반도체 소자 분석용 노이즈 측정기술
기술명 | 반도체 소자 분석용 노이즈 측정기술 | ||
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업종분류 | (29271) 반도체 제조용 기계 제조업 | 기술분류 | (ED0499) 달리 분류되지 않는 반도체소자/시스템 |
IPC 코드 | (H01L-/) 반도체 장치; 다음의 유에 속하지 않는 전기적 고체 장치 | ||
핵심키워드 | AC측정,노이즈측정 | ||
핵심키워드 (영문) | AC measurement,noise measurement | ||
기술개요 | 반도체 소자의 전기적 특성 분석 및 Trap 분포를 관찰하기 위해 미세한 전기적 잡음 신호를 측정하는 장비로, 저준위 소자는 주변환경이나 측정조건에 따라 전기적 특성이 다르게 나타나게 되어 소자에서 나온 신호가 왜곡되는 경향이 있는 바, 본 저주파 측정장비는 우수한 필터와 정교한 스위칭을 통해 저주파 잡음을 측정하는 기술에 관한 것임. | ||
도입희망 금액 | ***** 원 | 자체부담 가능금액 | ***** 원 |
도입기술의 요구성능 |
***** | ||
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활용분야 | ***** | ||
사업화 계획 | ***** | ||
도입희망 유형 | ***** | ||
도입희망기술 관련제품 |
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도입희망기술 영위기업 |
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