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공극 변위 측정을 이용한 평면 스테이지 면내 위치 검출방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014001368
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 평면 스테이지의 면내 위치 검출 방법 및 장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 2축 운동 및 가동부의 회전 운동(Yaw motion)까지 구현 가능한 평면 스테이지의 3축 이동량을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명에 따르면, 고정단 위에서 격자형태로 배치되어 있는 리니어 모터 등에 의해 2차원 운동을 하는 평면 스테이지의 면내 위치(In-plane position; x, y, θ), 즉 평면 운동량을 검출하기 위해, 가동부와 연동하는, 서로 다른 기울기로 사면(declined) 가공된 평판의 공극량을 측정하고 이를 변환관계를 통해 연산하여 간접적으로 평면 위치를 검출함으로써, 두 축으로의 평면 운동 및 가동부의 수십도에 달하는 회전 운동을 측정할 수 있다.평면 스테이지, 면내 위치 검출, 자기 부상, 공극 측정, 선형 모터
Int. CL G03F 7/20 (2006.01.01)
CPC G03F 7/70725(2013.01) G03F 7/70725(2013.01)
출원번호/일자 1020060042797 (2006.05.12)
출원인 한국교통대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0671241-0000 (2007.01.12)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070119) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.05.12)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국교통대학교산학협력단 대한민국 충청북도 충주시 대

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정광석 대한민국 충북 충주시
2 박의상 대한민국 서울시 용산구
3 반근수 대한민국 충북 충주시
4 박준규 대한민국 충북 청주시 흥덕구
5 이상헌 대한민국 경북

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남정훈 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(논현동, 건설회관)(특허법인주원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국교통대학교산학협력단 대한민국 충청북도 충주시 대
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.05.12 수리 (Accepted) 1-1-2006-0332640-53
2 우선심사신청서
Request for Accelerated Examination
2006.11.13 수리 (Accepted) 1-1-2006-0828508-89
3 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.11.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0828433-53
4 등록결정서
Decision to grant
2006.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0716355-98
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2012-5050068-93
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.08.09 수리 (Accepted) 4-1-2013-0036542-01
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.21 수리 (Accepted) 4-1-2020-5039896-32
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번호 청구항
1 1
평면 스테이지의 이동량을 측정하는 장치에 있어서,상기 평면 스테이지를 장착하기 위한 베이스;상기 베이스의 상부에서 상기 평면 스테이지와 연동하여 구동하며, 사면 가공된 적어도 하나의 평판; 및상기 베이스와 상기 평판 사이의 공극량을 측정하기 위한 적어도 하나의 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 공극량 및 상기 평판의 기하학적 구조에 관한 정보를 이용하여 상기 평면 스테이지의 이동량을 계산하기 위한 알고리즘을 구비하며, 상기 이동량에 대응하는 피드백 신호를 생성하는 제어기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
3 3
제 2 항에 있어서,상기 센서는 측정 대상인 3개의 평판에 대해 3개가 할당되어 각각의 공극량을 측정함으로써 상기 평면 스테이지의 면내 위치에 관한 3축 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 각 평판은 사각형이며, 상기 기하학적 구조에 관한 정보는 상기 각 평판의 기울기, 상기 각 평판의 각 모서리의 높이, 상기 각 평판의 각 변의 길이 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 각 평판 표면을 일정한 반복 패턴으로 가공되어 있으며, 상기 센서 및 상기 제어기는 상기 평판 표면의 굴곡 변화량을 측정하여 상기 이동량 정보로 변환시키는 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 각 평판의 사면은 서로 다른 기울기로 이루어진 것을 특징으로 하는 평면 스테이지의 이동량 측정 장치
7 7
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 따른 평면 스테이지의 이동량 측정 장치를 이용하여, 상기 공극량 및 상기 평판의 기하학적 구조에 관한 정보를 이용하여 상기 평면 스테이지의 이동량을 계산하는 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 3개의 평판의 모서리의 최대 높이를 s라 하고, 가운데 평판의 나머지 모서리의 높이를 p, q라 하고, 상기 각 평판의 각 변의 길이를 m이라 하고, 상기 각 평판과 상기 베이스 사이의 공극량을 각각 g1, g2, g3라 하고, 상기 평판의 3개 축 방향 변위를 x, y, θ라 하면, 상기 평면 스테이지의 이동량은 아래의 식으로 계산되는 특징으로 하는 방법
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