특허평가지표
특허평가시스템 > 평가모형 > 특허평가지표
· 특허평가지표
KPAS는 평가대상 특허의 고유 특징으로 특허의 서지 및 텍스트 상에 있는 정보를 통계적으로 정리한 내재적 지표와 특허가 속한 기술환경 특성을 고려한 외재적 지표를 추출한 후, 요인분석을 실시하여 특허평가등급 산출에 필요한 투입변수로 활용하고 있습니다.
특허 내재적지표 | |
---|---|
출원인 수 | 독립 청구항 단어 수의 평균 |
패밀리특허수(국내) | 전문 단어 수 |
패밀리특허수(국외) | 등록까지 조치의 수 |
IPC 수 | 우선권 주장 수 |
청구항 수 | 도면 수 |
독립청구항 수 | 특허 등록일-소멸일 기간 차(일) |
독립청구항의 비율 | 특허 출원일-등록일 기간 차(일) |
삭제된 청구항의 비율 | IPC섹션 |
특허 외재적지표 | |
---|---|
IPC 크기 | |
IPC 활동성 | |
IPC 활동성 평균 | |
IPC 활동성 비율 | |
IPC 내 출원인 수 |
평가 프로세스
특허평가모형 학습 프로세스
특허거래 가능성 평가모형 구축
주요평가요소
복수개의 요인
주요 요인정보 제공
특허평가등급
stanine 9등급 체계 활용
백분위 기준 특허등급 구분