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양자점 구조를 갖는 강자성 반도체 제조방법

  • 기술번호 : KST2014029583
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 10-10Torr 이하의 초고진공 상태를 유지하는 MBE 장치 내에서 양자점 구조를 갖는 강자성 반도체 제조방법으로서, 격자구조가 섬아연광 구조인 기판의 온도를 250~350℃의 범위 내의 특정 온도를 유지하면서 상기 기판에 In, As, Mn 결정이 들어 있는 셀을 가열하여 셀로부터 나오는 증기를 분자선의 형태로 조사하여 기판물질과 InMnAs물질과의 격자부정합으로 인한 S-K mode와 Mn의 계면활성 효과 및 핵 역할로 인해서 자발적인 InMnAs 양자점을 성장시키는 단계를 포함하여 구성된다. 상기 기판은 밀러 지수가 100인 GaAs 기판이고, 상기 기판의 온도는 300℃이고 Mn/In 평형 빔 자속비는 0.4인 것이 바람직하다. 본 발명에 따르면 저온에서만 강자성을 띠는 기존의 에피택시 층 구조를 갖는 강자성 반도체와는 달리 상온 이상의 큐리 온도를 갖는 강자성 반도체를 제공할 수 있어 상온소자로서 활용할 수 있을 뿐만 아니라, 양자 컴퓨터를 구현할 수 있는 기본소자로 이용할 수 있는 효과가 있다. 양자점, quantum dot, 강자성, 반도체, 상온, MBE, GaAs, InMnAs
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC H01L 21/324(2013.01) H01L 21/324(2013.01) H01L 21/324(2013.01)
출원번호/일자 1020020079948 (2002.12.14)
출원인 강태원, 전희창
등록번호/일자 10-0499180-0000 (2005.06.24)
공개번호/일자 10-2004-0053398 (2004.06.24) 문서열기
공고번호/일자 (20050701) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.12.14)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 강태원 대한민국 서울특별시 성동구
2 전희창 대한민국 서울특별시 중구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강태원 대한민국 서울 강남구
2 전희창 대한민국 서울특별시 중구
3 정연석 대한민국 서울특별시중구
4 정광조 대한민국 서울특별시중구
5 정광재 대한민국 서울특별시중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박승민 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층(특허법인지명)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 서울특별시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2002-0415584-14
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.09.17 수리 (Accepted) 9-1-2004-0056958-43
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0497790-39
5 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2004.12.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0579391-80
6 의견서
Written Opinion
2004.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2004-0579382-79
7 등록결정서
Decision to grant
2005.05.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0223422-95
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2008-5030362-15
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번호 청구항
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10-10Torr 이하의 초고진공 상태를 유지하는 MBE 장치 내에서 양자점 구조를 갖는 강자성 반도체 제조방법으로서, 격자구조가 섬아연광 구조인 기판의 온도를 250~350℃의 범위 내의 특정 온도를 유지하면서 상기 기판에 In, As, Mn 결정이 들어 있는 셀을 가열하여 셀로부터 나오는 증기를 분자선의 형태로 조사하여 기판물질과 InMnAs물질과의 격자부정합으로 인한 S-K 모드와 Mn의 계면활성 효과(surfactant effect) 및 핵(nuclei) 역할로 인해서 자발적인 InMnAs 양자점을 성장시키는 단계를 포함하여 구성되는, 양자점 구조를 갖는 강자성 반도체 제조방법
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제5항에 있어서, 상기 기판은 밀러 지수가 100인 GaAs 기판인 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 갖는 강자성 반도체
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제5항 또는 제6항에 있어서, Mn/In 평형 빔 자속비(equilibrium beam flux ratio)를 조절함으로써 반도체의 자성의 세기를 조절할 수 있음을 특징으로 하는 양자점 구조를 갖는 강자성 반도체
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제7항에 있어서, 상기 기판의 온도는 300℃이고 Mn/In 평형 빔 자속비(equilibrium beam flux ratio)는 0
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제7항에 있어서, 상기 기판의 온도는 300℃이고 Mn/In 평형 빔 자속비(equilibrium beam flux ratio)는 0
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.