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이미지 패치의 복잡도 측정 방법

  • 기술번호 : KST2021008100
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이미지 패치의 픽셀들 사이의 관계를 기반으로 이미지 패치의 복잡도 측정을 하는 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 이미지 패치의 복잡도 측정 방법은, 복잡도 측정 시스템이, 이미지를 구성하는 이미지 패치의 복잡도 값을 산출하는 단계; 및 복잡도 측정 시스템이, 산출된 복잡도 값에 제1 함수를 적용하여, 각각의 이미지 패치의 분포 그룹을 조정하는 단계;를 포함한다. 이에 의해, 이미지 패치들의 복잡도를 측정하는 과정에서 패치 내부의 픽셀들 사이의 표준편차 또는 편차 값에 로그 로지스틱(Log Logistic) 함수를 적용하여 이미지 패치들의 복잡도가 균일하게 분포되도록 함으로써, 영상처리 알고리즘들의 정확도 향상에 기여할 수 있다.
Int. CL G06T 7/11 (2017.01.01) G06T 3/40 (2006.01.01) G06K 9/46 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020200024945 (2020.02.28)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0073425 (2021.06.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020190163498   |   2019.12.10
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍인표 경기도 성남시 수정구
2 김제우 경기도 성남시 분당구
3 박민규 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2020.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2020-0212909-21
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
복잡도 측정 시스템이, 이미지를 구성하는 이미지 패치의 복잡도 값을 산출하는 단계; 및복잡도 측정 시스템이, 산출된 복잡도 값에 제1 함수를 적용하여, 각각의 이미지 패치의 분포 그룹을 조정하는 단계;를 포함하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
2 2
청구항 1에 있어서,산출 단계는, 이미지 패치의 복잡한 정도를 정량적으로 측정하기 위해, 각 패치의 픽셀들 사이의 표준편차 또는 편차를 구하는 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
3 3
청구항 2에 있어서,각각의 이미지 패치는, 각각의 복잡도 값이 산출되면, 산출된 복잡도 값을 기준으로 복수의 분포 그룹으로 분류되며, 분류된 분포 그룹은, 평균값을 중심으로 하여 좌우가 완전한 대칭을 이루는 가우시안 분포를 따르는 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
4 4
청구항 2에 있어서,조정 단계는, 표준편차 또는 편차 결과에 로그 로지스틱(Log Logistic) 함수를 적용하여, 각각의 이미지 패치의 분포 그룹을 조정하기 위한 Log Logistic of Standard Deviation(llsd)를 산출하는 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
5 5
청구항 4에 있어서,로그 로지스틱(Log Logistic) 함수는, 인 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
6 6
청구항 5에 있어서,llsd는, 하기 수식 1로 산출되는 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
7 7
청구항 1에 있어서,복잡도 측정 시스템이, 조정된 이미지 패치의 분포 그룹을 DNN(Deep Neural Network)에 적용하여 이미지 패치의 복잡한 정도를 정량적으로 측정하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 패치의 복잡도 측정 방법
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이미지를 구성하는 이미지 패치의 복잡도 값을 산출하고, 산출된 복잡도 값에 제1 함수를 적용하여, 각각의 이미지 패치의 분포 그룹을 조정하는 프로세서; 및프로세서에 필요한 저장 공간을 제공하는 저장부;를 포함하는 이미지 패치의 복잡도 측정 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 전자부품연구원 범부처GigaKOREA사업(R＆D) (4D실감-총괄/1세부)4D 복원 및 동적 변형 거동 모델 기반의 초실감 서비스 기술 개발