요약 | 본 발명은 마크 분할 검사 방법에 관한 것으로서, 기준 영상과 검사 영상을 각각 취득하고, 기준 영상과 검사 영상에 대해 문자 단위의 상관도를 구한 후, 상관도 값과 기설정된 제1 임계값을 비교한다. 다음으로, 상관도 값이 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 해당 문자를 일정한 개수의 영역으로 분할하고, 분할한 영역별로 기준 영상과 검사 영상의 상관도를 구한 후, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이와 기설정된 제2 임계값을 비교한다. 여기서, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이가 제2 임계값보다 큰 경우 검사 영상을 불량으로 판단하고, 상관도의 최대 값 및 최소 값의 차이가 제2 임계값보다 작은 경우, 검사 영상을 정상으로 판단함으로써, 불량의 정도가 작은 마크라 할지라도 그 불량 여부를 정밀히 판단해 낼 수 있는 마크 분할 검사 방법이 개시된다. 마크, 반도체 패키지, 상관도, 분할, 불량, 검출 |
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Int. CL | H01L 23/544 (2006.01.01) H01L 21/66 (2006.01.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020080027802 (2008.03.26) |
출원인 | 호서대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-0940301-0000 (2010.01.27) |
공개번호/일자 | 10-2009-0102387 (2009.09.30) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20100205) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2008.03.26) |
심사청구항수 | 5 |