트 비용 절감하며 멀티 사이트 테스트 구조에 다량의 피 시험장치를 적용하여 테스트할 수 있는 보스트 회로 장치를 제공한다.
Int. CL G01R 31/319 (2006.01.01) G01R 31/3181 (2006.01.01) G11C 29/56 (2015.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 31/31928(2013.01) G01R 31/31928(2013.01) G01R 31/31928(2013.01) G01R 31/31928(2013.01) G01R 31/31928(2013.01)
출원번호/일자 1020170166405 (2017.12.06)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1963811-0000 (2019.03.25)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20190329) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.12.06)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 서울특별시 마포구
2 서성열 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.12.06 수리 (Accepted) 1-1-2017-1214853-40
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.07.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0146943-58
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.12.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0841573-58
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.02.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0121648-84
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2019-0121647-38
7 등록결정서
Decision to grant
2019.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0184757-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
자동 테스트 장비로부터 인코딩된 인스트럭션을 수신하여 상기 수신한 인코딩된 인스트럭션을 저장하는 인스트럭션 저장부;주소 및 커맨드를 매칭하여 저장하는 커맨드 메모리; 및상기 커맨드 메모리를 참조하여 상기 인코딩된 인스트럭션을 해석하여 테스트 패턴으로 변환하는 인스트럭션 디코더를 포함하며,상기 인코딩된 인스트럭션은 연산자 및 피연산자를 가지며, 상기 인코딩된 인스트럭션은 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션이 압축 변환된 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션의 길이는 상기 자동 테스트 장비의 채널 폭과 동일하게 정의되는 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 인코딩된 인스트럭션은 상기 인스트럭션 디코더 및 상기 커맨드 메모리의 하드웨어 영역을 고려하여 정해진 커맨드의 유형을 기준으로 인코딩되는 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 인코딩된 인스트럭션의 길이가 상기 자동 테스트 장비의 채널 폭보다 작은 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 인스트럭션 디코더가 상기 인스트럭션 저장부에 순차적으로 저장된 인코딩된 인스트럭션들을 해석하는 순서를 지정하는 시퀀스 제어부를 추가로 포함하는 보스트 회로 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 시퀀스 제어부는,상기 인스트럭션 저장부에 저장된 인스트럭션들에 따라 상기 인스트럭션 디코더가 해석한 테스트 패턴들이 하나의 인스트럭션과 대비하여 복수의 비율로 조합되도록 상기 테스트 패턴들을 생성하는 순서를 결정하는 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 인스트럭션 디코더가 생성한 테스트 패턴을 저장하고 상기 보스트 회로 장치에 연결된 피시험장치로 상기 테스트 패턴을 출력하는 패턴 관리부를 추가로 포함하는 보스트 회로 장치
9 9
제1항에 있어서,상기 자동 테스트 장비가 생성한 클록을 수신하여 상기 수신한 클록에 따라 상기 인스트럭션 디코더의 동작을 동기화시키는 클록 수신부를 추가로 포함하는 보스트 회로 장치
10 10
제1항에 있어서,상기 보스트 회로 장치는 상기 자동 테스트 장비에 핀 공유 방식으로 연결되어 상기 인코딩된 인스트럭션을 수신하는 것을 특징으로 하는 보스트 회로 장치
11 11
인스트럭션 생성 장치에 의한 인스트럭션 생성 방법에 있어서, 메모리 셀에 데이터를 기입하고 독출하는 과정을 수행하여 고장 여부를 검출하는 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션을 정의하는 단계; 및상기 정의된 테스트 인스트럭션을 압축 변환하여 연산자 및 피연산자를 갖는 인코딩된 인스트럭션을 생성하는 단계를 포함하는 인스트럭션 생성 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 인코딩된 인스트럭션을 자동 테스트 장비에 저장하는 단계를 추가로 포함하는 인스트럭션 생성 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션의 길이는 상기 자동 테스트 장비의 채널 폭과 동일하게 정의되는 것을 특징으로 하는 인스트럭션 생성 방법
14 14
제11항에 있어서,상기 인코딩된 인스트럭션은 보스트 회로 장치의 인스트럭션 디코더 및 커맨드 메모리의 하드웨어 영역을 고려하여 정해진 커맨드의 유형을 기준으로 인코딩되는 것을 특징으로 하는 인스트럭션 생성 방법
15 15
피시험장치의 신호 특성을 테스트하는 자동 테스트 장비에 있어서,인코딩된 인스트럭션을 저장하고 보스트 회로 장치로 상기 인코딩된 인스트럭션을 전송하는 인코딩된 인스트럭션 저장부; 및클록 신호를 생성하여 상기 보스트 회로 장치로 상기 클록 신호를 전송하는 클록 생성부를 포함하며,상기 인코딩된 인스트럭션은 연산자 및 피연산자를 가지며, 상기 인코딩된 인스트럭션은 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션이 압축 변환된 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비
16 16
삭제
17 17
제15항에 있어서,상기 메모리 테스트 알고리즘에 따라 요구되는 테스트 인스트럭션의 길이는 상기 자동 테스트 장비의 채널 폭과 동일하게 정의되는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비
18 18
제15항에 있어서,상기 인코딩된 인스트럭션은 상기 보스트 회로 장치의 인스트럭션 디코더 및 커맨드 메모리의 하드웨어 영역을 고려하여 정해진 커맨드의 유형을 기준으로 인코딩되는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 연세대학교 산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(반도체공정장비) 차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구