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개방단말 동축선 프로브를 이용한 매질의 전기적 특성 측정장치

  • 기술번호 : KST2014013615
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 매질에서 반사되는 전자파를 탐지하는 탐지기와, 상기 탐지기와 전기적으로 연결되어, 상기 전자파의 반사 정도를 측정하는 분석기, 및 상기 탐지기와 결합하고 상기 탐지기의 일면을 상기 매질을 향해 가압하도록 형성되는 가압모듈을 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치를 제공한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01)
출원번호/일자 1020080074815 (2008.07.30)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0986641-0000 (2010.10.04)
공개번호/일자 10-2010-0013219 (2010.02.09) 문서열기
공고번호/일자 (20101011) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.07.30)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정지현 대한민국 서울특별시 영등포구
2 김세윤 대한민국 서울특별시 노원구
3 이정학 대한민국 경기도 화성시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.07.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0552203-98
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.12.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.01.13 수리 (Accepted) 9-1-2010-0002052-02
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0113758-80
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2010-0289644-64
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0289646-55
8 등록결정서
Decision to grant
2010.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0424460-96
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
매질에서 반사되는 전자파를 탐지하는 탐지기; 상기 탐지기와 동축선을 통하여 전기적으로 연결되어 상기 탐지기로 전자파를 인가하고, 상기 매질에서 반사된 전자파를 상기 탐지기로부터 수신하여 상기 전자파의 반사 정도를 측정하는 분석기; 상기 탐지기와 결합하고, 상기 탐지기의 일면이 상기 매질에 밀착되도록 상기 탐지기의 일면을 상기 매질을 향해 가압하는 가압모듈; 및 상기 분석기와 전기적으로 연결되어, 상기 전자파의 반사 정도를 상기 매질의 전기적 특성인 복소유전율로 환산하는 환산기를 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 가압모듈은, 일단이 상기 탐지기의 타면을 덮도록 결합하는 제1 지지대; 상기 제1 지지대를 일 방향으로 편향시키는 편향유닛; 및 상기 제1 지지대와 결합하고, 상기 편향유닛이 상기 제1 지지대를 가압하도록 장착되는 제2 지지대를 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 지지대는 상기 동축선이 관통하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 제1 지지대와 상기 탐지기의 사이에 배치되어, 상기 동축선과 상기 탐지기의 연결부분을 보호하는 밀봉부재를 더 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
5 5
제2항에 있어서, 상기 가압모듈은 상기 제1 지지대를 가압하는 정도를 조절하는 조절유닛을 더 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
6 6
제2항에 있어서, 상기 제2 지지대에는 상기 편향유닛이 안착되고, 상기 제1 지지대의 적어도 일부가 삽입되는 홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
7 7
제2항에 있어서, 일단은 상기 제1 지지대와 결합하고, 타단은 상기 제2 지지대에 이동 가능하도록 연결되어 상기 제1 지지대의 이동을 안내하는 가이드 축을 더 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 제2 지지대에는 상기 가이드 축의 타단이 이동 가능하도록 수용되는 가이드 홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
9 9
제1항에 있어서, 상기 탐지기의 일면과 접촉하는 상기 매질의 접촉면을 상기 탐지기의 일면과 평행하도록 유지하는 수평유지모듈을 더 포함하고, 상기 수평유지모듈은, 상기 매질을 지지하는 제1 바디; 및 상기 제1 바디를 상대 이동가능하도록 지지하는 제2 바디를 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
10 10
삭제
11 11
제9항에 있어서, 상기 제1 바디는 원기둥의 몸체로 형성되고, 일면은 상기 매질이 지지되는 평면으로 형성되며, 타면에는 원뿔 형태의 홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 제2 바디는 상기 홈에 삽입가능하도록 상기 홈에 대응하는 원뿔 형태의 몸체로 형성되는 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
13 13
제12항에 있어서, 상기 홈의 원뿔각은 상기 몸체의 원뿔각보다 크거나 같은 것을 특징으로 하는 매질의 전기적 특성 측정 장치
14 14
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.