| 요약 |
본 발명은 회전형 슬릿을 이용한 단일 스캔 빔 에미턴스 측정기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 직각으로 절곡된 슬릿 플레이트의 서로 수직을 이루고 있는 두 면에 각각 슬릿을 형성하고, 슬릿 플레이트를 절곡선을 축으로 하여 90˚왕복 회동시킴에 따라 각 슬릿이 빔의 진행 경로 상에 교대로 위치하도록 구성함으로써, 하나의 슬릿 플레이트 만으로 일 회의 스캔 작업을 통하여 2축 성분의 에미턴스를 동시에 측정할 수 있도록 구성된 에미턴스 측정기에 관한 것이다.본 발명에 따른 회전형 슬릿을 이용한 단일 스캔 빔 에미턴스 측정기는, 서로 수직을 이루고 있는 두 면에 각각 슬릿이 형성되어 있는 직각으로 절곡된 슬릿 플레이트와; 일단에 상기 슬릿 플레이트를 부착하여 상기 슬릿 플레이트를 이송시키거나 왕복 회동시키는 슬릿 구동부; 및 상기 각 슬릿을 통과한 빔을 각각 포집하여, 빔의 분포에 따른 전류 신호를 출력하는 한 쌍의 빔 콜렉터를 포함하여 구성되는 점을 특징으로 한다.본 발명에 따른 회전형 슬릿을 이용한 단일 스캔 빔 에미턴스 측정기는, 하나의 슬릿 플레이트만을 구비하여 설치 공간 및 작동 공간을 줄일 수 있으므로, 공간이 협소한 가속기의 출력 빔에 대한 에미턴스를 측정하는 경우 장치의 설치 작업을 용이하게 할 수 있는 효과가 있다.에미턴스, 측정기, 슬릿, 스캔
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