요약 | 본 발명의 데오드라이트 시스템의 고정밀 측정방법은, 데오드라이트 시스템(theodolite system)을 이용한 비접촉 3차원 측정에서 최대의 측정 정도를 얻을 수 있는 고정밀 측정방법에 관한 것이다.본 발명은, 20±2℃의 온도범위와 300±15Lux의 조도범위로 측정공간의 환경을 준비하고, 기준자 높이 1±0.2m, 2대의 데오드라이트 시준거리 3 ∼ 4m, 그리고 데오드라이트 시스템과 기준자사이의 거리 3 ∼ 4m가 되도록 2대의 데오드라이트를 위치시킨 상태로 측정하고자 하는 타겟의 각 지점에 대한 수평각과 수직각을 측정하여 계산하는 방법이다. 따라서 본 발명은 근거리 측정 대상물에 대해 데오드라이트 시스템을 사용하는 측정의 경우 정밀 공작기기, 고속철도, 항공기, 인공위성 및 핵발전소 등 고도의 정확성과 정밀성이 요구되는 정밀 산업물의 조립 및 검사 시 요구되는 정밀측정도를 제공하는 효과가 있다. 데오드라이트(theodolite), 측정, 오차, 거리, 온도, 조도 |
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Int. CL | G01C 1/02 (2006.01) |
CPC | G01C 1/06(2013.01) G01C 1/06(2013.01) G01C 1/06(2013.01) G01C 1/06(2013.01) G01C 1/06(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020050129463 (2005.12.26) |
출원인 | 한국항공우주연구원 |
등록번호/일자 | 10-0654371-0000 (2006.11.29) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20061205) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2005.12.26) |
심사청구항수 | 2 |