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기질 위에 수산화 기의 단층을 형성하는 방법 (METHOD OF FORMING A HYDROXYL MONOLAYER ON THE SURFACE OF A SUBSTRATE)

  • 기술번호 : KST2014006737
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기질 위에 수산화 기 단층을 형성하는 방법에 관한 것으로서, 반도체 또는 금속 표면에 할로겐 원소를 흡착시킨 후 물을 이용하여 수산화 기 단층을 형성하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 반도체 또는 금속 표면에 수산화 기 단층을 형성할 수 있고, 박막 침착 공정에서 별도로 반도체 또는 금속 표면에 산화막을 형성할 필요가 없으며 특히 원자층 침착법 (atomic layer deposition, ALD) 공정 초기의 부화 기간 (incubation period)을 줄일 수 있는 장점이 있다. 본 발명에 따른 수산화 기 단층을 형성한 반도체 및 금속의 표면은 표면 과학의 새로운 연구 대상이 될 수 있고 또한 이들을 기질로 하여 분자 단층 (molecular monolayer)을 입힐 수 있다.
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC C23C 16/45525(2013.01) C23C 16/45525(2013.01)
출원번호/일자 1020030046357 (2003.07.09)
출원인 한국화학연구원
등록번호/일자 10-0551323-0000 (2006.02.03)
공개번호/일자 10-2005-0006516 (2005.01.17) 문서열기
공고번호/일자 (20060213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.07.09)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국화학연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김윤수 대한민국 대전광역시유성구
2 이선숙 대한민국 대전광역시중구
3 안기석 대한민국 대전광역시유성구
4 백재윤 대한민국 경기도수원시장안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 위정호 대한민국 경기도 성남시 중원구 양현로 ***, ***호 (여수동, 시티오피스타워)(J특허법률사무소)
2 장성구 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국화학연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2003-0249683-76
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.02.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.03.16 수리 (Accepted) 9-1-2005-0015728-99
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0192736-09
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.06.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0324544-01
6 의견서
Written Opinion
2005.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0324546-92
7 등록결정서
Decision to grant
2005.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0512500-59
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.16 수리 (Accepted) 4-1-2008-5059312-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2008-5074743-27
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2008-5208083-56
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.14 수리 (Accepted) 4-1-2017-5149265-52
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.14 수리 (Accepted) 4-1-2017-5149242-13
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번호 청구항
1 1
(a) (초)고진공 분위기에서 기질 표면에 기상의 할로겐 원소를 흡착시키는 단계 및 (b) 할로겐 원소가 흡착한 기질의 표면에 고진공에서 물을 공급하여, 물 분자와 할로겐 원소의 반응에 의해 할로겐 원소를 수산화 기로 치환함으로써 수산화 기 단층을 형성하는 단계를 포함하는, 기질 표면에 수산화 기 단층을 형성하는 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 기질은 표면이 원자적으로 깨끗한 반도체인 것을 특징으로 하는 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 기질은 수소 단층이 흡착한 반도체 또는 금속인 것을 특징으로 하는 방법
4 4
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 반도체는 (001)면 실리콘, (111)면 실리콘, (001)면 게르마늄 또는 (111)면 게르마늄인 것을 특징으로 하는 방법
5 5
제 3 항에 있어서, 상기 금속은 염소를 흡착할 수 있는 금속인 것을 특징으로 하는 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 염소를 흡착할 수 있는 금속은 루테늄, 로듐 또는 백금인 것을 특징으로 하는 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 할로겐 원소가 염소인 것을 특징으로 하는 방법
8 8
제 1 항에 있어서,(a) 단계의 흡착반응이 할로겐 원소의 노출량을 20 L(langmuir) 이하로 유지하면서 기질온도 20 내지 250℃에서 수행됨을 특징으로 하는 방법
9 9
제 1 항에 있어서,(b) 단계의 물분자와 할로겐 원소의 반응이 20 내지 250 ℃의 기질온도 및 10 Torr 이하의 압력 조건에서 물을 공급하면서 수행됨을 특징으로 하는 방법
10 10
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항의 방법에 의해 수산화 기 단층을 형성한 반도체 또는 금속
11 10
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항의 방법에 의해 수산화 기 단층을 형성한 반도체 또는 금속
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.