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수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트의 제조방법 및 그에의해 제조된 게이트

  • 기술번호 : KST2014029204
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 초고주파 및 밀리미터파 용 전계효과 트랜지스터(FET) 제조에 있어서 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트 및 그 제조방법에 관한 것이다. 전계효과 트랜지스터의 제조에 있어서 소자의 고속 동작 특성을 평가하는 전류 이득 차단 주파수(current gain cut-off frequency)를 결정하는 주된 요인은 소자의 게이트 길이(gate length)이며, 게이트 길이가 짧아질수록 전류 이득 차단 주파수는 증가하게 된다. 이러한 특성을 위해 기존의 제조 방법에 의하여 게이트 길이를 짧게 하면 그 수율이 떨어지게 되며 재현성도 낮아지게 된다. 본 발명은 게이트 길이를 최소화하기 위한 것으로, 미세 패턴 형성이 가능하다고 알려진 수소화 실세스퀴옥산(HSQ)를 이용하여 다층구조 T형 게이트를 제조하여 게이트 길이를 최소화 한다. 본 발명에 의한 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트 및 그 제조방법에 따르면, 게이트 길이를 매우 짧게 만들 수 있으며, 건식 식각 같은 공정이 필요 없어 비교적 간단히 제조 가능하며, 또한 음성 레지스터의 특성상 전자를 맞는 부분이 남기 때문에 게이트 다리 형성시 수소화 실세스퀴옥산 패드가 남아 보호막의 역할을 같이 수행하게 되기도 하며, 제조과정의 단순화 및 높은 신뢰도 및 재현성을 얻을 수 있다. 초고주파 반도체 소자, 게이트, 수소화 실세스퀴옥산.
Int. CL H01L 21/28 (2006.01.01) H01L 29/51 (2006.01.01)
CPC H01L 21/28114(2013.01) H01L 21/28114(2013.01) H01L 21/28114(2013.01)
출원번호/일자 1020040077431 (2004.09.24)
출원인 학교법인 동국대학교, 백태종, 임병옥, 김성찬, 이진구, 신동훈
등록번호/일자 10-0633211-0000 (2006.09.29)
공개번호/일자 10-2006-0028325 (2006.03.29) 문서열기
공고번호/일자 (20061011) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.09.22)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 동국대학교 대한민국 서울특별시 중구
2 백태종 대한민국 서울 관악구
3 임병옥 대한민국 대전광역시 유성구
4 신동훈 대한민국 경기도 고양시 일산동구
5 이진구 대한민국 서울특별시 도봉구
6 김성찬 대한민국 서울특별시 동작구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 백태종 대한민국 서울 관악구
2 임병옥 대한민국 서울특별시 강북구
3 김성찬 대한민국 서울특별시 동작구
4 이진구 대한민국 서울특별시 도봉구
5 신동훈 대한민국 경기도 고양시 일산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영두 대한민국 서울특별시 광진구 아차산로 ***, 민도빌딩 ***호 (구의동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 서울특별시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.09.24 수리 (Accepted) 1-1-2004-0440506-29
2 출원심사청구서
Request for Examination
2005.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2005-0529208-72
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2005-5099978-65
4 등록결정서
Decision to grant
2006.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0484332-17
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.10.18 수리 (Accepted) 4-1-2018-5210254-16
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5244061-76
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번호 청구항
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에피층(22)이 형성된 반도체 기판(21) 위에 초고주파 반도체 소자의 소스 전극 및 드레인 전극용 오믹 금속층(23)을 형성하는 제 1단계; 소스 전극 및 드레인 전극 등의 오믹 전극 사이에 회전식 도포 방법을 사용하여 수소화 실세스퀴옥산(24)을 적층하는 제 2단계; 전자선 묘화 장비를 이용하여 게이트 다리 패턴 부분을 제외한 전면에 수소화 실세스퀴옥산에 전자선(25)을 노광하는 제 3단계; 노광된 수소화 실세스퀴옥산을 현상하여 수소화 실세스퀴옥산 패턴(26)을 형성하는 제 4단계; 반도체 기판 전면에 3층 구조의 양성 레지스트(27)(28)(29)를 도포하는 제 5단계; 1차 노광 및 현상과정으로 게이트 머리 패턴(30)을 형성하는 제 6단계; 2차 노광 및 현상과정으로 게이트 다리 패턴(31)을 형성하는 제 7단계; 게이트 금속(32) 증착 후 레지스트를 제거하는 제 8단계의 과정을 거쳐 제조되는 것을 특징으로 하는 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트의 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 2단계에서 수소화 실세스퀴옥산(24)을 적층하여 초고주파 반도체 소자의 나노미터 급의 게이트(32)를 제작하고, 추가적인 패시베이션 공정 없이 수소화 실세스퀴옥산을 패시베이션용 유전 박막으로 사용함으로써 초고주파 반도체 소자의 게이트 제조와 패시베이션 공정을 동시에 수행하는 것을 특징으로 하는 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트의 제조방법
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청구항 제 1항 또는 제 2항에 따라 제조되어 수소화 실세스퀴옥산 패턴(26)에 맞는 게이트 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트
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청구항 제 1항 또는 제 2항에 따라 제조되어 수소화 실세스퀴옥산 패턴(26)에 맞는 게이트 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 수소화 실세스퀴옥산을 이용한 게이트
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.