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송신기준 임펄스를 이용한 유전율 측정 프로브 와 측정장치및 그 측정방법

  • 기술번호 : KST2014012440
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 유전율 측정 프로브 와 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것으로, 유전체 기판, 상기 유전체 기판 일면에 임펄스가 통과되는 마이크로스트립 라인으로 형성된 기준선로, 상기 기준선로에서 분리되어 상기 임펄스의 지연시간 측정을 위한 마이크로스트립 라인으로 형성된 지연선로; 및 상기 기준선로가 패턴화된 면과 상기 유전체 기판 반대면에 형성된 그라운드층(GND)을 포함하는 평판형 도파관으로 형성된 측정 프로브와 상기 측정 프로브를 이용하여 임펄스 발생기와 검출기로 구성되어 유전율을 측정하는 유전율 측정장치 및 그 측정방법이다. 본 발명에 따른 유전율 측정 프로브 와 측정장치 및 유전율 측정방법을 제공하면, 측정 매질에 투입되는 평판형 도파관 형태의 측정 프로브를 투과하는 펄스의 지연시간을 측정함으로써, 신호의 동기화 과정 없이 실시간으로 측정매질의 유전율을 측정할 수 있게 되고, 낮은 가격으로 프로브 제작이 가능하게 되며, 시스템 보정이 필요없어 측정이 간편하게 된다. 유전율, CMOS, TDR, 도파관, 프로브, 마이크로스트립, 임펄스 발생기
Int. CL G01R 1/067 (2000.01) G01R 27/26 (2000.01)
CPC G01R 27/2617(2013.01) G01R 27/2617(2013.01)
출원번호/일자 1020050104732 (2005.11.03)
출원인 한국전기연구원, (주)무한콘트롤
등록번호/일자 10-0732935-0000 (2007.06.21)
공개번호/일자 10-2007-0047885 (2007.05.08) 문서열기
공고번호/일자 (20070627) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.11.03)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
2 (주)무한콘트롤 대한민국 경기도 성남시 중원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김관호 대한민국 서울 서초구
2 박영진 대한민국 경기도 안양시 동안구
3 오휘명 대한민국 서울특별시 강동구
4 박영준 대한민국 서울 용산구
5 권명수 대한민국 경기 성남시 중원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
2 (주)무한콘트롤 대한민국 경기도 성남시 중원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.11.03 수리 (Accepted) 1-1-2005-0632538-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.08.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.09.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0060937-14
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0637010-76
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0000141-74
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2007-0090082-11
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.02.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0165880-65
8 의견서
Written Opinion
2007.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2007-0165866-25
9 등록결정서
Decision to grant
2007.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0308523-93
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.17 수리 (Accepted) 4-1-2009-5220117-37
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.11.08 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207456-63
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
유전체 기판; 상기 유전체 기판 일면에 임펄스가 입출력되도록 직선의 마이크로스트립 라인으로 형성된 기준선로;상기 기준선로의 입출력단 사이에서 일부 분리되어, 상기 기준선로의 입력단에서 입력된 임펄스가 우회하여 상기 기준선로의 출력단으로 출력되도록 마이크로 스트립 라인으로 형성된 지연선로; 및상기 기준선로가 형성된 면과 상기 유전체 기판 반대면에 형성된 그라운드층(GND)를 포함하는 평판형 도파관으로 형성된 측정 프로브
2 2
극초단 임펄스를 발생하는 임펄스 발생기;유전체로 형성된 기판, 상기 기판 일면에 직선의 마이크로 스트립 라인으로 형성되어 상기 발생된 임펄스가 입출력되는 기준선로, 상기 기준선로의 일부에서 분리되는 마이크로 스트립 라인으로 형성되어 상기 기준선로에 입력된 임펄스가 우회하여 출력되는 지연선로, 상기 기준선로가 형성된 면과 상기 기판 반대면에 형성된 그라운드층을 포함하는 평판형 도파관으로 형성되어 측정하고자 하는 매질에 투입되는 측정 프로브; 및상기 기준선로 및 지연선로를 통과한 신호의 펄스 지연시간을 측정하고, 상기 펄스지연시간을 이용하여 상기 측정 프로브 주위 매질의 유전율을 계산 및 표시하는 검출부를 포함하는 유전율 측정장치
3 3
제 2항에 있어서, 상기 지연선로는 양 끝단이 상기 기준선로에 연결되는 U자 형태의 도파관으로 형성되어 상기 기준선로에 입력된 임펄스가 우회하여 출력되도록 하는 것을 특징으로 하는 유전율 측정장치
4 4
제 2항에 있어서, 상기 임펄스 발생기는 초기신호의 발생을 위한 클럭(clock)과; 상기 클럭된 신호파형을 유지시키기 위한 버퍼; 기저 대역으로부터의 디지털 데이터 정보의 임펄스 신호처리를 위한 D래치; 상기 발생된 신호를 최종 처리하는 AND Gate; 및 상기 AND Gate를 통과한 신호의 안정된 출력을 위한 출력드라이브를 포함하여 CMOS 공정으로 제조되는 것을 특징으로 하는 유전율 측정장치
5 5
제 4항에 있어서, 상기 출력 드라이브는 인버터체인(Inverter chain)으로 구현되는 것을 특징으로 하는 유전율 측정장치
6 6
제 2항에 있어서, 상기 검출부는 고속 상관기를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전율 측정장치
7 7
제 2항에 있어서, 상기 검출부는 수분 함수량 표시부가 포함된 것을 특징으로 하는 유전율 측정장치
8 8
극초단 임펄스를 발생하는 단계; 측정매질에 투입되는 측정프로브로서, 유전체로 형성된 기판, 상기 기판 일면에 상기 발생된 임펄스가 입출력되도록 직선의 마이크로스트립 라인으로 형성된 기준선로, 상기 기준선로의 일부에서 분리되어 입력된 임펄스가 우회하도록 마이크로스트립 라인으로 형성된 지연선로 및 상기 기준선로가 패턴화된 면과 상기 기판 반대면에 형성된 그라운드층을 포함하며, 상기 기준선로 및 지연선로를 통과한 임펄스가 출력되는 단계;상기 기준선로를 통과한 펄스를 기준으로 상기 지연선로를 통과한 펄스의 지연시간을 측정하는 단계; 및상기 측정된 펄스지연시간을 이용하여 유전율을 계산 및 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전율 측정방법
9 9
제 8항에 있어서, 상기 기준선로 및 지연선로에서 출력되는 펄스는 단일 펄스에서 발생되는 것을 특징으로 하는 유전율 측정방법
10 10
제 8항에 있어서, 상기 유전율을 계산 및 표시하는 단계는 수분 함수량을 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전율 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.