맞춤기술찾기
IPC분류
비메모리 반도체칩 검사를 위한 Vertical Type Probe Card 적용 Machinable 세라믹 소재 및 플레이트
도입희망 기술개요
- 관리번호
- : 353886-20140001
- 담당센터(부서)
- : 경기혁신센터
- 담당팀
- : 기술혁신1팀
- 전화번호
- : 031-8006-1570
| 기술명 | 비메모리 반도체칩 검사를 위한 Vertical Type Probe Card 적용 Machinable 세라믹 소재 및 플레이트 | ||
|---|---|---|---|
| 업종분류 | (27213) 물질 검사, 측정 및 분석기구 제조업 | 기술분류 | (G000) 달리 분류되지 않는 재료 |
| IPC 코드 | (G01R-1/073) 전기량 자기량의 측정 | ||
| 핵심키워드 | 세라믹 플레이트,미세홀 가공 | ||
| 핵심키워드 (영문) | ceramic plate,fine hole process | ||
| 기술개요 |
- 제조공정이 완료된 반도체칩은 전기적 신호에 의한 검사를 통하여 양품, 불량품을 선별하는데 이 과정에서 필요한 검사장치가 프로브 카드
- 비메모리 반도체칩을 검사하는 프로브카드의 경우 기존의 Cantilever Type 및 MEMS Type 제품을 대체하여 Vertical Type이 사용되는 추세 - Vertical Probe Card는 Main PCB외 세라믹 가공 플레이트 등이 조합된 것이며, 세라믹 소재 및 플레이트는 현재 일본에서 전량 수입되고 있는 실정으로 국산화가 필요 |
||
| 도입희망 금액 | ***** 원 | 자체부담 가능금액 | ***** 원 |
도입희망 상세내용
|
도입기술의 요구성능 |
***** | ||
|---|---|---|---|
| 활용분야 | ***** | ||
| 사업화 계획 | ***** | ||
| 도입희망 유형 | ***** | ||
|
도입희망기술 관련제품 |
***** |
도입희망기술 영위기업 |
***** |
