맞춤기술찾기

이전대상기술

극저온 반도체 X선 검출기를 장착한 X선 형광 분석 장치

  • 기술번호 : KST2014013430
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기존의 X-선 검출기에 비해 보다 정밀하게 X-선 에너지 분석이 가능하도록 화합물 반도체를 이용한 X-선 검출기를 장착한 X-선 형광 분석 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 X-선 형광 분석 장치는, 분석 대상 시료(이하, '시료')를 구성하고 있는 원자의 에너지 준위를 들뜨게 하는 X-선을 발생시키고, 상기 X-선을 시료에 입사하는 X-선 발생부; 상기 시료를 정착시키며, 상기 X-선 발생부로부터 발생된 X-선이 입사되는 시료 장착부; 에너지 밴드갭이 0.5eV 이하인 화합물 반도체를 이용하여 특성 X-선을 검출하는 특성 X-선 검출부; 및, 상기 특성 X-선을 이용하여 상기 시료의 성분을 분석하고, 그 결과를 표시하는 성분 표시부를 포함하는 것을 특징으로 한다. X-선 형광 분석 장치, 화합물 반도체
Int. CL G01N 23/223 (2006.01) G01N 23/00 (2006.01)
CPC G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01)
출원번호/일자 1020080019029 (2008.02.29)
출원인 한국원자력연구원
등록번호/일자 10-0941370-0000 (2010.02.02)
공개번호/일자 10-2009-0093484 (2009.09.02) 문서열기
공고번호/일자 (20100210) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.02.29)
심사청구항수 3

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박세환 대한민국 대전시 유성구
2 하장호 대한민국 대전시 서구
3 송태영 대한민국 대전시 동구
4 김한수 대한민국 경기도 양주시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0151827-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.06.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.07.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0040909-81
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0490935-38
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.01.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0005131-72
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.01.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0005130-26
7 등록결정서
Decision to grant
2010.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0041083-58
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
분석 대상 시료(이하, '시료')를 구성하고 있는 원자의 에너지 준위를 들뜨게 하는 X-선을 발생시키고, 상기 X-선을 시료에 입사하는 X-선 발생부; 상기 시료를 정착시키며, 상기 X-선 발생부로부터 발생된 X-선이 입사되는 시료 장착부; 에너지 밴드갭이 0
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 냉각장치는 상기 특성 X-선 검출부의 온도를 4K까지 내릴 수 있는 것을 특징으로 하는 X-선 형광 분석 장치
6 6
삭제
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 성분 표시부는, 상기 특성 X-선 검출부에서 발생한 신호가 입력되는 저노이즈 전치 신호증폭기(Pre-Amplifier), 상기 저노이즈 전치 신호증폭기에서 출력된 신호가 입력되는 신호증폭기(Amplifier), 상기 신호증폭기에서 증폭되어 출력된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시키는 다중 채널 분석기(MCA; Multi Channel Analyzer), 각각의 성분에서 발생하는 특성 X-선 에너지에 대한 정보를 저장하고 있는 저장부, 상기 변환된 디지털 신호를 이용하여 상기 특성 X-선 검출부에서 검출된 X-선 에너지를 판별하고 이를 저장부에 저장된 특성 X-선 에너지에 대한 정보와 비교하여 상기 시료의 성분을 결정하는 분석부, 상기 분석부에서 분석된 데이터를 디스플레이하여 분석된 대상 시료의 성분을 표시하는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 X-선 형광 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.