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무기형광 함침막을 이용한 방사능 표면오염도 측정 장치

  • 기술번호 : KST2014022346
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 방사능 표면오염도를 측정하기 위한 장치에 관한 것으로, 무기형광 함침막으로 채취된 대량의 시료를 채취현장에서 직접 측정하여 저에너지 베타선 방출핵종에 의한 방사능 표면오염도를 즉석에서 분석할 수 있도록 하기 위하여, 지지프레임과; 광전자증배관과, 차폐홀 및 플렌지부를 갖는 차폐홀더를 포함하며, 상기 지지프레임에 고정되는 광전자증배관 어셈블리와; 상기 플렌지부가 내부에 위치한 상태에서 상대적 이동이 가능하도록 가이드하는 가이드 슬롯 및 저면에 등간격으로 형성되는 다수의 시료투입용 홈을 구비하며, 상기 지지프레임에 1자유도 운동만 허용되도록 설치되는 시료이송 테이블과; 시료가 올려지는 시료홀더와; 광전자증배기로부터 발생된 신호의 정형 및 증폭을 위한 증폭기; 및 증폭된 방사선 신호의 수를 계측하는 계수기를 포함한 구성으로 이루어져, 측정장치의 무게를 휴대가 가능할 정도로 간편하게 줄일 수 있으며, 다수의 시료를 동시에 장착한 상태에서 광전자증배기에 인가된 전압을 유지한 채 연속적으로 측정작업을 수행할 수 있음에 따라, 대량의 시료를 측정하는 경우에도 적은 노력으로 보다 신속하게 수행할 수 있도록 하는 효과를 갖는 방사능 표면오염도 측정장치를 제공한다. 광전자증배관, 무기형광 함침막, 저에너지 베타선 방출핵종, 표면오염도
Int. CL G01N 23/02 (2006.01)
CPC G01N 23/02(2013.01) G01N 23/02(2013.01) G01N 23/02(2013.01)
출원번호/일자 1020020074806 (2002.11.28)
출원인 한국원자력연구원, 한국수력원자력 주식회사
등록번호/일자 10-0668223-0000 (2007.01.05)
공개번호/일자 10-2004-0046784 (2004.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20070111) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.11.28)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 경상북도 경주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서범경 대한민국 대전광역시 유성구
2 이완로 대한민국 대전광역시서구
3 이근우 대한민국 대전광역시 서구
4 박진호 대한민국 대전광역시 유성구
5 이봉재 대한민국 대전광역시 유성구
6 한명진 대한민국 대구광역시 수성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구소 대한민국 대전 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 서울특별시 강남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2002-0394811-57
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.05.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.06.15 수리 (Accepted) 9-1-2004-0037107-26
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0409356-41
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2004-0558341-71
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2004-0616103-61
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2005-0047203-72
8 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0106927-26
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.03.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0163146-55
10 의견서
Written Opinion
2005.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0163099-07
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2005.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0394890-04
12 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2005.10.17 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2005-0024774-21
13 심사전치출원의 심사결과통지서
Notice of Result of Reexamination
2005.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0618495-60
14 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2005.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0618494-14
15 등록결정서
Decision to grant
2007.01.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0001019-26
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2007-5073714-01
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2007-5085193-38
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117973-29
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117707-02
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2008-5145739-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2010-5177354-66
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.03.18 수리 (Accepted) 4-1-2016-5034922-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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저에너지 베타선 방출핵종에 의한 방사선 오염도를 측정할 대상체의 표면에 시료채취용 여과지를 포함하는 막을 접촉시킨 후, 상기 막에 채취된 시료를 측정하여 간접적으로 상기 대상체 표면의 방사능 오염도를 측정하는 장치에 있어서,저에너지 베타선 방출핵종과의 상호작용에 의하여 광전자를 방사하는 형광물질을 포함하는 무기형광 함침막;상기 무기형광 함침막으로부터 방사되는 광전자를 증배하는 광전자증배관 및 상기 광전자증배관을 외부의 빛으로부터 차폐하는 차폐홀더를 포함하는 광전자증배관 어셈블리;상기 광전자증배관으로부터 방사되는 광전자의 개수를 계수하기 위한 계수기;복수개의 상기 무기형광 함침막을 안착시키는 복수개의 홀더를 구비하고, 상기 광전자증배관과 상기 각각의 홀더와의 상대적인 위치를 변경하여 복수개의 상기 홀더를 상기 광전자증배관의 수광부에 순차적으로 배치하기 위한 반송수단; 및상기 광전자증배관 어셈블리 및 상기 반송수단을 고정하는 지지프레임;을 포함하여 이루어지고, 상기 홀더가 상기 광전자증배관의 수광부에 배치된 상태에서 상기 무기형광 함침막과 상기 광전자증배관의 수광부는 외부의 빛으로부터 실질적으로 차폐되는 것을 특징으로 하는 방사능 표면오염도 측정 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 차폐홀더는 상기 광전자증배관이 외부의 빛으로부터 차폐될 수 있도록 삽입되는 차폐홀 및 상기 광전자증배관의 수광부 쪽 위치에서 소정 길이로 돌출하는 플랜지부를 구비하고, 상기 반송수단은 상기 플랜지부가 삽입된 상태에서 상대적으로 이동이 가능하도록 가이드하는 가이드 슬롯 및 상기 복수개의 홀더가 투입되는 복수개의 홈이 상기 가이드 슬롯의 저면에 형성된 시료이송 테이블인 것을 특징으로 하는 방사능 표면오염도 측정 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 시료이송 테이블은 원판형으로 형성되고 상기 지지프레임상에서 회전운동을 하여, 상기 홀더에 투입된 복수의 무기형광 함침막을 순차적으로 광전자증배관의 수광부의 위치와 일치시키는 것을 특징으로 하는 방사능 표면오염도 측정장치
4 4
제2항에 있어서,상기 시료이송 테이블은 길쭉한 레일형으로 형성되고 상기 지지프레임상에서 직선운동을 하여, 상기 홀더에 투입된 복수의 무기형광 함침막을 순차적으로 광전자증배관의 수광부의 위치와 일치시키는 것을 특징으로 하는 방사능 표면오염도 측정장치
5 5
제3항 또는 제4항에 있어서,상기 시료이송 테이블은 각 시료투입용 홈의 바닥면에서 하부로 관통하는 압착가이드구멍을 더 구비하고, 상기 압착가이드구멍을 통해 상기 시료홀더를 상기 광전자증배관에 밀착되도록 압착하는 압착수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 방사능 표면오염도 측정장치
6 6
삭제
7 6
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.