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비트 신호를 미리 설정된 표본화 주파수로 표본화하여 얻어지는 비트 신호 샘플들을 이용하여, 대상 물체와의 거리를 검출하는 방법에 있어서,
(a) 상기 비트 신호 샘플들 중 연속된 N개의 샘플들을 선택하고, 상기 선택된 샘플들로부터 얻어지는 주파수 스펙트럼을 분석하여 대상 물체와의 거리를 검출하는 단계; 및
(b) 상기 검출된 거리가 제1 임계치보다 작으면, 상기 비트 신호 샘플들을 부표본화하여 M(M003c#N)개의 부표본화된 샘플들을 획득하고, 상기 부표본화된 샘플들로부터 얻어지는 주파수 스펙트럼을 분석하여 대상 물체와의 거리를 검출하는 단계를 포함하되, 상기 대상 물체와의 거리는,
(여기서, R은 물체와의 거리, c는 광속, fr은 물체와의 거리에 의해 발생되는 비트 주파수, fm은 변조주파수, B는 대역폭을 나타냄)에 따라 검출되는 것을 특징으로 하는 거리 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 (b) 단계는,
상기 M개의 부표본화된 샘플들에 대해 영 채우기(zero padding)를 적용한 후, 고속 푸리에 변환을 수행하는 단계; 및
상기 고속 푸리에 변환의 결과를 기초로, 상기 대상 물체와의 거리를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 거리 검출 방법
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제1항에 있어서,
(c) 상기 (b) 단계에서 검출된 거리가 제2 임계치(제2 임계치 003c# 상기 제1 임계치)보다 작으면, 상기 M개의 부표본화된 샘플들에 대해 고속 푸리에 변환을 수행하고, 고속 푸리에 변환 결과 중 저주파 대역의 L(L003c#M)개의 샘플에 대해 고해상도 주파수 분석 알고리즘을 적용하여 상기 대상 물체와의 거리를 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 거리 검출 방법
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제3항에 있어서, 상기 고해상도 주파수 분석 알고리즘은
MUSIC(Multiple SIgnal Classification) 알고리즘, 및 ESPRIT(Estimation of Signal Parameter via Rotational Invariance Technique) 알고리즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 거리 검출 방법
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비트 신호를 미리 설정된 표본화 주파수로 표본화하여 비트 신호 샘플들을 생성하는 ADC;
상기 비트 신호 샘플들 중 연속된 소정 수의 샘플들을 선택하는 샘플 슬라이서; 및
상기 샘플 슬라이서의 출력 샘플들을 부표본화하는 부표본화기; 및
원거리 검출 모드에서 상기 샘플 슬라이서의 출력 샘플들을 이용하여 대상 물체와의 거리를 검출하고, 중거리 검출 모드에서 상기 부표본화기의 출력 샘플들을 이용하여 상기 대상 물체와의 거리를 검출하되, 상기 대상 물체와의 거리는,
(여기서, R은 물체와의 거리, c는 광속, fr은 물체와의 거리에 의해 발생되는 비트 주파수, fm은 변조주파수, B는 대역폭을 나타냄)에 따라 검출되는 거리 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 장치
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제5항에 있어서, 상기 거리 검출부는,
중거리 검출 모드에서 상기 부표본화기의 출력 샘플들에 영 채우기를 적용한 후, 고속 푸리에 변환을 수행하여 상기 대상 물체와의 거리를 검출하는 것을 특징으로 하는 레이더 장치
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제5항에 있어서, 상기 거리 검출부는,
근거리 검출 모드에서 상기 부표본화기의 출력 샘플들에 고해상도 주파수 분석 알고리즘을 적용하여, 상기 대상 물체와의 거리를 검출하는 것을 특징으로 하는 레이더 장치
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