맞춤기술찾기

이전대상기술

CsI(TL) 섬광체를 이용한 박막두께 측정방법, 일체형 박막 두께 측정기 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014006300
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 방사선 검출 센서로 CsI(Tl) 섬광체를 사용한 박막 두께 측정 방법, 일체형 박막 두께 측정기 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 방사선 선원부와, 상기 방사선 선원부에서 나와 박막 시료에서 후방산란한 감마선을 검출하는 CsI(Tl) 섬광체를 구비한 검출부; 상기 섬광체 내의 빛을 전자 증폭하여 전기적 신호로 변환하는 광전자증배관(PMT)과, 변환된 전기적 신호를 증폭하고 선별하여 상기 산란 감마선의 수를 출력하는 전자회로를 구비한 몸통부; 외부로부터 전원이 공급되고, 상기 전자회로의 출력을 받아 외부로 출력하는 컨넥터를 구비한 연결부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기, 그 제조 방법 및 박막 두께 측정 방법을 제공하며, 검출 효율이 좋을뿐만 아니라 흡습성이 작고 외부의 충격에 강하며 내부에 고전압공급장치, 앰프 및 선별기 등이 내장되어 출력 신호가 디지털이므로 외부의 환경에 매우 안정적이라는 장점이 있다. 두께 측정기, 일체형, 감마선, 후방산란, CsI(Tl) 섬광체
Int. CL G01N 21/47 (2006.01)
CPC G01B 11/0625(2013.01) G01B 11/0625(2013.01) G01B 11/0625(2013.01) G01B 11/0625(2013.01) G01B 11/0625(2013.01)
출원번호/일자 1020020081055 (2002.12.18)
출원인 한국원자력연구원
등록번호/일자 10-0497715-0000 (2005.06.17)
공개번호/일자 10-2004-0054222 (2004.06.25) 문서열기
공고번호/일자 (20050628) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.12.18)
심사청구항수 18

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김용균 대한민국 충청남도연기군
2 홍석붕 대한민국 대전광역시유성구
3 이우교 대한민국 부산광역시금정구
4 정종은 대한민국 대전광역시유성구
5 김정복 대한민국 대전광역시유성구
6 문병수 대한민국 대전광역시유성구
7 한상효 대한민국 대전광역시유성구
8 박세환 대한민국 대전광역시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구소 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2002-0419634-03
2 공지예외적용주장대상(신규성,출원시의특례)증명서류제출서
Submission of Document Verifying Exclusion from Being Publically Known (Novelty, Special Provisions for Application)
2002.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2002-5299146-80
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.07.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.08.13 수리 (Accepted) 9-1-2004-0047510-03
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0413829-85
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.11.22 수리 (Accepted) 1-1-2004-0543638-85
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2004-0616374-16
8 의견서
Written Opinion
2005.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0054693-84
9 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2005.01.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0054692-38
10 등록결정서
Decision to grant
2005.06.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0278456-14
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2007-5073714-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2007-5085193-38
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117973-29
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117707-02
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
박막 시료의 두께를 측정하는 일체형 박막 두께 측정기에 있어서, 방사선 선원부와, 상기 방사선 선원부에서 나와 박막 시료에서 후방산란한 감마선을 검출하는 CsI(Tl) 섬광체를 구비한 검출부; 상기 섬광체 내의 빛을 전자 증폭하여 전기적 신호로 변환하는 광전자증배관(PMT)과, 변환된 전기적 신호를 증폭하고 선별하여 상기 산란 감마선의 수를 출력하는 전자회로를 구비한 몸통부; 외부로부터 전원이 공급되고, 상기 전자회로의 출력을 받아 외부로 출력하는 컨넥터를 구비한 연결부;를 포함하고, 여기서, 상기 전자회로는 전기적 신호를 증폭하는 프리앰프 및 앰프; 및 증폭된 전기적 신호를 받아 디지털 신호를 출력하는 선별기;를 구비하고, 상기 몸통부는 상기 PMT에 고전압을 공급하는 고전압공급장치;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 검출부, 프리앰프 및 앰프, 선별기, 고전압공급장치, 연결부는 길이방향으로 연장하는 중공형 몸통부 내에 일렬로 배치되고, 상기 방사선 선원부는 상기 CsI(Tl) 섬광체의 일단에 형성된 홈에 장착되는 것을 특징으로 하는 일체형 박막 두께 측정기
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 방사선 선원부는 상기 두께 측정기를 사용할 경우에만 열리는 텅스텐 차폐체;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
4 4
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 검출부는 상기 CsI(Tl) 섬광체를 밀봉하는 알루미늄 케이스;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
5 5
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 박막 두께 측정기는 상기 몸통부의 외곽을 감싸는 스텐레스 케이스;를 더 포함하고, 상기 몸통부는 상기 스텐레스 케이스와 상기 전자회로 사이에 배치된 아크릴 보호대; 및 상기 아크릴 보호대와 직선상으로 배치되어 상기 전자회로를 고정하는 테프론 고정대;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
6 6
제 4 항에 있어서, 상기 CsI(Tl) 섬광체는 원통형 섬광체를 凹자 형태로 성형한 것이고, 상기 성형된 섬광체는 실리콘 오일과 유리를 사용하여 상기 알루미늄 케이스 내부에 완전히 밀봉된 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
7 7
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 프리앰프 및 앰프의 증폭도는 가변저항의 조정에 의해 조절되는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
8 8
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 전자회로는 레벨계;를 더 포함하고, 상기 선별기의 레벨은 상기 레벨계의 가변저항의 조정에 의해 조절되는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
9 9
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 연결부의 입력신호는 ±12V 및 +5V의 전원이고 출력신호는 +5V의 디지털 신호인 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 일체형 박막 두께 측정기
10 10
CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정 방법에 있어서, 감마선을 박막 시료에 입사시키는 제 1 과정; 상기 박막 시료에서 후방산란하여 CsI(Tl) 섬광체로 돌아온 상기 감마선이 소멸되면서 상기 섬광체에서 섬광이 발생되면, 상기 섬광을 전기적 신호로 바꾸는 제 2 과정; 상기 전기적 신호를 증폭시키는 제 3 과정; 상기 증폭된 전기적 신호를 디지털 신호로 전환하는 제 4 과정; 상기 디지털 신호를 카운트하여 상기 박막 시료의 두께를 결정하는 제 5 과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 두께 측정 방법
11 11
일체형 박막 두께 측정기의 제조 방법에 있어서, CsI(Tl) 섬광체의 일단에 홈을 파고, 상기 섬광체를 밀봉한 후 상기 홈에 방사선 선원을 장착하여 검출부를 형성하는 제 1 과정; 상기 CsI(Tl) 섬광체의 타단에 광전자증배관(PMT)을 장착하고, 전자회로 기판을 상기 PMT에 PMT 콘넥터로 연결하고, 상기 기판에 고전압공급장치를 연결하여 몸통부를 형성하는 제 2 과정; 상기 고전압공급장치에 박막 두께 측정기 외부와의 컨넥터를 장착하여 연결부를 형성하는 제 3 과정; 상기 몸통부를 스텐레스 케이스로 감싸는 제 4 과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 CsI(Tl) 섬광체는 알루미늄 케이스 내부에 장착되어 밀봉되는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
13 13
제 11 항에 있어서, 상기 PMT는 뮤 메탈 케이스 내부에 장착되는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
14 14
제 11 항에 있어서, 상기 전자회로 기판은 아크릴 보호대로 절연시키고 알루미늄 호일로 감싸지며, 상기 아크릴 보호대와 직선상으로 테프론 고정대를 배치하여 상기 전자회로 기판을 고정시키는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
15 15
제 11 항에 있어서, 상기 고전압공급장치는 아크릴 보호대로 절연시키고 테프론 고정대를 이용하여 상기 스텐레스 케이스에 고정시키는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
16 16
제 11 항에 있어서, 상기 고전압공급장치와 상기 연결부 사이에 용수철을 장착하여 상기 PMT와 상기 섬광체를 완전히 밀착시키도록 한 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
17 17
제 11 항에 있어서, 상기 검출부와 상기 몸통부는 나사를 이용하여 연결하고, 연결 부위의 빛 차단을 위하여 오일링을 사용하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
18 18
제 11 항에 있어서, 상기 몸통부와 상기 연결부는 나사를 이용하여 연결하고, 연결 부위의 빛 차단을 위하여 오일링을 사용하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
19 18
제 11 항에 있어서, 상기 몸통부와 상기 연결부는 나사를 이용하여 연결하고, 연결 부위의 빛 차단을 위하여 오일링을 사용하는 것을 특징으로 하는 CsI(Tl) 섬광체를 이용한 박막 두께 측정기의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.