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마이크로미러를 이용한 다파장 측정 광학 모듈

  • 기술번호 : KST2014022426
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 다파장 측정 광학 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 반사각을 변화시킬 수 있는 미러와, 상기 미러에 의해 전달되는 신호로부터 제1 파장 범위에 해당하는 광 신호를 검출하기 위한 제1 광 신호 검출부와, 상기 미러에 의해 전달되는 신호로부터 제1 파장 범위와 다른 파장 범위에 해당하는 광 신호를 검출하기 위한 적어도 하나 이상의 제2 광 신호 검출부와, 광 신호의 파장 범위에 따라 상기 제1 광 신호 검출부 또는 상기 적어도 하나 이상의 제2 광 신호 검출부에서 상기 광 신호가 검출될 수 있도록 상기 미러를 제어하는 제어부와, 상기 미러, 상기 제1 광 신호 검출부, 상기 적어도 하나 이상의 제2 광 신호 검출부 및 상기 제어부를 그 내부에 구비하고, 상기 미러에 대한 개구(aperture)를 더 구비하며, 상기 미러로부터 상기 제1 광 신호 검출부 또는 상기 적어도 하나 이상의 제2 광 신호 검출부로의 광 경로를 제공하는 보디(body)를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다. 본 발명의 다파장 측정 광학 모듈에 따르면, 고속으로 반사각을 변화시켜 빛의 경로를 바꾸어 줄 수 있는 마이크로미러와, 서로 다른 위치에 인접하게 배치되어 서로 다른 파장 범위의 광 신호를 검출할 수 있는 복수 개의 광 신호 검출부를 포함함으로써, 관측하고자 하는 대상의 분광 특성을 매우 빠른 속도로 효과적으로 측정할 수 있다. 다파장 측정 광학 모듈, 파장 범위, 광 신호, 미러, 반사각, 제1 광 신호 검출부, 적어도 하나 이상의 제2 광 신호 검출부, 보디, 마이크로 전기 기계 장치(MEMS), 개구
Int. CL G01J 3/02 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080019609 (2008.03.03)
출원인 이화여자대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0904685-0000 (2009.06.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090624) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.03.03)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박일흥 대한민국 경기 성남시 분당구
2 박재형 대한민국 서울 관악구
3 박용선 대한민국 서울 관악구
4 남신우 대한민국 서울 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태동 대한민국 서울특별시 구로구 가마산로 ***, ***호(구로동, 대림오피스밸리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0155612-02
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2008.07.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0539166-35
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.08.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.09.11 수리 (Accepted) 9-1-2008-0055304-85
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0514775-47
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2008.12.08 수리 (Accepted) 1-1-2008-0844831-66
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2009-0008372-69
8 보정요구서
Request for Amendment		 2009.01.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0003699-15
9 [출원서등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)		 2009.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0027295-31
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2009-0079739-64
11 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2009-0143265-60
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.04.07 수리 (Accepted) 1-1-2009-0209698-41
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.04.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0209697-06
14 등록결정서
Decision to grant		 2009.06.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0248153-86
15 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2010.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0707647-95
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번호 청구항
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마이크로미러 전기 기계 장치MEMS)에 의해 고속으로 반사각을 변화시켜 광신호의 경로를 바꾸어 주는 미러; 상기 미러에 의해 전달되는 광신호로부터 제1 파장 범위에 해당하는 광신호를 검출하는 제1 광신호 검출부; 상기 제1 광신호 검출부와 인접하게 배치되어 상기 미러에 의해 전달되는 광신호로부터 상기 제1 파장 범위와 다른 파장 범위에 해당하는 광신호를 검출하는 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부; 상기 광신호의 위치를 감지하여 상기 미러를 상기 광신호의 방향으로 회전시키며, 상기 광신호의 파장 범위에 따라 상기 제1 광신호 검출부 또는 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부가 상기 광신호를 검출할 수 있도록 상기 미러의 반사각을 제어하는 제어부; 및 상기 미러, 상기 제1 광신호 검출부, 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부, 및 상기 제어부를 그 내부에 포함하고, 상기 미러의 하부에 형성된 상기 미러에 대한 개구(aperture)를 구비하며, 상기 미러로부터 상기 제1 광신호 검출부 또는 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부로의 광경로를 제공하는 보디(body) 를 포함하는 다파장 측정 광학 모듈
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제1항에 있어서, 상기 미러는, 마이크로 전기 기계 장치(Micro Electro Mechanical System; MEMS)에 의한 마이크로미러 어레이(array)이고, 상기 제1 파장 범위 및 제1 파장 범위와 다른 상기 파장 범위는, 적외선 파장 범위, 자외선 파장 범위 또는 가시광선 파장 범위 중 하나 인것을 특징으로 하는 다파장 측정 광학 모듈
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술부 MEMS 우주망원경 연구단 창의적 연구진흥 지원연구 MEMS 기반 차세대 우주망원경 개발을 통한 극한에너지 우주현상 연구