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광학 검사용 광/전기 프루브 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2014019427
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 레이저 다이오드, LED와 같은 발광 소자들의 웨이퍼 상태의 특성을 평가하기 위한 광 가이드 프루브를 이용한 전기 광학 특성 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.이러한 본 발명에 따르면, 대상체의 전기 광학 특성을 검사하기 위한 광학 검사 방법은 고정된 상기 대상체의 전기 광학 특성 검사를 위한 목표 위치에 선형의 도전성 외이어와 상기 와이어의 외주면에 광섬유 어레이가 다발형태로 구성되어 광 가이드와 전기 신호인가 가능한 프루브를 근접시키고, 상기 목표 위치로 상기 프루브의 와이어를 통해 전기 신호를 인가하여, 상기 목표 위치로부터 발생되는 출력광을 상기 프루브의 광섬유 어레이를 통해 수광한다. 그리고, 수광된 상기 출력광을 분석하여 광파워 및 광파장을 측정한다. 이로써, 본 발명에 따르면 중심에 가는 도전성 와이어와 그 주우에 광 가이드가 가능한 다발형 광섬유를 어레이 형태로 구성된 프루브를 이용하여 대상체로부터 출력되는 빛을 국부적으로 포획할 수 있어 웨이퍼 검사 맵핑과 같은 기술에서의 해상도를 높이고 측정치의 신뢰도를 높이는 효과를 기대할 수 있다.광 가이드 프루브, 광섬유, 웨이퍼 레벨 테스트, 광파워, 광파장
Int. CL H01L 21/66 (2014.01) G01R 31/26 (2014.01)
CPC G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01) G01R 31/2635(2013.01)
출원번호/일자 1020090093353 (2009.09.30)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1165385-0000 (2012.07.06)
공개번호/일자 10-2011-0035574 (2011.04.06) 문서열기
공고번호/일자 (20120712) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.30)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승택 대한민국 경기 성남시 분당구
2 김종석 대한민국 경기 안산시 단원구
3 정 훈 대한민국 서울특별시 광진구
4 김형태 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 충청남도 천안시 서북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0604231-54
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2010-5161401-06
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0033472-14
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0226162-30
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0480504-07
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0480505-42
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.12.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0766613-41
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-0159494-10
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.02.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0159492-29
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2012-5068733-13
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090658-47
13 등록결정서
Decision to grant
2012.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0377789-88
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대상체의 전기 광학 특성을 검사하기 위한 전기 광학 특성 검사 방법에 있어서,a) 고정된 상기 대상체의 전기 광학 특성 검사를 위한 목표 위치에 선형의 도전성 와이어와 상기 와이어의 외주면에 광섬유 어레이가 다발형태로 구성되어 광 가이드와 전기 신호인가가 가능한 프루브를 근접시키는 단계;b) 상기 목표 위치로 상기 프루브의 와이어를 통해 전기 신호를 인가하고, 상기 목표 위치로부터 발생되는 출력광을 상기 프루브의 광섬유 어레이를 통해 수광 하는 단계; 및c) 상기 출력광을 분석하는 단계를 포함하는 전기 광학 특성 검사 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 a) 단계는,상기 프루브를 상기 대상체의 상기 목표 위치에 맞도록 상대적으로 이동시키는 단계를 포함하는 전기 광학 특성 검사 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 b) 단계는,광파워 및 광파장 중 적어도 하나를 측정하는 단계를 포함하는 전기 광학 특성 검사 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 b) 단계는,인가되는 전류를 단계별로 변화시켜 전압의 변화를 측정하고, 이에 상응하는 상기 광파워 및 광파장을 측정하는 단계; 혹은인가되는 전압을 단계별로 변화시켜 전류의 변화를 측정하고, 이에 상응하는 상기 광파워 및 광파장을 측정하는 단계를 포함하는 전기 광학 특성 검사 방법
5 5
제 3 항에 있어서,상기 c) 단계 이후에,미리 설정된 상기 전기 광학 특성 검사를 위한 다른 목표 위치가 존재하는지 파악하는 단계를 더 포함하되 존재하지 않는 경우,분석된 상기 광파워와 광파장을 측정시간, 상기 목표 위치, 측정 전압, 측정전류 중 적어도 하나의 정보와 매칭하여 데이터화하는 단계를 포함하는 전기 광학 특성 검사 방법
6 6
대상체의 전기 광학 특성을 검사하기 위한 전기 광학 특성 검사 장치에 있어서,선형의 도전성 와이어와 상기 와이어의 외주면에 광섬유 어레이가 다발형태로 구성되는 프루브;고정된 상기 대상체의 전기 광학 특성 검사를 위한 목표 위치에 상기 프루브를 이송하여 근접시키는 제2 스테이지부;상기 와이어에 전원을 인가하는 전기 신호부; 및상기 프루브와 연결되며 상기 목표 위치에서 발생되는 출력광을 분석하는 광 신호부를 포함하되,상기 프루브는 상기 목표 위치에 상기 전원을 인가하여 발광시키고, 발생되는 출력광을 상기 광섬유 어레이를 통해 수광하여 광분석부로 전달하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 특성 검사 장치
7 7
제 6 항에 있어서,상기 프루브는,상기 광섬유 어레이의 각 광섬유 끝단에 반구형의 집광렌즈가 각각 부착되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 특성 검사 장치
8 8
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,상기 프루브는,상기 광섬유 어레이를 외부 충격으로부터 보호하고 배열이 일정하게 유지되도록 감싸는 피복부를 포함하는 전기 광학 특성 검사 장치
9 9
제 6 항에 있어서,상기 대상체가 안착되는 척과 상기 대상체를 복수의 방향으로 이동시키는 제1 스테이지부; 및상기 제1 스테이지부 및 제2 스테이지부의 다축 구동을 제어하는 신호처리 및 제어부를 더 포함하는 전기 광학 특성 검사 장치
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 제2 스테이지부는,제어신호에 따라 상기 대상체의 위치에 대한 상기 프루브의 상대적 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 특성 검사 장치
11 11
제 6 항에 있어서,상기 전기 신호부는,상기 프루브의 와이어를 통해 상기 목표 위치에 인가되는 전압 또는 전류를 발생하는 전기신호 발생부; 및상기 프루브에 인가되는 상기 전압 또는 전류에 대한 반응 전류 및 반응 전압을 측정하는 전기신호 측정부를 포함하는 전기 광학 특성 검사 장치
12 12
제 6 항에 있어서,상기 광 신호부는,상기 출력광을 분석하여 광 파워를 측정하는 광 파워 분석기; 및상기 출력광을 분석하여 광 파장을 측정하는 광 파장 분석기를 포함하는 전기 광학 특성 검사 장치
13 13
제 12 항에 있어서,상기 광 신호부는,상기 프루브를 통해 수집된 출력광을 임시로 보관하는 적분구를 더 포함하며, 상기 광 파워 분석기 및 광 파장 분석기는 상기 적분구를 통해 상기 출력광을 제공받는 것을 특징으로 하는 전기 광학 특성 검사 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.