| 1 |
1
삭제
|
| 2 |
2
삭제
|
| 3 |
3
삭제
|
| 4 |
4
복수 개의 파장을 갖는 입사광을 발진시켜, 반사되어 되돌아오는 입사광의 선형 편광 회전 각도로 전선에 흐르는 전류의 세기를 측정하는 전류 센싱 시스템에 있어서, 복수 개의 파장을 갖는 입사광을 발진시키는 광원;상기 입사광을 서로 다른 방향으로 회전하는 제1 및 제2 원형 편광빔으로 변환시키고, 상기 반사되어 되돌아오는 입사광의 서로 다른 방향으로 회전하는 제1 및 제2 원형 편광빔을 서로 직교하는 제1 및 제2 선형 편광빔으로 변환시키는 편광빔 처리부; 상기 편광빔 처리부로부터 입사된 상기 복수 개의 파장을 갖는 입사광을 다중분할하는 제1 다중분할기;상기 제1 다중분할기에 의해 분할된 상기 복수 개의 파장을 입사시키고, 복수 개의 코어를 포함하며, 복수 개의 싱글코어 광섬유로부터 입사된 상기 복수 개의 파장을 상기 복수 개의 코어로 각각 입사시키고, 상기 전선에 흐르는 전류에 의한 패러데이 효과에 따라 상기 입사광의 서로 다른 방향으로 회전하는 두 개의 원형 편광빔을 위상 지연시키는 센싱 광섬유;상기 입사광을 반사시키는 반사체;상기 반사체에 의해 반사된 입사광의 복수 개의 파장 성분을 다중분할하는 제2 다중분할기;복수 개로 구성되며, 상기 반사체에 의해 반사된 입사광의 복수 개의 파장 성분을 각각 입사시켜, 상기 반사체에 의해 반사된 입사광의 회전 각도를 전기적 신호로 검출하는 광 검출기; 및상기 전기적 신호를 기 설정된 처리에 따라 전류의 세기로 출력하는 산출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 5 |
5
제4항에 있어서,상기 광원은,상기 복수 개의 파장을 갖는 입사광을 동시에 발진시키거나, 스위핑(Sweeping)하여 발진시키는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 6 |
6
제4항에 있어서,상기 제1 및 제2 다중분할기는,배열형 격자 도파로(Array Waveguide Grating)로 구성되는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 7 |
7
제4항에 있어서,상기 전류 센싱 시스템은,상기 입사광을 상기 편광빔 처리부로 입사시키는 커플러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 8 |
8
제4항에 있어서,상기 전류 센싱 시스템은,상기 광원의 출력단에 광 아이솔레이터를 구비하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 9 |
9
제4항에 있어서,상기 편광빔 처리부는,상기 입사광을 선형 편광빔으로 변환시키는 편광기;상기 선형 편광빔을 제1 및 제2 선형 편광빔으로 분리시키는 제1 스플리터;상기 입사광의 상기 제1 및 제2 선형 편광빔의 위상을 지연시키고, 상기 반사체에 의해 반사된 입사광의 제1 및 제2 선형 편광빔의 위상을 지연시키는 복굴절 위상 모듈레이터;상기 제1 선형 편광빔을 좌선회시켜 제1 원형 편광빔을 생성하고, 상기 제2 선형 편광빔을 우선회시켜, 제2 원형 편광빔을 생성하는 λ/4 파장 플레이트; 및상기 복굴절 위상 모듈레이터와 상기 λ/4 파장 플레이트를 연결하는 제2 스플리터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 10 |
10
제9항에 있어서,상기 λ/4 파장 플레이트는,상기 반사체로부터 반사된 입사광의 제1 및 제2 원형 편광빔을 서로 다른 방향으로 회전하는 제1 및 제2 선형 편광빔으로 변환시키는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 11 |
11
제4항에 있어서,상기 전류 센싱 시스템은,상기 산출부로부터 출력된 상기 복수 개의 파장에 대한 상기 전류의 세기를 모니터링하는 모니터링부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 시스템
|
| 12 |
12
복수 개의 파장 성분을 갖는 입사광을 발진시키는 발진과정;상기 입사광을 편광면이 직교하는 제1 및 제2 선형 편광빔으로 분리시키는 분리과정;상기 편광면이 직교하는 제1 및 제2 선형 편광빔을 서로 반대 방향으로 회전하는 제1 및 제2 원형 편광빔으로 변환시키는 변환과정;상기 입사광의 복수 개의 파장을 다중분할하는 분할과정;다중분할된 복수 개의 파장을 서로 다른 물질로 구성된 멀티코어 광섬유의 복수 개의 코어로 각각 입사시키는 입사과정;패러데이 효과에 입각하여, 서로 다른 방향으로 회전하는 제1 및 제2 원형 편광빔 사이에 위상 지연을 발생시키는 위상 지연 발생과정;상기 입사광을 반사시키는 반사과정;서로 다른 방향으로 회전하는 제1 및 제2 원형 편광빔을 서로 직교하는 두 개의 제1 및 제2 선형 편광빔으로 변환시키는 재변환과정;상기 반사과정에 의해 반사된 입사광의 복수 개의 파장 성분을 다중분할하여, 광 검출기로 입사시키는 입사과정;상기 반사과정에 의해 반사된 입사광의 편광 회전각을 전기적 신호로 검출하는 검출과정; 및상기 전기적 신호를 처리하여 전류의 세기를 산출하는 산출과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 센싱 방법
|
