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리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정방법

  • 기술번호 : KST2014013334
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법에 관한 것이다. IC 칩의 리드 온 칩(LOC) 반도체 패키지 시스템에 있어서, 폴리이미드로 구성된 베이스 필름(9)에 미세한 크리어 홀(8)들을 만드는 단계(S1); 크리어 홀(8)들을 포함하는 베이스 필름(9)을 적당한 온도에서 접착 물질(10)을 한 쪽 면에만 코팅시켜 접착 물질(10)이 미세한 크리어 홀(8)들에 스며들도록 하는 단계(S2); 베이스 필름(9)이 접착 물질(10)에 의해 코팅된 부분을 리드 프레임(11)에 접착시키는 단계(S3);리드 온 칩 패키징(LOC packaging) 과정에서, 상기 리드 프레임(11)을 IC 칩(7) 표면에 장착한 후, 그 장착된 부분 주위에 적당한 온도와 열을 가하여, 베이스필름(9)의 홀(8)들 내부에 채워진 접착물질을 용융시킴으로써, 상기 접착물질이 상기 IC 칩 표면의 상기 홀(8) 대응 부분에 맞닿아 상기 리드 프레임(11)을 상기 IC 칩(7) 표면에 접착시키는 단계(S4); 및 IC 칩(7)에 가해지는 열응력을 최소화하며, 리드 프레임(11)과 IC 칩(7)과의 열팽창 차이를 완화시키는 단계(S5)로 구성된다.리드 온 칩, 반도체, 패키지, 리드 프레임, 공정
Int. CL H01L 23/495 (2006.01)
CPC H01L 21/4821(2013.01) H01L 21/4821(2013.01)
출원번호/일자 1020000000957 (2000.01.10)
출원인 이성민
등록번호/일자 10-0382243-0000 (2003.04.17)
공개번호/일자 10-2001-0068840 (2001.07.23) 문서열기
공고번호/일자 (20030501) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.01.10)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이성민 대한민국 서울특별시 송파구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성민 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 임재룡 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, ***호 (역삼동, 성지하이츠*)(나래특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주)프리즘 경기도 부천시 원미구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2000.01.10 수리 (Accepted) 1-1-2000-0004170-28
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
2000.01.11 수리 (Accepted) 1-1-2000-5007517-21
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2001.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2001-0360971-14
4 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2002.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2002-0052668-92
5 의견서
Written Opinion
2002.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2002-0082819-37
6 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.03.21 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0082821-29
7 등록결정서
Decision to grant
2002.09.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0330704-38
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.24 수리 (Accepted) 4-1-2011-5014558-85
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

IC 칩의 리드 온 칩(LOC) 반도체 패키지 시스템에 있어서,

폴리이미드(Polyimide)등으로 구성된 베이스 필름(9)에 미세한 크리어 홀(8)들을 만드는 단계(S1);

상기 크리어 홀(8)들을 포함하는 상기 베이스 필름(9)을 적당한 온도에서 접착 물질(10)을 한 쪽 면에만 코팅시켜 상기 접착 물질(10)이 미세한 상기 크리어 홀(8)들에 스며들도록 하는 단계(S2);

상기 베이스 필름(9)이 상기 접착 물질(10)에 의해 코팅된 부분을 리드 프레임(11)에 접착시키는 단계(S3);

리드 온 칩 패키징(LOC packaging) 과정에서, 상기 리드 프레임(11)을 IC 칩(7) 표면에 장착한 후, 그 장착된 부분 주위에 적당한 온도와 열을 가하여, 베이스필름(9)의 홀(8)들 내부에 채워진 접착물질을 용융시킴으로써, 상기 접착물질이 상기 IC 칩 표면의 상기 홀(8) 대응 부분에 맞닿아 상기 리드 프레임(11)을 상기 IC 칩(7) 표면에 접착시키는 단계(S4); 및

IC 칩(7)에 가해지는 열응력(thermal stress)을 최소화하며, 상기 리드 프레임(11)과 상기 IC 칩(7)과의 열팽창 차이를 완화시키는 단계(S5)로 구성되는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

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제 1항에 있어서, 상기 크리어 홀의 크기나 모양(원통형, 각형 등)을 반도체 제품의 특성에 맞게 조절해 주는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

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제 1항에 있어서, 상기 베이스 필름(9)에 크리어 홀 대신 크리어 슬릿(clear slit)을 만들어 주는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

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제 3항에 있어서, 상기 크리어 슬릿(clear slit)의 모양이나 크기를 일률적으로 하거나 제품의 특성에 맞게 설정하는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

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제 1항에 있어서, 상기 베이스 필름(9)의 두께나 코팅될 접착제의 양을 반도체 제품의 특성에 맞게 만들어 주는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

6 6

제 1항에 있어서, 상기 베이스 필름(9)에 코팅될 접착제를 크리어 홀에 완전히 채워 주는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

7 7

제 1항에 있어서, 상기 베이스 필름(9)의 크리어 홀에 채워질 접착제의 양을 리드 프레임의 부위별로 차별화하여 채워 주는 것을 특징으로 하는 리드 온 칩 패키지 신뢰성 향상을 위한 리드 프레임 공정 방법

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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.