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마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막 의 건식식각 방법

  • 기술번호 : KST2014008822
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전도성폴리머를 포토리쏘그래픽(photolitho graphic) 공정과 건식에칭 공정 적용에 의하여 정교하게 패터닝하기 위한 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법을 개시한다.본 발명은 고가의 장비 없이 정교한 패턴을 얻을 수 있으며, 하판과의 정렬이 용이하도록 하기 위한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 전도성 폴리머 막의 패턴형성을 위한 공정에 있어서, 기상중합 방법으로 형성된 폴리에틸렌디옥시티오펜 막의 패터닝을 일반적인 반도체 공정으로 실시하며, 마이크로 웨이브 소스를 이용하여, 플로렌 계열의 가스를 사용 하지 않고, 감광성 수지 패턴과의 선택비가 나오는 건식식각 공정을 실시하는 것을 특징으로 한다. 이를 구현하기 위하여 본 발명은 기판 상에 전도성 폴리머 막을 형성하는 단계와; 상기 표면에 감광성 수지를 형성 및 패터닝 하는 방법과; 상기 감광성 수지 패턴이 없이 노출된 전도성 폴리머 막을 제거하기 위해 건식에칭 하는 단계와; 상기 감광성 수지 패턴을 제거하는 단계에 의하여 형성된 전도성 폴리머 막으로 전극을 형성하고, 정공 주입층, 또는 정공 전송층으로 사용할 수 있도록 하여서 된 것이다. 이에 따라 본 발명은 고가의 건식 식각장비가 불필요하며, 패턴 형성이 정교하게 되고, 하판과의 정렬이 손쉽게 되는 효과가 있는 것이다.
Int. CL G03F 7/00 (2006.01)
CPC G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01)
출원번호/일자 1020070056466 (2007.06.11)
출원인 단국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0865485-0000 (2008.10.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20081027) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.06.11)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 단국대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 수지구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박영환 대한민국 서울특별시 서초구
2 강정원 대한민국 서울특별시 용산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이재인 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로 ***, *** (구로동, 대륭포스트타워*)(에이스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 단국대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 수지구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.06.11 수리 (Accepted) 1-1-2007-0419627-66
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.12.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.12.14 수리 (Accepted) 9-1-2007-0076782-87
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5020510-08
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0270843-08
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0396124-10
7 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2008.08.05 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2008-0034631-05
8 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2008.08.05 무효 (Invalidation) 7-1-2008-0034630-59
9 등록결정서
Decision to grant
2008.10.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0509934-93
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.07 수리 (Accepted) 4-1-2012-5047629-25
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.06 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000870-18
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.10.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5239146-54
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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유리 기판, 플라스틱 기판, 웨이퍼 중 어느 하나로 된 기판에 있어서, 그 표면에 기상중합으로 폴리에틸렌디옥시티오펜 막을 형성하고, 이러한 폴리에틸렌디옥시티오펜 막 위에 감광성 수지를 스핀코팅하고, 이를 소프트 베이킹 하며, 폴리에틸렌디옥시티오펜 막 위의 감광성 수지층 위에 유리 마스크를 얼라인하여 적용한 후, 감광성 수지 막을 자외선 램프에 노출시키며, 상기 기판을 현상액에 담그고 상기 감광성 수지 막이 현상이 된 후 H2O로 수세하고, 이와 같이 하여 얻은 기판을 포스트 베이킹 하며, 상기 기판이 식으면 마이크로 웨이브 소스를 제공하는 장비의 챔버에 넣고 상기 챔버의 압력이 4Pa 내지 6Pa 가 될 때 까지 내부 공기를 뽑고 상기 챔버에 Ar과 O2를 각각 50sccm 내지 120sccm의 양으로 주입한 다음 상기 챔버의 압력이 40Pa 내지 60Pa 가 로 유지 되게 한 상태에서 챔버에 300∼500와트의 마이크로 웨이브 소스를 통하여 플라즈마를 생성시켜 노출된 폴리에틸렌디옥시티오펜 막을 제거하고 챔버에 질소를 넣어 상압으로 만들고 상기 감광성 수지 막을 아세톤과 메탄올로 씻어 냄으로써, 기판위에 패터닝이 된 폴리에틸렌디옥시티오펜 막이 형성되도록 함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1에 있어서, 전술한 기판은 공정 개시 전 산소 플라즈마로 표면처리하여, 소수성( 疏水性 )을 띄게 함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1항에 있어서, 상기 산화제를 코팅한 후, 알코올을 용매로 하는 에틸렌디옥시티오펜(EPOT)혼합 용액을 기화시켜 기화된 에틸렌디옥시티오펜이 기판 표면의 중합 개시제인 페릭이온(Fe+++)에 의해 중합되어 전술한 기판위에 기상 중합으로 폴리에틸렌디옥시티오펜 막이 형성되도록 함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1에 있어서, 전술한 감광성 수지의 스핀 코팅은 2500rpm 내지 3500rpm에서 15초 내지 25초 동안 실시 함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1에 있어서, 전술한 스핀 코팅 완료 후 실시하는 소프트 베이킹은 85℃ 내지 95℃에서 1분 내지 3분 동안 실시함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1에 있어서, 전술한 자외선램프의 파장은 365nm 내지 400nm, 출력은 90mJ/m2 내지 110 mJ/m2범위에 있도록 함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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청구항 1에 있어서, 전술한 포스트 베이킹은 110 ℃내지 130℃에서 4분 내지 6분동안 실시함을 특징으로 하는 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막의 건식 식각 방법
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