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표면 개질된 고분자 전해질막 및 그의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014030421
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 새로운 표면 개질된 고분자 전해질 막 및 그의 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 출력이 향상되고 메탄올의 투과성이 낮아지도록 전해질 막의 표면이 스크래치 처리되고 금속층이 고르게 코팅된 고분자 전해질 막 및 그의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 제조 방법은 금속층의 코팅 시간, 코팅막 두께, 진공도 및 전류 세기 등을 최적화하여 출력을 100 ~ 170 mW/㎝2 범위로 향상시키고 상온에서의 메탄올 투과율을 1.00 × 10 ㎝2/s 이하로 낮출 수 있는 고분자 전해질 막을 제공함으로써 각종 휴대용 기기에 적용되는 직접 메탄올 연료전지(DMFC)에 매우 효율적으로 사용될 수 있다. 표면 개질된 고분자 전해질 막, 스크래치 처리, 금속층 코팅, 직접 메탄올 연료전지, 낮은 메탄올 투과율
Int. CL H01M 8/02 (2010.01) H01M 8/10 (2010.01)
CPC C08J 5/2287(2013.01) C08J 5/2287(2013.01) C08J 5/2287(2013.01)
출원번호/일자 1020060011723 (2006.02.07)
출원인 건국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0661096-0000 (2006.12.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20061222) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.02.07)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 건국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유영태 대한민국 서울시 광진구
2 이장우 대한민국 서울시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이은철 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)
2 유완식 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, **층 *T 국제특허법률사무소 (역삼동, 여삼빌딩)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 건국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2006-0090346-24
2 등록결정서
Decision to grant
2006.12.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0750729-57
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2006-5183684-86
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2012-5116974-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전해질 막의 표면이 스크래치 처리되고 금속층이 코팅된 표면 개질된 고분자 전해질 막
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 표면은 스크래치 처리되되, #400 ~ 1200 범위의 사포를 사용하여 5 ~ 100 회 범위로 스크래치 되고, 금속층은 50 ~ 300 초 범위의 시간 동안 코팅되는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 금속층은 백금 (Pt), 금 (Au), 은 (Ag), 텅스텐 (W), 팔라디움 (Pd), 및 루비듐 (Ru) 중에서 선택된 하나 이상의 금속이 사용되는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 금속층의 코팅은 DC 스퍼터법 (DC sputter), 이온 코팅법, 열 압착법 (hot pressing), 무전해 도금법 및 전기화학적 도금법 중에서 선택된 하나 이상의 과정을 통하여 이루어진 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 금속층은 1 ㎚ ~ 3 ㎛ 의 두께로 코팅되는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 금속층은 고분자 전해질 막의 애노드 (anode) 면에 코팅되는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
7 7
제 1 항에 있어서,상기 전해질 막은 나피온 (NafionTM), 플레미온 (FlemionTM) 및 아시플렉스 (AciplexTM) 중에서 선택된 하나 이상인 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막
8 8
(1) 전해질 막의 표면을 스크래치 처리하는 단계;(2) 상기 표면의 잔존물을 세척하는 단계; 및(3) 금속층을 코팅하는 단계로 표면 개질하는 고분자 전해질 막의 제조방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 (1) 단계에서 전해질 막의 표면을 스크래치 처리하되, #400 ~ 1200 범위의 사포를 사용하여 5 ~ 100 회 범위로 스크래치 하는 것을 특징으로 하는 고분자 전해질 막의 제조방법
10 10
제 8 항에 있어서, 상기 (2) 단계에서 스크래치 과정에서 남아있는 잔존물을 깨끗이 세척하되, 증류수로 가열하고 과산화수소에 담그고 다시 황산 용액에 담근 다음 증류수로 세척하는 것을 특징으로 하는 고분자 전해질 막의 제조방법
11 11
제 8 항에 있어서, 상기 (3) 단계에서 금속층의 코팅은 이온 코팅기를 이용하여 50 ~ 300 초 범위의 시간 동안 0
12 12
제 8 항에 있어서, 상기 (3) 단계에서 금속층은 1 ㎚ ~ 3 ㎛ 의 두께로 코팅하는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막의 제조방법
13 13
제 8 항에 있어서, 상기 (3) 단계에서 금속층은 고분자 전해질 막의 애노드 (anode) 면에 코팅하는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막의 제조방법
14 14
제 8 항에 있어서, (3) 단계에서 금속층의 코팅은 백금, 금, 은, 텅스텐, 팔라디움 및 루비듐 중에서 선택된 하나 이상의 금속을 사용하는 것을 특징으로 하는 고분자 전해질 막의 제조방법
15 15
제 8 항에 있어서,상기 (3) 단계에서 금속층의 코팅은 DC 스퍼터법 (DC sputter), 이온 코팅법, 열 압착법 (hot pressing), 무전해 도금법 및 전기화학적 도금법 중에서 선택된 하나 이상의 과정을 통하여 이루어진 것을 특징으로 하는 고분자 전해질 막의 제조방법
16 16
제 8 항에 있어서, 상기 전해질 막은 나피온 (NafionTM), 플레미온 (FlemionTM) 및 아시플렉스 (AciplexTM) 중에서 하나 이상 선택하는 것을 특징으로 하는 표면 개질된 고분자 전해질 막의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.