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SoC 코아로직의 천이 지연 고장을 테스트하기 위하여 코아로직의 입력 또는 출력 포트에 연결되는 래퍼 셀에 있어서,제1 멀티플렉서;상기 제1 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아, 후속하여 연결된 다른 래퍼 셀의 제1 멀티플렉서로 출력하는 제1 플립플롭;상기 제1 플립플롭의 출력과 CFI(Core Function Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 제2 멀티플렉서;상기 제2 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아 출력하는 제2 플립플롭; 및 상기 제2 플립플롭의 출력과 상기 CFI 데이터 중 어느 하나를 선택하여 CFO(Core Function Output) 데이터로 출력하는 제3 멀티플렉서를 포함하되,상기 제1 멀티플렉서는 상기 제2 플립플롭의 출력과 CTI(Core Test Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트용 레퍼 셀
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제1항에 있어서,상기 제1 플립플롭에서 제2 플립플롭으로의 데이터 전송은,3개의 클럭(WRCK)에 의하여 수행되는 것인 레퍼 셀
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제2항에 있어서, 상기 클럭(WRCK)은,시스템 클럭과 동기되는 것인 래퍼 셀
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SoC 코아로직의 천이 지연 테스트를 위한 테스트 회로로서,테스트 대상이 되는 코아로직과,상기 코아로직의 입력 포트 및 출력 포트에 연결되는, 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 복수의 래퍼 셀을 포함하고,상기 입력 포트에 연결되는 래퍼 셀(입력 셀)은 상기 제3 멀티플렉스로부터의 데이터가 상기 코아로직의 입력 포트에 연결되고, 상기 출력 포트에 연결되는 래퍼 셀(출력 셀)은 코아로직의 출력 포트로부터의 데이터를 제2 멀티플렉서로 입력받도록 구성된 것인 SoC 코아로직의 천이 지연 테스트를 위한 테스트 회로
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제4항에 있어서, 상기 입력 셀로부터의 천이 지연 고장 테스트용 데이터는,코아로직에 입력된 후 다음 시스템 클럭에 출력 셀에 코아로직으로부터의 결과 데이터가 저장되는 것인 테스트 회로
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제5항에 있어서, 상기 천이 지연 고장 테스트용 데이터는,매 시스템 클럭마다 연속하여 입력되고 출력되는 것인 테스트 회로
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SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트 방법으로서,테스트 패턴을 상기 코아로직의 입력 포트에 연결된 래퍼 셀(입력 셀)에 저장하는 단계와,각 입력 셀에 저장된 테스트 패턴을 테스트 대상 코어에 인가하고 테스트 결과를 캡처하여 상기 코아로직의 출력 포트에 연결된 래퍼 셀(출력 셀)에 저장하는 단계와, 상기 출력 셀에 저장된 테스트 결과를 출력하여 테스트 결과를 확인하는 단계를 포함하며,상기 상승 천이 지연 고장 테스트와 하강 천이 지연 고장 테스트를 연속하는 시스템 클럭마다 수행하여 총 3개의 시스템 클럭내에 상승 및 하강 천이 지연 고장 테스트를 수행하는 것인 SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트 방법
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제7항에 있어서, 상기 테스트 패턴을 입력 셀에 저장하는 단계는,상기 입력 셀 내부의 제1 플립플롭에 테스트 데이터를 인가하는 단계와,상기 제1 플립플롭의 테스트 데이터를 상기 입력 셀 내부의 제2 플립플롭에 전달하는 단계와,상기 제1 플립플롭에 후속의 테스트 데이터를 인가하는 단계를 포함하는 것인 테스트 방법
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제8항에 있어서, 상기 제1플립플롭에서 상기 제2 플립프롭으로의 테스트 데이터 전달은,3개의 시스템 클럭 동안 수행되는 것인 테스트 방법
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제7항에 있어서, 상기 테스트 결과를 캡처하여 상기 출력 셀에 저장하는 단계는,상기 입력 셀의 제2 플립플롭에 저장된 첫 번째 테스트 데이터가 코아로직에 인가되며, 이와 동시에 상기 입력 셀의 제1 플립플롭에 저장된 두 번째 테스트 데이터가 상기 제2 플립플롭으로 전달되는 단계와,다음 시스템 클럭에서, 상기 첫 번째 테스트 데이터에 대한 코아로직으로부터의 결과값이 상기 출력 셀의 제2 플립플롭에 저장되고, 이와 동시에 상기 입력 셀의 제2 플립플롭으로부터 상기 코아로직에 두 번째 테스트 데이터가 입력되는 단계와,그 다음 시스템 클럭에서, 상기 출력 셀의 제2 플립플롭에 저장된 데이터가 상기 출력 셀의 제1 플립플롭으로 전달되고, 이와 동시에 두 번째 테스트 데이터에 대한 상기 코아로직으로부터의 결과값이 상기 출력 셀의 제2 플립플롭으로 저장되는 단계를 포함하는 것인 테스트 방법
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제10항에 있어서,상기 첫 번째 테스트 데이터 및 두 번째 테스트 데이터는,상기 코아로직의 상승 및 하강 천이 지연 고장을 테스트할 수 있도록 구성되는 테스트 패턴을 이루는 것인 테스트 방법
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제7항에 있어서, 상기 테스트 결과를 출력하는 단계는,상기 출력 셀의 제1 플립플롭의 데이터를 외부로 출력하고, 이와 동시에 상기 출력 셀의 제2 플립플롭의 데이터를 상기 제1 플립플롭으로 전달하는 단계와,다음 클럭에서, 상기 제1 플립플롭의 저장된 데이터를 외부로 출력하는 단계를 포함하는 것인 테스트 방법
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