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비파괴검사 방법

  • 기술번호 : KST2014023877
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 보정전달함수를 이용하여 후진과정을 전산으로 수행함으로써 결함검출을 용이하게 하는 비파괴 검사방법에 관한 것으로, 초기입력신호 인가 후, 목적점의 응답신호를 측정하는 단계와; 상기 응답신호에서 일부 신호를 제거하여 보정응답신호를 산출하는 단계와; 상기 보정응답신호와 상기 초기입력신호를 이용하여 보정전달함수를 산출하는 단계와; 상기 보정응답신호를 시간반전을 시킨 후, 시간반전된 보정응답신호와 상기 보정전달함수를 이용하여 귀환신호를 산출하는 단계; 상기 귀환신호를 분석하여 구조물의 결함을 산출하는 결함산출단계;를 포함하는 비파괴검사방법을 제공한다.
Int. CL G01N 29/04 (2006.01) G01N 29/44 (2006.01) G01N 29/36 (2006.01)
CPC G01N 29/449(2013.01) G01N 29/449(2013.01) G01N 29/449(2013.01) G01N 29/449(2013.01) G01N 29/449(2013.01)
출원번호/일자 1020090135445 (2009.12.31)
출원인 인하대학교 산학협력단, 주식회사 대한항공
등록번호/일자 10-1090587-0000 (2011.11.30)
공개번호/일자 10-2011-0078595 (2011.07.07) 문서열기
공고번호/일자 (20111208) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.31)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구
2 주식회사 대한항공 대한민국 서울특별시 강서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이우식 대한민국 서울특별시 양천구
2 최정식 대한민국 인천광역시 남동구
3 최청호 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태백 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** 이노플렉스 *차 ***호

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 대한항공 대한민국 서울특별시 강서구
2 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2009-0820595-68
2 보정요구서
Request for Amendment
2010.01.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0001138-91
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0081155-27
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2010-0124835-19
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.05.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.06.16 수리 (Accepted) 9-1-2011-0050255-67
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0405005-80
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.08.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0604398-17
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.08.04 수리 (Accepted) 1-1-2011-0604396-26
10 등록결정서
Decision to grant
2011.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0685905-45
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5098802-16
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.09.05 수리 (Accepted) 4-1-2016-5127132-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.03.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5036549-31
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266647-91
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
초기입력신호 송출 후, 목적점의 응답신호를 측정하는 단계와; 상기 응답신호에서 일부 신호를 제거하여 보정응답신호를 산출하는 단계와; 상기 보정응답신호와 상기 초기입력신호를 이용하여 보정전달함수를 산출하는 단계와; 상기 보정응답신호를 시간반전을 시킨 후, 시간반전된 보정응답신호와 상기 보정전달함수를 이용하여 귀환신호를 산출하는 단계; 상기 귀환신호를 분석하여 구조물의 결함을 산출하는 결함산출단계;를 포함하는 비파괴검사방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 초기입력신호는 램파신호이며, 상기 응답신호는 S파와 A파로 분류되고, 상기 보정응답신호는 상기 응답신호에서 상기 S파를 제외한 신호인 비파괴검사방법
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 초기입력신호는 램파신호이며, 상기 응답신호는 S파와 A파로 분류되고, 상기 보정응답신호는 상기 응답신호에서 상기 A파를 제외한 신호인 비파괴검사방법
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 보정전달함수는 다음 수학식 1에 의하여 결정되는 비파괴검사방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 귀환신호는 다음 수학식 2에 의하여 산출되는 비파괴검사방법
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 구조물의 결함을 산출하는 단계는, 귀환신호의 시간기준점을 선정하는 단계와; 상기 시간기준에 대하여 귀환신호 중 결함신호에 대한 비시간을 산출하는 단계와; 상기 비시간을 이용하여 결함을 이미지화하는 단계를 포함하는 비파괴 검사방법
7 7
청구항 6에 있어서, 상기 귀환신호의 시간기준점은 귀환신호의 좌우 대칭점인 비파괴검사방법
8 8
청구항 6에 있어서, 상기 결함을 이미지화하는 단계는, 우회경로의 거리(R(k))와 결함신호의 비거리(TOF(k))에 대한 다음 수학식 3을 이용하여 이미지 처리용 귀환신호(Sij(t))를 산출하는 단계와; 상기 산출된 이미지 처리용 귀환신호로부터 수학식 4를 이용하여 임의의 위치에 있는 픽셀에 대한 이미지값(I(x,y))을 산출하는 단계를 포함하는 비파괴검사방법
9 9
청구항 6에 있어서, 상기 결함을 이미지화하는 단계는, 우회경로의 거리(R(k))와 결함신호의 비거리(TOF(k))에 대한 다음 수학식 3을 이용하여 이미지 처리용 귀환신호(Sij(t))를 산출하는 단계와; 상기 산출된 이미지 처리용 귀환신호로부터 수학식 5를 이용하여 임의의 위치에 있는 픽셀에 대한 이미지값(I(x,y))을 산출하는 단계를 포함하는 비파괴검사방법
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패밀리정보가 없습니다
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