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방열 구조를 갖는 트랜지스터 및 그의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014028572
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 방열 구조를 갖는 트랜지스터 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 전극이 형성된 영역에서 발생되는 열을 외부로 효과적으로 방출시켜 양호한 소자 특성을 유지하기 위한 것이다. 본 발명에 따르면, 기판의 전면에 다층의 질화물층이 형성되고, 다층의 질화물층 위에 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극이 형성된다. 그리고 방열 구조는 기판의 후면에 복수의 전극이 형성된 영역을 포함하도록 안쪽으로 방열홈이 형성되고, 그 방열홈의 내측면에 형성된 방열층을 구비한다. 따라서 복수의 전극이 형성된 영역 아래에 방열홈을 형성하여 전극이 형성된 영역과 외부와의 거리를 줄임으로써, 전극이 형성된 영역에서 발생되는 열의 이동 경로를 최소화하여 발생된 열을 외부로 신속하게 배출시킬 수 있다. 그리고 방열홈에는 열전도성이 양호한 방열층이 형성되기 때문에, 전극이 형성된 영역에서 발생되는 열을 외부로 더욱 신속하게 배출시키기 때문에, 본 발명에 따른 트랜지스터는 양호한 소자 특성을 유지할 수 있다. 방열, 트랜지스터, HEMT, 활성 영역, 질화물
Int. CL H01L 29/778 (2006.01)
CPC H01L 29/7783(2013.01) H01L 29/7783(2013.01)
출원번호/일자 1020090016048 (2009.02.25)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1015787-0000 (2011.02.11)
공개번호/일자 10-2010-0096943 (2010.09.02) 문서열기
공고번호/일자 (20110218) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.02.25)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최홍구 대한민국 경기도 하남시 덕
2 한철구 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박종한 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로**길 * (구로동, 에이스하이엔드타워*차) ***호(한림특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0118215-12
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2009-0133891-42
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.10.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0484830-71
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.12.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0861633-24
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0861631-33
6 등록결정서
Decision to grant
2011.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0055266-13
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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전면과 후면을 갖는 기판과; 상기 기판의 전면에 형성된 다층의 질화물층과; 상기 다층의 질화물층 위에 형성되는 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극과; 상기 기판의 후면에 상기 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극이 형성된 영역을 포함하도록 안쪽으로 방열홈이 형성되고, 상기 방열홈을 포함하여 상기 기판의 후면을 덮도록 형성된 방열층을 갖는 방열 구조;을 포함하며 상기 다층의 질화물층은, 상기 기판의 전면에 형성된 천이층과; 상기 천이층 위에 형성된 버퍼층과; 상기 버퍼층 위에 형성된 GaN층과; 상기 GaN층 위에 형성되어 접합면에 2차원 전자가스층을 형성하는 AlXGa1-XN층;을 포함하며, 상기 버퍼층 위의 상기 GaN층과 AlXGa1-XN층을 식각하여 활성 영역을 메사(mesa) 형태로 형성하고, 상기 활성 영역의 AlXGa1-XN층 위에 상기 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극이 형성되고, 상기 방열홈은 상기 활성 영역 아래에 상기 활성 영역을 포함하는 크기로 형성되며, 상기 방열홈의 바닥면은 상기 버퍼층의 후면 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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3 3
삭제
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삭제
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제1항에 있어서, 상기 방열층은, 상기 방열홈에 충전된 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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삭제
7 7
제1항에 있어서, 상기 방열홈의 바닥면은, 상기 버퍼층의 후면에 가깝게 형성된 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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제1항에 있어서, 상기 방열층은, Ti, Ni, Au, Pt, Cu 또는 Al 중에 적어도 하나의 금속을 증착하여 형성하는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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제1항에 있어서, 상기 버퍼층 중간에 형성된 식각 방지층;을 더 포함하며, 상기 식각 방지층의 후면이 노출되게 상기 방열홈을 형성하는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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제9항에 있어서, 상기 식각 방지층은, AlXGa1-XN, InXGa1-XN, AlN 또는 InN 중에 하나인 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터
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기판의 전면에 다층의 질화물층을 형성하는 질화물층 형성 단계와; 상기 다층의 질화물층 위에 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 형성하는 전극 형성 단계와; 상기 기판의 후면에 상기 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극이 형성된 영역을 포함하도록 안쪽으로 방열홈을 형성하고, 상기 방열홈을 포함하여 상기 기판의 후면을 덮도록 방열층을 형성하는 방열 구조 형성 단계;를 포함하고, 상기 질화물층 형성 단계에서, 상기 기판의 전면에 순차적으로 천이층, 버퍼층, GaN층 및 AlXGa1-XN층을 형성하며, 상기 GaN층과 AlXGa1-XN층의 접합면에 2차원 전자가스층이 형성되고, 상기 전극 형성 단계는, 상기 버퍼층 위의 상기 GaN층과 AlXGa1-XN층을 식각하여 메사(mesa) 형태의 활성 영역으로 형성하는 단계와; 상기 활성 영역의 AlXGa1-XN층 위에 상기 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계;를 포함하고, 상기 방열 구조 형성 단계에서, 상기 방열홈은 상기 활성 영역 아래에 상기 활성 영역을 포함하는 크기로 형성되며, 상기 방열홈의 바닥면이 상기 버퍼층의 후면 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터의 제조 방법
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기판의 전면에 다층의 질화물층을 형성하는 질화물층 형성 단계와; 상기 기판의 후면에서 안쪽으로 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극이 형성될 영역을 포함하도록 방열홈을 형성하고, 상기 방열홈을 포함하여 상기 기판의 후면을 덮도록 방열층을 형성하는 방열 구조를 형성하는 방열 구조 형성 단계와; 상기 다층의 질화물층 위에 형성하되, 상기 방열홈이 형성된 영역의 상부에 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 형성하는 전극 형성 단계;를 포함하며, 상기 질화물층 형성 단계에서, 상기 기판의 전면에 순차적으로 천이층, 버퍼층, GaN층 및 AlXGa1-XN층을 형성하며, 상기 GaN층과 AlXGa1-XN층의 접합면에 2차원 전자가스층이 형성되고, 상기 전극 형성 단계는, 상기 버퍼층 위의 상기 GaN층과 AlXGa1-XN층을 식각하여 메사(mesa) 형태의 활성 영역으로 형성하는 단계와; 상기 활성 영역의 AlXGa1-XN층 위에 상기 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계;를 포함하고, 상기 방열 구조 형성 단계에서, 상기 방열홈은 상기 활성 영역 아래에 상기 활성 영역을 포함하는 크기로 형성되며, 상기 방열홈의 바닥면이 상기 버퍼층의 후면 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터의 제조 방법
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삭제
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삭제
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제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 방열 구조 형성 단계에서, 상기 버퍼층의 후면에 가깝게 형성하는 것을 특징으로 하는 트랜지스터의 제조 방법
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제15항에 있어서, 상기 질화물층 형성 단계는, 상기 버퍼층 중간에 식각 방지층을 형성하는 단계;를 더 포함하며, 상기 방열 구조 형성 단계에서 상기 식각 방지층의 후면이 노출되게 상기 방열홈을 형성하는 것을 특징으로 하는 방열 구조를 갖는 트랜지스터의 제조 방법
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1 지식경제부 전자부품연구원 IT원천기술개발사업 4G 기지국용 GaN 전력증폭기 개발