요약 | 본 발명은 전립선 검사기기에 관한 것으로, 본 발명의 실시예에 따른 전립선 검사기기는 직장에 삽입되어 제1 전립선 이미지를 획득하는 직장 삽입 초음파 프로브(10), 및 회음부에 접촉하여 제2 전립선 이미지를 획득하는 회음부 접촉 초음파 프로브(20)를 포함한다. |
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Int. CL | A61B 8/12 (2006.01.01) A61B 8/00 (2006.01.01) A61B 8/08 (2006.01.01) |
CPC | A61B 8/12(2013.01) A61B 8/4444(2013.01) A61B 8/5207(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020190105409 (2019.08.27) |
출원인 | 한양대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | |
공개번호/일자 | 10-2021-0025398 (2021.03.09) 문서열기 |
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국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 공개 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
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원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | N |
심사청구항수 | 4 |