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다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014004900
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요약 본 발명의 연속적 LDD 또는 연속적 오프셋 구조의 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법에서는, 게이트전극 형성 후 활성 반도체층에 위에 MSZ(Methyl-Polysilazane) 물질로 이루어진 스핀코팅층(Spin On Glass, SOG 층)을 도핑 블록으로 이용하여, 불순물 이온을 활성 반도체층에 도핑하며, 게이트전극의 측면 부분에 스핀코팅층이 두께가 연속적으로 변하는 테이퍼(taper) 형상으로 형성되기 때문에, 그 두께에 따라, 불순물 이온의 도핑 농도가 변하여, 연속적으로 도핑농도가 변하는 영역, 즉, 연속적 농도변화 불순물 영역이 형성된다. 이러한 연속적 농도변화 불순물 영역은, 오프셋 또는 LDD 영역과 고농도 불순물영역 사이에 불순물 농도의 변화가 불연속적인 일반적인 구조보다, 더 뛰어난 누설전류 방지효과를 갖고, 일반적인 LDD 또는 오프셋 구조와 달리, 오프셋 또는 LDD 영역을 위한 추가공정 및 추가 마스크가 필요하지 않다는 장점이 있다.
Int. CL H01L 29/786 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019990040371 (1999.09.20)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-0587363-0000 (2006.05.30)
공개번호/일자 10-2001-0028231 (2001.04.06) 문서열기
공고번호/일자 (20060608) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.09.20)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종훈 대한민국 서울특별시서초구
2 이상걸 대한민국 서울특별시강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 심창섭 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 **, 현대빌딩 *층 (잠실동)(KBK특허법률사무소)
2 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.09.20 수리 (Accepted) 1-1-1999-0116400-46
2 대리인변경신고서
Agent change Notification
2000.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2000-5160070-14
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.05.17 수리 (Accepted) 4-1-2001-0059077-39
4 출원심사청구서
Request for Examination
2004.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2004-0425558-96
5 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2004.09.20 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2004-0425557-40
6 등록결정서
Decision to grant
2006.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0250180-08
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
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번호 청구항
1 1
기판 위에 반도체층을 형성하는 단계와, 상기 반도체층 위에 게이트절연막을 형성하는 단계와, 상기 게이트절연막 위에 게이트전극을 형성하는 단계와, 상기 반도체층의 상기 게이트전극을 마주하지 않는 영역에 저농도 불순물 이온을 주입하여, 상기 게이트전극을 마주하는 영역의 반도체층에 채널영역을 형성하고, 그 이외의 영역에 저농도 불순물영역을 형성하는 단계와, 상기 채널영역의 경계부분과 상기 저농도 불순물영역 중 특정부분 사이의 영역 위에, 바깥쪽으로 갈수록 두께가 점진적으로 얇아지는 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 형성하는 단계와, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 사이에 두고, 상기 반도체층의 저농도 불순물영역에 고농도 불순물 이온을 주입하여, 상기 반도체층의 상기 특정부분 바깥영역에 고농도 불순물영역을 형성하며, 상기 반도체층의 채널영역의 경계부분과 상기 특정부분 사이의 영역에, 바깥방향으로 갈수록 저농도 불순물에서 고농도 불순물로 점진적으로 바뀌는 연속적 농도변화 불순물영역을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막이 스핀코팅 방법으로 폴리실라잔을 도포하여 형성된 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 게이트절연막이 상기 게이트전극과 같은 평면형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 고농도 불순물이온의 주입 전에, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 회분화(ashing)하여, 상기 연속적 농도변화 불순물영역에만 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막이 남도록 하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
5 5
기판 위에 반도체층을 형성하는 단계와, 상기 반도체층 위에 게이트절연막을 형성하는 단계와, 상기 게이트절연막 위에 게이트전극을 형성하는 단계와, 상기 게이트전극의 경계부분으로부터 상기 반도체층의 특정부분까지의 영역 위에, 바깥쪽으로 갈수록 두께가 점진적으로 얇아지는 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 상기 기판 위에 형성하는 단계와, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막과 상기 게이트전극을 사이에 두고, 고농도 불순물 이온을 상기 반도체층에 주입하여, 상기 반도체층의 상기 게이트전극을 마주하는 영역에 채널영역을 형성하며, 상기 반도체층의 상기 특정부분 바깥영역에 고농도 불순물영역을 형성하고, 상기 반도체층의 채널영역과 상기 특정부분 사이의 영역에, 상기 채널영역에 근접할수록 고농도 불순물이 거의 첨가되지 않으며 바깥방향으로 갈수록 고농도 불순물의 첨가농도가 점진적으로 증가하는 연속적 농도변화 불순물영역을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막이 스핀코팅 방법으로 폴리실라잔을 도포하여 형성된 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
7 7
제5항에 있어서, 상기 게이트절연막이 상기 게이트전극과 같은 평면형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
8 8
제5항에 있어서, 상기 고농도 불순물이온의 주입 후에, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 회분화하여, 상기 연속적 농도변화 불순물영역에만 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막이 남도록 하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
9 9
제5항에 있어서, 상기 고농도 불순물이온의 주입 전에, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 회분화하여, 상기 연속적 농도변화 불순물영역에만 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막이 남도록 하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
10 10
제5항에 있어서, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 제거하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
11 10
제5항에 있어서, 상기 연속적 농도변화 불순물영역 형성용 절연막을 제거하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 제조방법
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1 US6395571 US 미국 DOCDBFAMILY
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