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질량분석 시스템에 있어서,입자를 도입하는 도입부;상기 도입된 입자를 이온화하는 이온화부;상기 이온화된 입자의 위치에 따라 다른 전기장으로 가속하는 가속부; 및상기 가속된 이온의 질량을 검출하는 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 가속부는,초기 에너지에 따라 다르게 공간적으로 분포된 입자에 각각 다른 에너지를 가하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 검출부는 이온 센서를 포함하고,상기 가속부는,서로 다른 초기 에너지를 가지고 다른 방향으로 움직이던 이온들이 동시에 상기 이온 센서로 도달되도록 상기 이온을 가속하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 가속부는,TOF(Time Of Flight) 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온을 감속하고, 90-0도 방향으로 움직이는 이온을 가속하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 가속부는,TOF 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온에 대한 감속의 크기와 90-0도 방향으로 움직이는 이온에 대한 가속의 크기가 비선형적인 전기장을 이용하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 가속부는,상기 이온화된 입자를 통과시켜 1차 가속하는 제1 가속판; 및상기 제1 가속판을 통과한 이온들을 2차 가속하는 제2 가속판을 포함하고,상기 제1 가속판 및 상기 제2 가속판의 사이에 비선형적인 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 질량분석 시스템
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질량분석기의 비선형 후가속 장치에 있어서,상기 질량분석기에 도입된 입자들의 이온을 통과시켜 1차 가속하는 1차 이온 가속판; 및상기 1차 이온 가속판을 통과한 이온을 상기 이온의 각 위치에 따라 다른 후가속 전기장으로 2차 가속하는 2차 후가속판을 포함하고,상기 후가속 전기장은,TOF 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온의 경우 감속하고, 90-0도 방향으로 움직이는 이온의 경우 가속하는 것을 특징으로 하는 비선형 후가속 장치
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제7항에 있어서,상기 후가속 전기장은,TOF 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온의 감속 크기와 90-0도 방향으로 움직이는 이온의 가속 크기가 비선형적인 전기장인 것을 특징으로 하는 비선형 후가속 장치
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질량분석 시스템에서의 질량 분석 방법에 있어서,입자를 도입하는 단계;상기 도입된 입자를 이온화하는 단계;상기 이온화된 입자의 위치에 따라 다른 전기장으로 가속하는 단계; 및상기 가속된 이온의 질량을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 질량분석 방법
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제9항에 있어서,상기 이온화된 입자의 위치에 따라 다른 전기장으로 가속하는 상기 단계는,TOF(Time Of Flight) 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온을 감속하고, 90-0도 방향으로 움직이는 이온을 가속하는 것을 특징으로 하는 질량분석 방법
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제9항에 있어서,상기 전기장은,TOF 챔버 방향에 대하여 90도 방향으로 초기에 움직이는 입자군을 중심으로 90-180도로 움직이는 이온에 대한 감속의 크기와 90-0도 방향으로 움직이는 이온에 대한 가속의 크기가 비선형적인 전기장인 것을 특징으로 하는 질량분석 방법
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