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핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그

  • 기술번호 : KST2014027628
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 핀(pin) 하중을 받는 평판의 균열진전 시험시, 균열의 진전 등에 관한 육안 관찰이 용이하여, 시험 결과에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그에 관한 것으로, 양단에 수직기둥부(20a),(20b)(30a),(30b)가 형성된 수평지지부(20b),(30b)상에 받침부(22),(32)가 형성된 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)와, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)가 볼트(16)에 의해 머리부(12)에 일정간격지게 결합된 나사부(10)와, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)의 받침부(22)에 걸쳐지도록 형성된 핀부(50)로 구성된 특징이 있다. 본 발명의 상기 구성에 따르면, 핀(pin) 하중을 받는 평판의 균열진전 시험시, 균열의 진전 등에 관한 육안 관찰이 용이하여, 시험 결과에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다. 제 1 거치대, 제 2 거치대, 나사부, 받침부
Int. CL G01N 1/36 (2006.01) G01N 3/02 (2006.01)
CPC G01N 3/04(2013.01) G01N 3/04(2013.01) G01N 3/04(2013.01) G01N 3/04(2013.01) G01N 3/04(2013.01)
출원번호/일자 1020090014444 (2009.02.20)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1022294-0000 (2011.03.08)
공개번호/일자 10-2010-0095259 (2010.08.30) 문서열기
공고번호/일자 (20110321) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.02.20)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 석창성 대한민국 경기도 과천시
2 김상영 대한민국 경기도 수원시 팔달구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이철 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로**길 ** 신호빌딩 *층(보스윈특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0107495-10
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2009.05.11 수리 (Accepted) 1-1-2009-0279834-39
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.01.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2010.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2010-0009765-44
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0541485-93
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2010.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0812365-55
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2010.12.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0812373-10
8 등록결정서
Decision to grant		 2010.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0597183-55
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090770-53
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그에 있어서, 양단에 수직기둥부(20a),(20c)(30a),(30c)가 형성된 수평지지부(20b),(30b)상에 받침부(22),(32)가 형성된 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)와, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)가 볼트(16)에 의해 머리부(12)에 일정간격지게 결합된 나사부(10)와, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)의 받침부(22),(32)에 걸쳐지도록 형성된 핀부(50)로 이루어진 것을 특징으로 하는 핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)에는 반타원형의 받침부(22),(32)가 복수개 형성되며, 상기 복수개의 받침부(22),(32) 상에 걸쳐지도록 복수개의 핀부(50)가 형성됨을 특징으로 하는 핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제 1 거치대(20) 및 제 2 거치대(30)는 ㄷ형상인것을 특징으로 하는 핀하중을 이용한 평판 재료 시험용 지그
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술부 성균관대학교 산학 협력단 중견연구자 지원사업의 도약연구사업 항공우주용 복합재료의 내구성 및 손상허용성 평가기법 개발