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비정적 양자 비트 위임 처리 방법

  • 기술번호 : KST2014031672
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비정적 양자 비트 위임 처리 방법에 관한 것으로, 신뢰할 수 있는 기관인 양자 얽힘 분배 센터와 양자 얽힘 상태의 비국소성을 이용하여 무조건적 안전성을 보장하고, 사용자들에 의한 구속성 및 비밀성을 모두 만족하며, 양자 얽힘 분배 센터가 위임된 비트에 대한 정보를 사용자들 모르게 획득하지 못하게 함으로써 추가적인 안전성을 보장하고, 엠엘씨의 노-고 정리가 가정으로 두고 있는 양자 비트 위임 프로토콜의 정적성에 해당하지 않는 비-정적성을 제공하며, 동전던지기, 영-지식 증명, 불확정 전송, 증명가능 비밀 분배, 다자간 비밀 계산 등의 수많은 암호 프로토콜에 응용 가능한 이점이 있다. 양자 비트 위임, 양자 얽힘 분배 기관, 유니타리 변환
Int. CL G09C 1/00 (2006.01)
CPC G09C 1/00(2013.01) G09C 1/00(2013.01)
출원번호/일자 1020090119722 (2009.12.04)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0062869 (2011.06.10) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최정운 대한민국 대전광역시 유성구
2 장구영 대한민국 대전광역시 유성구
3 홍도원 대한민국 대전광역시 유성구
4 지동표 대한민국 서울특별시 서초구
5 이수준 대한민국 서울특별시 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)
2 김원준 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.04 수리 (Accepted) 1-1-2009-0750263-40
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
양자 얽힘 분배 기관이 송신기와 공유하고 있는 최대 얽힘 양자 상태를 임의의 측정 방식으로 측정하여 그 측정값에 따라 결정한 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계와, 상기 송신기가 유니타리 변환을 임의로 선택하여 상기 양자 상태에 적용한 후 수신기에게 전송하여 비트를 위임하는 단계와, 상기 비트를 위임한 상기 송신기가 상기 수신기와 동의한 시간까지 홀딩하는 단계와, 상기 송신기가 상기 유니타리 변환의 정보를 상기 수신기에게 공개하고, 상기 양자 얽힘 분배 기관이 상기 측정 방식의 정보 및 상기 측정값을 상기 수신기에게 공개하는 단계를 포함하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계는, 상기 최대 얽힘 양자 상태를 양자 메모리에 보관하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계는, 상기 최대 얽힘 양자 상태에 대해 로컬 측정을 수행하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계는, 상기 로컬 측정을 직교 측정으로 수행하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
5 5
제 3 항에 있어서, 상기 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계는, 상기 로컬 측정을 블로흐 구(bloch sphere)의 특정 서브 사이클(sub-circle) 의 유한 포인트로 제안하여 양자 정보를 이산하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 양자 상태를 상기 송신기에게 제공하는 단계는, 상기 측정값과 반대인 양자 상태를 결정하여 상기 송신기에게 제공하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 비트를 위임하는 단계는, 상기 송신기가 위임하고자 하는 상기 비트에 따라 {, } 또는 {, } 중 하나를 지정하여 이에 속하는 유니타리 변환을 임의로 선택하여 적용하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 비트를 위임하는 단계는, 상기 비트의 정보를 상기 양자 상태에 인코딩하기 위한 양자 게이트를 사용하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 비트를 위임하는 단계는, 상기 양자 상태를 전송하기 위해 광케이블을 이용하거나 대기 중을 통해 직접 전송하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 공개하는 단계는, 상기 수신기가 상기 송신기로부터 받은 양자 상태에 상기 유니타리 변환의 역변환을 적용한 후 상기 측정 방식으로 측정한 값이 상기 양자 얽힘 분배 기관에 의해 공개된 값과 반대임을 확인하여 상기 비트를 검증할 수 있도록 하는 비정적 양자 비트 위임 처리 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.