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질화갈륨 박막 제조용 단결정 기판, 질화갈륨 박막제조방법 및 질화갈륨 박막 제조용 단결정 기판으로 제조된질화갈륨 박막을 포함하는 발광다이오드 및레이저다이오드

  • 기술번호 : KST2014000645
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 질화갈륨 박막 제조용 단결정 기판, 질화갈륨 박막 제조방법 및 질화갈륨박막 제조용 단결정 기판으로 제조된 질화갈륨 박막을 포함하는 발광다이오드 및 레이저다이오드가 제공된다. 본 발명에 따른 질화갈륨 박막 제조용 단결정 기판은 사파이어, 실리콘 카바이드, 산화아연, 실리콘 또는 비화갈륨(GaAs)으로 이루어지며, 동일 평면 상에, 복수개의 규칙적으로 반복형성된 패턴을 포함하는 질소이온주입 패턴부; 및 상기 패턴을 구획하는 질소이온비주입 구획부를 포함하는 것을 특징으로 하며, 질화갈륨 박막의 성장을 종래와 다른 방식으로 빠르게 성장시킬 수 있으며, 결과적으로 질화갈륨 박막의 결정성 및 광학적 특성을 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 단결정기판을 이용한 질화갈륨 박막 제조방법은 제작이 용이하고 질화갈륨 박막의 결정성 및 광학적 특성을 향상시킬 수 있으며, 상기 질화갈륨 박막 제조용 단결정기판에 의해 제조된 질화갈륨 박막을 포함하는 발광다이오드 및 레이저다이오드는 광학적 특성이 우수하다는 장점이 있다.
Int. CL H01L 33/32 (2014.01)
CPC H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01) H01L 33/16(2013.01)
출원번호/일자 1020060096437 (2006.09.29)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0858923-0000 (2008.09.10)
공개번호/일자 10-2008-0029603 (2008.04.03) 문서열기
공고번호/일자 (20080917) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.09.29)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 변동진 대한민국 서울 성북구
2 최재홍 대한민국 대구 북구
3 진정근 대한민국 서울 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 현종철 대한민국 서울특별시 중구 다산로 **, *층 특허법인충현 (신당동, 두지빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 인텔렉추얼디스커버리 주식회사 서울특별시 강남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.09.29 수리 (Accepted) 1-1-2006-0718145-17
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.03.22 수리 (Accepted) 4-1-2007-5043540-16
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.08.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.09.11 수리 (Accepted) 9-1-2007-0051365-21
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.09.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0513964-67
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.11.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0836593-16
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0836594-62
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2008.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0055637-66
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.01 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2008-0086015-57
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2008-0086001-18
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5034712-96
12 등록결정서
Decision to grant
2008.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0400820-19
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
사파이어, 실리콘 카바이드, 산화아연, 실리콘 및 비화칼륨으로 이루어진 군에서 선택되는 원소로 이루어진 기판; 및 상기 기판의 평면 상에, 복수 개의 규칙적으로 반복형성된 패턴이며, 표면에 질화알루미늄막이 형성되어 있는 질소이온주입 패턴부; 및 상기 패턴을 구획하는 질소이온비주입 구획부를 포함하는 질화갈륨 박막 제조용 단결정기판
2 2
제 1항에 있어서, 상기 패턴의 형상은 원형, 타원형, 스트라이프형(줄무늬형) 또는 다각형인 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조용 단결정기판
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서, 상기 질소이온주입 패턴부에 대한 질소이온의 도즈량은 1×1015/cm2 내지 1×1017/cm2 이고, 주입에너지는 10 내지 100 keV범위인 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조용 단결정기판
5 5
(a) 단결정기판을 준비하는 단계;(b1) 상기 단결정기판의 표면에 유전체층을 성장시키는 단계;(b2) 상기 유전체층의 표면에 복수개의 규칙적으로 반복형성된 패턴을 구획하는 구획부보호막을 형성하는 단계;(b3) 상기 패턴의 유전체층을 제거하여 패턴부를 형성하는 단계;(b4) 상기 패턴부에 질소이온을 주입하여 질소이온주입 패턴부를 형성하는 단계;(b5) 상기 구획부보호막을 제거하는 단계; 및(b6) 상기 구획부보호막이 제거된 후에 노출된 유전체층을 제거하여 상기 패턴을 구획하는 질소이온비주입 구획부를 형성함으로써, 상기 단결정기판의 동일 평면상에 규칙적으로 반복형성된 패턴을 포함하는 질소이온주입 패턴부 및 상기 패턴을 구획하는 질소이온비주입 구획부를 형성하는 단계; 및(c) 상기 질소이온주입 패턴부 및 질소이온비주입 구획부의 표면에 질화갈륨박막을 성장시키는 단계를 포함하는 질화갈륨 박막 제조방법
6 6
제 5항에 있어서, 상기 단결정기판은 사파이어, 실리콘 카바이드, 산화아연, 실리콘 및 비화갈륨으로 이루어진 군으로부터 선택되는 원소로 이루어진 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
7 7
제 5항에 있어서, 상기 (b2)단계의 패턴의 형상은 원형, 타원형, 스트라이프형(줄무늬형) 또는 다각형인 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
8 8
제 5항에 있어서, 상기 (b4)단계의 질소이온주입처리는 이온도즈량 1×1015/cm2 내지 1×1017/cm2 및 주입에너지 10 내지 100 keV범위에서 행하는 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
9 9
삭제
10 10
제 5항에 있어서, 상기 유전체층은 실리콘산화막(SiO2), 실리콘질화막(Si3N4) 또는 실리콘산화질화막(SiON)인 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
11 11
제 5항에 있어서, 상기 (b2)단계의 구획부보호막을 형성하는 방법은 포토리소그래피공정, 잉크젯법 또는 임프린팅법인 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
12 12
제 5항에 있어서, 상기 (b3)단계의 유전체층을 RIE로 제거하는 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
13 13
제 5항에 있어서, 상기 (b6)단계의 유전체층 제거는 불산으로 제거하는 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
14 14
제 5항에 있어서, 상기 (c)단계의 질화갈륨 박막 성장은 먼저 기판에 완충층을 형성한 후, 그 위에 에피층을 형성하는 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
15 15
제 5항에 있어서, 상기 (c)단계의 질화갈륨 박막 성장은 유기금속화학기상증착법, 분자선 에피탁시법, 원자층단위증착법 또는 플라즈마화학증착법에 의한 것을 특징으로 하는 질화갈륨 박막 제조방법
16 16
제 1항 또는 제 2항 또는 제 4항의 질화 갈륨 박막 제조용 단결정기판에 의해 제조된 질화갈륨 박막을 포함하는 발광다이오드
17 17
제 1항 또는 제 2항 또는 제 4항의 질화갈륨 박막 제조용 단결정기판에 의해 제조된 질화갈륨 박막을 포함하는 레이저다이오드
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.