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광신호를 증폭하는 광증폭기에 있어서, 상기 광증폭기를 형성하는 기본 토대가 되는 반도체기판(substrate); 상기 반도체 기판 상부에 형성되어 상기 광신호의 증폭에 필요한 전도성 입자들이 통과하는 제1도전형 클래드층; 상기 제1도전형 클래드층의 상부에 접하여 형성되며, 입사된 상기 광신호를 증폭시키는 반도체양자점들이 층을 이루어 내포되며, 불연속적인 에너지 레벨을 형성하고 있는 양자점 활성층; 및, 상기 양자점 활성층의 상부에 접하여 형성되고 상기 제1도전형 클래드층과 대응을 이루도록 동작하여 증폭에 필요한 전도성 입자들이 통과하는 제2도전형 클래드층을 포함하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 1항에 있어서, 상기 양자점 활성층은 복수의 양자점층들을 내포하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 3항에 있어서, 상기 복수의 양자점층들은 상기 각 층에서의 에너지 레벨이 같도록 형성하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 3항에 있어서, 상기 복수의 양자점층들은 상기 각 층에서의 에너지 레벨이 다르도록 형성하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 5항에 있어서, 상기 복수의 양자점층들은 상기 미소한 양자점층들을 이루는 양자점들의 크기를 변화시킴으로써 에너지 레벨이 다르게 하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 5항에 있어서, 상기 복수의 양자점층들은 상기 미소한 양자점층들의 상하부에 서로 다른 에너지갭의 배리어를 형성시킴으로써 에너지 레벨이 다르게 하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 1항에 있어서, 상기 반도체기판을 GaAs 반도체 기판으로 형성하고, 상기 양자점 활성층은 AlGaAs에 의한 Al(x)Ga(1-x)As 에피과정, InGaAs에 의한 In(y)Ga(1-y)As양자점층, 그리고 AlGaAs에 의한 Al(z)Ga(1-z)As 에피과정을 연속적으로 반복하여 형성하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 1항에 있어서, 상기 반도체기판을 GaAs 반도체 기판으로 형성하고, 상기 양자점 활성층은 InGaAs에 의한 In(x)Ga(1-x)As 에피과정, InGaAs에 의한 In(y)Ga(1-y)As 양자점층, 그리고 InGaAs에 의한 In(z)Ga(1-z)As 에피과정을 연속적으로 반복하여 형성하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 9항에 있어서, 상기 In(y)Ga(1-y)As 양자점층은 그 에너지 레벨이 상기 에피과정에 의한 에피층의 에너지갭보다 작은 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 1항에 있어서, 상기 반도체기판을 InP 반도체 기판으로 형성하고, 상기 양자점 활성층은 InGaAsP에 의한 에피과정, InGaAs에 의한 In(y)Ga(1-y)As양자점층(34d1, 34d2, 34d3,
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제 11항에 있어서, 상기 InGaAsP의 에피과정에 의한 에피층의 격자상수가 상기 InP 반도체기판의 격자상수와 ±0
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제 11항에 있어서, 상기 In(y)Ga(1-y)As 양자점층은 그 에너지 레벨이 상기 에피과정에 의한 에피층의 에너지갭보다 작은 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 1항에 있어서, 상기 반도체기판을 InP 반도체 기판으로 형성하고, 상기 양자점 활성층은 InAlGaAs에 의한 에피과정, InGaAs에 의한 In(y)Ga(1-y)As양자점층, 그리고 InAlGaAs에 의한 에피과정을 연속적으로 반복하여 형성하는 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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제 14항에 있어서, 상기 InAlGaAs의 에피과정에 의한 에피층의 격자상수가 상기 InP 반도체기판의 격자상수와 ±0
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제 14항에 있어서, 상기 In(y)Ga(1-y)As 양자점층은 그 에너지 레벨이 상기 에피과정에 의한 에피층의 에너지갭보다 작은 것을 특징으로 하는, 반도체 양자점 광증폭기
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