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전자기재료의 전자기 특성 측정용 지그

  • 기술번호 : KST2014012689
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전자기재료의 전자기 특성 측정용 지그가 게시된다. 본 발명에 따른 전자기재료의 전자기 특성 측정용 지그는 박막 시편을 지지하기 위한 시편 지지대; 시편 지지대와 결합되어 시편 지지대를 지지하여주며, 회전 가능하게 설치되는 지지기둥; 지지기둥의 회전각도를 조정하기 위한 회전각도 조정수단; 시편 지지대에 놓인 박막 시편에 접촉되어 시편을 지지하는 한편, 시편의 전자기적 특성 측정을 위한 전극 단자 역할을 하는 복수의 탐침; 및 상기 탐침을 고정하기 위한 탐침 고정수단을 포함한다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 회전 가능한 시편 지지대와 탐침이 일체형이므로, 박막 시편의 장착 시간이 단축되고, 특히 박막 시편의 전류 방향과 이루는 각도에 따른 자기저항과 평면홀 측정이 편리하다. 또한, 탐침의 회전, 이동 및 가압이 가능하므로, 다양한 형태의 시료에 모두 적용할 수 있는 장점이 있다.전자기 재료, 전기/자기 저항 측정, 지그
Int. CL G01R 1/04 (2006.01)
CPC G01R 1/04(2013.01) G01R 1/04(2013.01) G01R 1/04(2013.01)
출원번호/일자 1020000080616 (2000.12.22)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-0348881-0000 (2002.08.01)
공개번호/일자 10-2002-0051132 (2002.06.28) 문서열기
공고번호/일자 (20020817) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.12.22)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이원재 대한민국 부산광역시금정구
2 송재성 대한민국 경상남도창원시
3 민복기 대한민국 경상남도창원시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 주종호 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2000.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2000-0276910-65
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.01.26 수리 (Accepted) 4-1-2001-0008178-68
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.01.26 수리 (Accepted) 4-1-2001-0008089-03
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2001-0116129-97
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2002.06.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2002.07.11 수리 (Accepted) 9-1-2002-0011167-88
7 등록결정서
Decision to grant		 2002.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0265484-74
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.11.17 수리 (Accepted) 4-1-2009-5220117-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.08 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207456-63
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
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번호 청구항
1 1

박막 시편을 지지하기 위한 시편 지지대;

상기 시편 지지대와 결합되어 시편 지지대를 지지하며, 회전가능하게 설치되는 지지기둥;

상기 지지기둥의 회전각도를 조정하기 위한 회전각도 조정수단;

상기 시편 지지대에 놓인 박막 시편에 접촉되어 시편을 지지하는 한편, 시편의 전자기적 특성 측정을 위한 전극 단자 역할을 하는 복수의 탐침; 및

상기 탐침을 고정하기 위한 탐침 고정수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자기 재료의 전자기 특성 측정용 지그

2 2

제 1항에 있어서,

상기 회전각도 조정수단은 각도기와, 각도기를 지지 및 고정하는 지지부재로 구성된 것을 특징으로 하는 전자기 재료의 전자기 특성 측정용 지그

3 3

제 1항에 있어서,

상기 탐침 고정 수단은 상기 시편 지지대에 관통 삽입되는 복수의 볼트와, 그 일단이 상기 탐침에 연결되고, 그 연결된 상태의 몸체 전체가 몸체의 길이 방향으로 이동이 가능하게 상기 볼트의 단부에 연결되어 탐침의 이동을 가능하게 하는 탐침이동바와, 상기 볼트와 시편 지지대 사이에 스프링을 넣어 볼트를 일정 방향으로 탄성력을 가함으로써 상기 탐침이 시료를 지지할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 전자기 재료의 전자기 특성 측정용 지그

4 4

제 3항에 있어서,

상기 복수의 볼트는 비자성 볼트인 것을 특징으로 하는 전자기 재료의 전자기 특성 측정용 지그

5 5

제 1항에 있어서,

상기 시편 지지대에는 상기 복수의 볼트의 관통 삽입을 위한 복수의 관통공이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자기 재료의 전자기 특성 측정용 지그

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.