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문턱전압이 상이한 트랜지스터를 이용한 메모리 방식의 위장 논리 게이트

  • 기술번호 : KST2022019458
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 문턱전압이 상이한 트랜지스터를 이용한 메모리 방식의 위장 논리 게이트가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 위장 논리 게이트는, 적어도 둘 이상의 후보 논리 게이트들, 문턱 전압이 상이한 적어도 둘 이상의 트랜지스터들을 기반으로 출력 신호가 조절되는 메모리 및 메모리의 출력 신호에 따라 적어도 둘 이상의 후보 논리 게이트들 중 하나의 출력을 선택적으로 출력하는 멀티플렉서를 포함할 수 있다.
Int. CL H03K 19/17768 (2020.01.01) H03K 19/17736 (2020.01.01) G06F 21/14 (2013.01.01) G06F 30/392 (2020.01.01) H01L 27/118 (2006.01.01) H01L 27/11507 (2017.01.01)
CPC H03K 19/17768(2013.01) H03K 19/17736(2013.01) G06F 21/14(2013.01) G06F 30/392(2013.01) H01L 27/11807(2013.01) H01L 27/11507(2013.01)
출원번호/일자 1020210042094 (2021.03.31)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0136582 (2022.10.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.03.31)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오재문 대전광역시 유성구
2 양병도 충청북도 청주시 서원구
3 김정호 충청북도 청주시 서원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 (유)한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2021-0379685-49
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0548864-16
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2022-0995686-12
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.09.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0995685-66
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번호 청구항
1 1
적어도 둘 이상의 후보 논리 게이트들; 문턱 전압이 상이한 적어도 둘 이상의 트랜지스터들을 기반으로 출력 신호가 조절되는 메모리;메모리의 출력 신호에 따라 적어도 둘 이상의 후보 논리 게이트들 중 하나의 출력을 선택적으로 출력하는 멀티플렉서를 포함하는, 위장 논리 게이트
2 2
제2 항에 있어서, 메모리의 출력 신호가 N 비트일 경우, 후보 논리 게이트들의 개수는 2N 개 이하인, 위장 논리 게이트
3 3
제3 항에 있어서, 메모리는, 적어도 하나의 메모리 셀을 포함하고,메모리 셀은, 제1 P 채널 트랜지스터, 제2 P 채널 트랜지스터, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터를 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이하거나, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이한, 위장 논리 게이트
4 4
제3 항에 있어서, 메모리 셀은, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 출력단(Q)이 형성되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 반전 출력단(Qb)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 소스가 접지되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 반전 출력단(Qb)이 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
5 5
제4 항에 있어서, 멀티플렉서는, 제어단자가 메모리 셀의 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)에 전기적으로 연결되어, 제1 후보 논리 게이트를 스위칭하는 제1 트랜스미션 게이트; 및제어단자가 메모리 셀의 반전 출력단(Qb) 및 출력단(Q)에 전기적으로 연결되어, 제2 후보 논리 게이트를 스위칭하는 제2 트랜스미션 게이트를 포함하는, 위장 논리 게이트
6 6
문턱 전압이 상이한 적어도 둘 이상의 트랜지스터들을 기반으로 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)의 값이 하이레벨 또는 로우레벨로 조절되는 메모리 셀; 및복수의 트랜지스터들로 구성되어, 메모리 셀의 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)의 값에 따라 선택적으로 둘 이상의 후보 논리 게이트들 중 하나로 동작하는 선택형 논리 게이트를 포함하는, 위장 논리 게이트
7 7
제5 항에 있어서, 메모리 셀은, 제1 P 채널 트랜지스터, 제2 P 채널 트랜지스터, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터를 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이하거나, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이한, 위장 논리 게이트
8 8
제3 항에 있어서, 메모리 셀은, 제1 P 채널 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 하나 및 제2 P 채널 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 하나에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 출력단(Q)이 형성되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 반전 출력단(Qb)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 소스가 접지되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 반전 출력단(Qb)이 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
9 9
제6 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 두 개의 입력 신호들 또는 세 개의 입력 신호들을 논리 연산하여 출력하되, 메모리 셀의 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)의 신호들 적어도 하나에 따라 NAND 게이트 또는 NOR 중 하나로 선택적으로 동작되는, 위장 논리 게이트
10 10
제9 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 제1 내지 제5 P 채널 트랜지스터들 및 제1 내지 제5 N 채널 트랜지스터들을 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제2 P 채널 트랜지스터의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제3 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제4 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제3 P 채널 트랜지스터의 드레인및 제5 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제4 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제5 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제1 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제2 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되어 선택형 논리 게이트의 출력단(OUT)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터의 소스, 제3 N 채널 트랜지스터의 드레인및 제4 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되고, 제2 N 채널 트랜지스터의 소스, 제3 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되고, 제4 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 소스가 접지되고, 제4 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 하나(A)가 입력되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제5 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 다른 하나(B)가 입력되고, 제3 P 채널 트랜지스터 및 제3 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 출력단(Q)이 전기적으로 접속되고, 제1 P 채널 트랜지스터, 제5 P 채널 트랜지스터, 제2 N 채널 트랜지스터 및 제4 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 반전 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
11 11
제9 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 제1 내지 제9 P 채널 트랜지스터들 및 제1 내지 제9 N 채널 트랜지스터들을 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터의 소스, 제2 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제6 P 채널 트랜지스터의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제3 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제4 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제3 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제5 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제5 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제7 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제8 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제6 P 채널 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 다른 하나, 제7 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제9 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제4 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제8 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제9 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제1 N 채널 트랜지스터의 드레인, 제2 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제6 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되어 선택형 논리 게이트의 출력단(OUT)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터의 소스, 제3 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제4 N 채널 트랜지스터의 드레인 중 하나가 전기적으로 접속되고, 제2 N 채널 트랜지스터의 소스, 제3 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되고,제5 N 채널 트랜지스터의 소스, 제7 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제8 N 채널 트랜지스터의 드레인 이 전기적으로 접속되고, 제6 N 채널 트랜지스터의 소스, 제7 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제9 N 채널 트랜지스터의 드레인 중 하나가 전기적으로 접속되고,제4 N 채널 트랜지스터의 소스, 제9 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제9 N 채널 트랜지스터의 소스가 접지되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 세 개의 입력 신호들 중 하나(A)가 입력되고, 제5 P 채널 트랜지스터 및 제5 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 세 개의 입력 신호들 중 다른 하나(B)가 입력되고, 제9 P 채널 트랜지스터 및 제9 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 세 개의 입력 신호들 중 또 다른 하나(C)가 입력되고, 제3 P 채널 트랜지스터, 제7 P 채널 트랜지스터, 제3 N 채널 트랜지스터 및 제7 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 출력단(Q)이 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터, 제4 P 채널 트랜지스터, 제6 P 채널 트랜지스터, 제8 P 채널 트랜지스터, 제2 N 채널 트랜지스터, 제4 N 채널 트랜지스터, 제6 N 채널 트랜지스터 및 제8 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 반전 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
12 12
제6 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 두 개의 입력 신호들 또는 세 개의 입력 신호들을 논리 연산하여 출력하되, 메모리 셀의 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)의 신호들 적어도 하나에 따라 NAND 게이트 또는 XOR 중 하나로 선택적으로 동작되는, 위장 논리 게이트
13 13
제12 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 제1 내지 제5 P 채널 트랜지스터들 및 제1 내지 제5 N 채널 트랜지스터들을 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제2 P 채널 트랜지스터의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제2 P 채널 트랜지스터의 드레인 중 다른 하나, 제3 P 채널 트랜지스터의 소스, 제4 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제3 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제4 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제5 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제1 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제3 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되어 선택형 논리 게이트의 출력단(OUT)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제2 N 채널 트랜지스터 드레인이 전기적으로 접속되고, 제3 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제4 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되고, 제4 N 채널 트랜지스터 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 드레인가 전기적으로 접속되고, 제2 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 소스가 접지되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 하나(A)가 입력되고, 제3 P 채널 트랜지스터 및 제4 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 하나의 반전 신호(Ab)가 입력되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 다른 하나(B)가 입력되고, 제4 P 채널 트랜지스터 및 제5 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 다른 하나의 반전 신호(Bb)가 입력되고, 제5 P 채널 트랜지스터 및 제3 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
14 14
제6 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 두 개의 입력 신호들 또는 세 개의 입력 신호들을 논리 연산하여 출력하되, 메모리 셀의 출력단(Q) 및 반전 출력단(Qb)의 신호들 적어도 하나에 따라 NOR 게이트 또는 XOR 중 하나로 선택적으로 동작되는, 위장 논리 게이트
15 15
제14 항에 있어서, 선택형 논리 게이트는, 제1 내지 제5 P 채널 트랜지스터들 및 제1 내지 제5 N 채널 트랜지스터들을 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터의 소스 및 제3 P 채널 트랜지스터의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제2 P 채널 트랜지스터 소스가 전기적으로 접속되고, 제3 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제4 P 채널 트랜지스터의 소스가 전기적으로 접속되고, 제4 P 채널 트랜지스터의 드레인 및 제5 P 채널 트랜지스터 소스가 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제5 P 채널 트랜지스터의 드레인, 제1 N 채널 트랜지스터의 드레인, 제2 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제3 N 채널 트랜지스터의드레인이 전기적으로 접속되어 선택형 논리 게이트의 출력단(OUT)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터의 소스, 제2 N 채널 트랜지스터 소스, 제3 N 채널 트랜지스터의 소스, 제4 N 채널 트랜지스터의 드레인 및 제5 N 채널 트랜지스터의 드레인이 전기적으로 접속되고, 제4 N 채널 트랜지스터의 소스 및 제5 N 채널 트랜지스터의 소스나가 접지되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제4 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 하나(A)가 입력되고, 제4 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 하나의 반전 신호(Ab)가 입력되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제5 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 다른 하나(B)가 입력되고, 제3 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 두 개의 입력 신호들 중 다른 하나의 반전 신호(Bb)가 입력되고, 제5 P 채널 트랜지스터 및 제3 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 메모리셀의 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 위장 논리 게이트
16 16
제1 P 채널 트랜지스터, 제2 P 채널 트랜지스터, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터를 포함하되, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이하거나, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 문턱 전압이 상이한, 메모리 셀
17 17
제16 항에 있어서,제1 P 채널 트랜지스터 및 제2 P 채널 트랜지스터 각각의 소스에 전원이 인가되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 출력단(Q)이 형성되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 드레인이 전기적으로 접속되어 반전 출력단(Qb)이 형성되고, 제1 N 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 소스가 접지되고, 제1 P 채널 트랜지스터 및 제1 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 반전 출력단(Qb)이 전기적으로 접속되고, 제2 P 채널 트랜지스터 및 제2 N 채널 트랜지스터 각각의 게이트들에 출력단(Q)이 전기적으로 접속되는, 메모리 셀
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.