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진행파를 이용한 표면탄성파 자이로스코프 및 각속도 측정 방법

  • 기술번호 : KST2014033101
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 진행파(Progressive wave)를 이용한 표면 탄성파 (SAW: Surface Acoustic Wave) 자이로스코프 및 각속도 측정 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 코리올리 힘에 의해 유발된 진행파(Progressive wave)의 주파수 변화를 측정하여 80MHz의 동작 주파수를 가지는 초소형 표면 탄성파 (SAW: Surface Acoustic Wave) 자이로스코프 및 각속도 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표면 탄성파 (SAW: Surface Acoustic Wave) 자이로스코프는 정상파(Standing wave)가 아닌 진행파(Progressive wave)를 이용함으로써 별도의 공진기 구동을 위한 VCO(Voltage-controlled oscillator)를 필요로 하지 아니하는바 구조가 간단하고, 저속의 각속도에서도 측정이 가능하며 움직이는 구조체가 필요없고 2차원 평면 가공기술만으로 쉽게 제작이 가능하기 때문에 소형화, 고내충역성, 고기동성, 대량생산이 가능하다는 장점이 있다. 또한 별도의 공진기 구동을 위한 VCO(Voltage-controlled oscillator)를 필요로 하지 않기 때문에 측정회로를 소형으로 간단하게 제작할 수 있으며, 따라서 가격 경쟁력이 있는 자이로스코프의 제작이 가능하게 된다. 진행파(Progressive wave), 코리올리 힘, 표면 탄성파 (SAW: Surface Acoustic Wave), 자이로스코프
Int. CL G01C 19/56 (2006.01) G01C 19/00 (2006.01)
CPC G01C 19/5698(2013.01) G01C 19/5698(2013.01) G01C 19/5698(2013.01) G01C 19/5698(2013.01)
출원번호/일자 1020090076040 (2009.08.18)
출원인 아주대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1083952-0000 (2011.11.09)
공개번호/일자 10-2011-0018537 (2011.02.24) 문서열기
공고번호/일자 (20111116) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.08.18)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 아주대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이기근 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 양상식 대한민국 서울특별시 서초구
3 오해관 대한민국 경기도 수원시 팔달구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤재승 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 덕천빌딩 *층 (역삼동)(예준국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 아주대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2009-0502718-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.12.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.01.14 수리 (Accepted) 9-1-2011-0002407-41
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0154161-73
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2011-0309556-48
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.04.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0309548-83
7 등록결정서
Decision to grant
2011.11.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0649267-80
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2014-5000672-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
진행파(Progressive wave)인 제1표면탄성파를 발생시키고, 소정 위치에 놓인 금속 점 층(Metallic dot layer)에서 상기 제 1표면탄성파의 속도성분과 인가된 각속도의 상호작용으로 코리올리힘(Coriolis force)을 발산시키며, 상기 코리올리힘에 의해 제1표면탄성파의 진행속도를 변화시켜 제2표면탄성파를 발생시키는 표면탄성파센싱발진기 ; 진행파(Progressive wave)인 제3표면탄성파를 발생시키는 표면탄성파기준발진기 ; 및 상기 제3표면탄성파와 상기 제2표면탄성파의 주파수 차이를 측정하여 상기 인가된 각속도 크기를 측정하는 측정회로부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
2 2
제 1항에 있어서, 상기 표면탄성파센싱발진기는 일단에 입력 전극(IDT : Inter Digital Transducer)을 두고 타단에 상기 제 1표면탄성파 및 제 2표면탄성파를 흡수부를 포함하는 2포트 방식이며, 상기 입력 전극과 상기 흡수부 사이에 상기 금속 점 층(Metallic dot layer)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 표면탄성파기준발진기는 일단에 입력 전극(IDT : Inter Digital Transducer)을 두고 타단에 상기 제 3표면탄성파를 흡수부를 포함하는 2포트 방식인것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 표면탄성파센싱발진기와 상기 표면탄성파기준발진기의 중간에 위치하여 상기 제2표면탄성파의 상기 표면탄성파기준발진기로의 진행을 막는 배리어;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 제 1표면 탄성파의 속도성분의 방향과 상기 인가된 각속도의 방향 및 상기 코리올리힘의 방향은 서로 직각 상태에 있는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
6 6
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 입력 전극은 단일위상 한방향 변환기 (SPUDT : Single phase unidirectional transducer)의 구조인 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 표면탄성파센싱발진기 및 상기 표면탄성파기준발진기는 128° YX LiNbO3 의 압전 기판위에 생성된 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 표면탄성파센싱발진기 및 상기 표면탄성파기준발진기의 발진 주파수는 동일한 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 금속 점 층(Metallic dot layer)은 128° YX LiNbO3 의 압전 기판위에 Cr/Au를 리프트-오프(lift-off)공정을 통하여 소정높이로 증착되는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 코리올리힘의 방향과 상기 제2표면탄성파의 진행방향이 일치하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 표면탄성파(SAW) 자이로스코프
11 11
진행파인 제1표면탄성파 및 제3표면탄성파를 각각 생성하는 표면탄성파 생성단계; 소정 위치에 놓인 금속 점 층(Metallic dot layer)에서 상기 제 1표면 탄성파의 속도성분과 인가된 각속도의 상호작용으로 코리올리힘(Coriolis force)을 발산시키는 코리올리힘 생성단계; 상기 코리올리힘에 의해 상기 제1표면탄성파의 진행속도를 변화시켜 제2표면탄성파를 생성하는 제 2표면 탄성파 생성단계; 및 상기 제3표면탄성파와 상기 제2표면탄성파의 주파수 차이를 측정하여 상기 인가된 각속도 크기를 측정하는 각속도 측정 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 제 1 표면탄성파는 일단에 입력 전극(IDT : Inter Digital Transducer)을 타단에 상기 제 1 표면탄성파를 흡수하는 흡수부를 위치시키고, 상기 입력 전극과 상기 흡수부 사이에 상기 금속 점 층(Metallic dot layer)이 놓인 표면탄성파 센싱발진기로부터 생성되는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
13 13
제 11 항에 있어서, 상기 제 3 표면탄성파는 일단에 입력 전극(IDT : Inter Digital Transducer)을 타단에 상기 제 3 표면탄성파를 흡수하는 흡수부를 위치시킨 표면탄성파기준발진기로부터 생성되는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
14 14
제 11 항에 있어서, 상기 제2표면탄성파가 상기 제3표면탄성파에 간섭을 일으키지 않게 하는 제 2표면탄성파 흡수단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
15 15
제 11 항에 있어서, 상기 제 1표면 탄성파의 속도성분의 방향과 상기 인가된 각속도의 방향 및 상기 코리올리힘의 방향은 서로 직각 상태에 있는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
16 16
제 12항 또는 제 13항 에 있어서, 상기 입력 전극은 단일위상 한방향 변환기 (SPUDT : Single phase unidirectional transducer)의 구조인 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
17 17
제 12 항에 있어서, 상기 표면탄성파센싱 발진기는 128° YX LiNbO3 의 압전 기판위에 생성된 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
18 18
제 13 항에 있어서, 상기 표면탄성파기준 발진기는 128° YX LiNbO3 의 압전 기판위에 생성된 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
19 19
제 11 항에 있어서, 상기 금속 점 층(Metallic dot layer)은 128° YX LiNbO3 의 압전 기판위에 Cr/Au를 리프트-오프(lift-off)공정을 통하여 소정높이로 증착되는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
20 20
제 11 항에 있어서, 상기 코리올리힘의 방향과 상기 제2표면탄성파의 진행방향이 일치하는 것을 특징으로 하는 진행파를 이용한 각속도 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.