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TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법에 있어서, (a) 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계;(b) 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계; 및(c) 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법
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제 1 항에 있어서,상기 (c)단계에서 여러가지 패턴의 영상을 마스크를 사용하여 팽창 후 침식 연산을 먼저 수행한 결과 영상과 상기 결과 영상을 다시금 침식 후 팽창 연산을 수행한 영상을 픽셀단위로 빼주어 화이트 점 결함(WHITE PIXEL DEFECT)을 검출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법
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제 1 항에 있어서,상기 (c)단계에서 여러가지 패턴의 영상을 마스크를 사용하여 팽창 후 침식 연산을 먼저 수행한 영상과 원영상을 픽셀단위로 빼준 영상을 침식 후 팽창 연산을 수행하여 다크 점 결함(DARK PIXEL DEFECT)을 검출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법
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제 1 항에 있어서,상기 마스크는 TFT-LCD 셀의 구조적 특성에 맞게 세로축이 상대적으로 긴 마스크를 사용하고, 상기 모폴로지 기법은 침식 연산과 팽창 연산을 혼합하여 사용하는 것을 특징으로 하는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법
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TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법에 있어서, (a) 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계;(b) 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계;(c) 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계; 및(d) 상기 검출된 결함을 여러가지 패턴별로 분석하여 해당 결함의 종류를 분류하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 (d)단계에서 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 영상에 따라 검출된 결함 결과를, RGB 각 섭픽셀에 나타나는 특정 위치 결함으로 분류하는 것을 특징으로하는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법
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