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영상소자를 사용한 태양전지 양자효율 공간 분포 검사장치

  • 기술번호 : KST2014014195
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 소정의 빛을 조사하는 발광장치(100); 발광장치(100)에서 나온 광선을 복수 픽셀의 개별 제어에 따라 광로를 변경하는 영상소자(200); 영상소자(200)중 복수 픽셀의 상태를 개별 제어하는 영상소자 제어부(300); 영상소자(200)를 통과 또는 반사한 광선이 조사되는 태양전지판(400);및 태양전지판(400)에서 발생한 광전류 신호에 기초하여 태양전지판(400)의 양자효율을 산출하는 산출제어부(900);를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치에 관한 것이다.본 발명은 태양전지판에 광선을 조사하여 양자효율에 따른 태양전지판의 균질도를 검사함에 있어서 기계적인 움직임을 제거하여 진동과 소음을 방지하고, 소정의 검사 패턴 투영으로 검사 시간을 단축할 수 있으므로 생산라인 상에서 활용도가 크다.태양전지, 양자효율, 광전효과, 액정디스플레이(LCD, Liquid Crystal Display), 디지털 극소거울(DMD, Digital Micromirror Device) 소자, 영상소자(IMAGER)
Int. CL H02S 50/10 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020090033988 (2009.04.20)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1121451-0000 (2012.02.22)
공개번호/일자 10-2010-0115432 (2010.10.28) 문서열기
공고번호/일자 (20120315) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.04.20)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박승남 대한민국 대전광역시 유성구
2 이동훈 대한민국 대전광역시 유성구
3 박성종 대한민국 대전광역시 유성구
4 박철웅 대한민국 대전광역시 유성구
5 김승관 대한민국 대전광역시 유성구
6 황지수 대한민국 대전광역시 유성구
7 유용심 대한민국 대전광역시 유성구
8 신동주 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김문종 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)
2 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.04.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0235883-46
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2010.01.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0010899-24
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.05.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2010.06.17 수리 (Accepted) 9-1-2010-0038786-72
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.01.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0005279-01
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2011-0153829-48
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.03.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0153830-95
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal		 2011.09.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0536255-15
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.11.08 수리 (Accepted) 1-1-2011-0880700-10
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.11.08 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0880701-66
11 등록결정서
Decision to grant		 2012.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0059679-94
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소정의 빛을 조사하는 발광장치(100);상기 발광장치(100)에서 나온 광선을 복수 픽셀의 개별 제어에 따라 광로를 변경하는 영상소자(200);상기 영상소자(200)중 상기 복수 픽셀의 상태를 개별 제어하는 영상소자 제어부(300);상기 영상소자(200)를 통과 또는 반사한 상기 광선이 조사되는 태양전지판(400);및상기 태양전지판(400)에서 발생한 광전류 신호에 기초하여 상기 태양전지판(400)의 양자효율을 산출하는 산출제어부(900);를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 발광장치(100)는 인공 태양광을 발생시키는 인공태양광 발생장치(110)인 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
3 3
제 2항에 있어서, 상기 인공태양광 발생장치(110)는,제논램프(111);및상기 제논램프(111)에서 발생하는 빛을 포집하기 위한 리플렉터(112);를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
4 4
제 3항에 있어서,상기 인공태양광 발생장치(110)는, 상기 리플렉터(112)를 통해 포집된 상기 빛의 스펙트럼 분포를 보정하는 보정필터(113)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
5 5
제 1항에 있어서,상기 발광장치(100)의 빛을 상기 영상소자(200)에 집속시키는 집속렌즈(600)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
6 6
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 영상소자(200)는 상기 광선을 통과시키거나 차단할 수 있는 액정디스플레이 소자(210)인 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
7 7
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 영상소자(200)는 상기 광선을 반사시킬 수 있는 디지털극소거울 소자(220)인 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
8 8
제 1항에 있어서,상기 산출제어부(900)에서 산출된 양자효율을 표시하기 위한 표시부(500)가 더 구비된 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
9 9
제 1항에 있어서,상기 산출제어부(900)는, 상기 태양전지판(400)에서 발생하는 광전류를 전압 신호로 변환하는 전류/전압 변환기(510); 및상기 전압 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그/디지털 변환기(520);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
10 10
제 2항에 있어서,상기 인공 태양광 중 특정 파장대의 광선을 통과시키는 색필터(700)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
11 11
제 10항에 있어서,상기 색필터(700)는 광로상에 파장대별 복수의 색필터(700)가 삽입될 수 있도록 색필터 회전장치(710)가 더 구비된 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
12 12
제 2항에 있어서,상기 인공 태양광을 태양전지판(400)에 조사하기 위해 상기 영상소자(200)와 상기 태양전지판(400) 사이에 광조절렌즈(800)가 더 구비된 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 장치
13 13
발광장치(100)를 통해 소정의 빛이 조사되는 단계(S100);상기 발광장치(100)에서 나온 광선이 복수 픽셀의 개별 제어가 가능한 영상소자(200)에 집속되는 단계(S200);상기 광선이 영상소자 제어부(300)의 소정 픽셀의 제어 명령에 따라 상기 픽셀을 통과 또는 상기 픽셀에 반사되는 단계(S300);상기 픽셀에 대응되는 상기 광선이 태양전지판(400)에 조사되는 단계(S400);상기 태양전지판(400)에 조사된 상기 광선에 의해 광전류 신호가 발생되는 단계(S500);및산출 제어부(900)가 상기 광전류 신호를 기초로 양자효율을 산출하는 단계(S600);를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
14 14
제 13항에 있어서,상기 조사단계(S100)는,제논램프(111)로부터 나온 광선이 리플렉터(112)에 반사되어 특정 방향을 갖는 단계(S110);및상기 광선이 보정필터(113)를 통과하여 보정된 스펙트럼 분포를 갖는 단계(S120);인 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
15 15
제 14항에 있어서,상기 영상소자(200) 집속단계(S200)는,인공태양광 중 소정 파장대의 광선이 색필터 회전장치(710)에 삽입된 색필터(700)를 통해 투과되는 단계(S210)가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
16 16
제 13항에 있어서,상기 픽셀의 통과 또는 반사 단계(S300)와 상기 태양전지판(400) 조사단계(S400) 사이에는, 상기 광선이 상기 영상소자(200)와 상기 태양전지판(400) 사이에 위치한 광조절렌즈(800)를 통과하는 단계(S310)가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
17 17
제 13항에 있어서,상기 양자효율 산출단계(S600)는,공간응답특성이 균일한 광검출기에서 발생한 광전류 데이터가 상기 산출 제어부(900)에 획득되는 단계(S610);상기 태양전지판(400)에서 발생한 광전류 데이터가 상기 산출 제어부(900)에 획득되는 단계(S620);상기 산출 제어부(900)가 상기 태양전지판(400)의 광전류 데이터를 상기 광검출기의 광전류 데이터로 나누어 규격화된 데이터로 변환하는 단계(S630);및상기 규격화된 데이터에 기초하여 상기 태양전지판(400)의 양자효율 균질도 정보를 획득하는 단계(S640);인 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
18 18
제 17항에 있어서,상기 광전류 데이터 획득단계(S610)가 실행되기 전에,상기 태양전지판(400) 위치에 2축 서보 제어 이송대를 포함하는 상기 광검출기를 배치하는 단계(S605)가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 영상소자를 이용한 태양전지 양자효율 균질도 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN102227823 CN 중국 FAMILY
2 US08390309 US 미국 FAMILY
3 US20110227598 US 미국 FAMILY
4 WO2010123189 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN102227823 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 US2011227598 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US8390309 US 미국 DOCDBFAMILY
4 WO2010123189 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.