| 1 |
1
슈퍼커패시터에 대한 기 설정된 복수의 주파수에서의 임피던스 값을 포함하는 임피던스 정보를 입력받는 단계; 및
상기 임피던스 정보 및 상기 슈퍼커패시터의 등가 회로를 이용하여, 상기 등가 회로의 등가 직렬 저항값 또는 전극 임피던스 값을 포함하는 파라미터를 생성하는 단계를 포함하며,
상기 기 설정된 복수의 주파수는
상기 슈퍼커패시터의 특성 주파수로부터 기 설정된 범위 내에 존재하고, 상기 특성 주파수보다 높은 2개 이상의 제1샘플 주파수와, 상기 특성 주파수보다 낮은 2개 이상의 제2샘플주파수를 포함하며,
상기 파라미터를 생성하는 단계는
상기 제1샘플 주파수에 대한 임피던스 값을 이용하여 기 설정된 주파수 범위의 근사화된 제 1 임피던스 값을 생성하고, 제2샘플 주파수에 대한 임피던스 값을 이용하여 기 설정된 주파수 범위의 근사화된 제2임피던스 값을 생성하는 단계; 및
상기 제1임피던스 값을 이용하여 상기 등가 직렬 저항 값을 생성하고, 상기 제2임피던스 값을 이용하여 상기 전극 임피던스 값에 포함된 전극 저항 값을 생성하는 단계
를 포함하는 슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 2 |
2
제 1항에 있어서,
상기 파라미터를 생성하는 단계는
상기 임피던스 정보를 상기 등가 회로에 커브 피팅하여 상기 파라미터를 생성하는
슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 3 |
3
제 2항에 있어서,
상기 임피던스 정보는
전기 화학적 분광법에 의해 생성된 정보인
슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 4 |
4
삭제
|
| 5 |
5
삭제
|
| 6 |
6
제 1항에 있어서,
상기 파라미터를 생성하는 단계는
상기 등가 직렬 저항 값, 상기 전극 저항 값 및 상기 근사화된 제2임피던스 값을 이용하여 상기 슈퍼커패시터의 정전용량을 생성하는
슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 7 |
7
제 1항에 있어서,
상기 제1 및 제2샘플 주파수에 대한 임피던스 값 각각은
중첩된 상기 제1 및 제2샘플 주파수에 대한 임피던스 값을 필터링하여 생성되는 임피던스 값인
슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 8 |
8
제 1항에 있어서,
상기 임피던스 정보를 입력받는 단계는
직렬로 연결된 복수의 슈퍼커패시터 각각에 대한 임피던스 정보를 입력받으며,
상기 파라미터를 생성하는 단계는
상기 복수의 슈퍼커패시터 각각에 대한 등가회로의 파라미터를 생성하는
슈퍼커패시터 성능 평가 방법
|
| 9 |
9
삭제
|
| 10 |
10
삭제
|
