맞춤기술찾기

이전대상기술

전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극과 이를 이용한전기화학적 전위 자동보정 장치

  • 기술번호 : KST2014033521
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기화학 측정에서 사용되는 기준전극 (reference electrode)의 정확도를 장기간 유지할 수 있는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극과 이를 이용한 전기화학적 전위 자동보정 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극은 일단에 전해질 분리막이 형성되고, 내부에 분광활성물질 및 전극전해질 용액이 충진되는 전극외부체, 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되는 내부전극 및 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되며, 상기 전극전해질 용액으로 분석광을 출력하거나, 반사된 광파를 수집하는 흡광도 측정 탐침을 포함하여 구성되어, 기준전극 내부 전해질에 분광활성물질을 혼합 용해시켜 전해질의 흡광도로부터 염소 이온과 같은 내부 전해질의 전극반응 물질의 농도를 산출하는 특징을 가지고 있으므로, 장기간 시험환경에 노출되어 전극 내부용액의 농도가 변화하더라도 기준전극의 전위변화를 적절하게 보정할 수 있으며, 장기간 기준전극의 기능을 유지하고 전극 안정성을 감지할 수 있는 효과가 있다. 전기화학, 기준전극, 내부전극, 자동 보정, 전해질, 흡광도, 분광활성물질
Int. CL H01M 4/02 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080048384 (2008.05.26)
출원인 한국원자력연구원, 한국수력원자력 주식회사
등록번호/일자 10-0974565-0000 (2010.08.02)
공개번호/일자 10-2009-0122522 (2009.12.01) 문서열기
공고번호/일자 (20100806) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.05.26)
심사청구항수 22

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 경상북도 경주시

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연제원 대한민국 대전 유성구
2 최인규 대한민국 대전시 유성구
3 김원호 대한민국 대전시 유성구
4 송규석 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 경상북도 경주시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2008-0369996-15
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2008-5145739-98
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.12.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.01.12 수리 (Accepted) 9-1-2009-0001786-03
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0278180-70
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.07.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0435122-80
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.07.06 수리 (Accepted) 1-1-2010-0435120-99
8 등록결정서
Decision to grant
2010.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0331524-61
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2010-5177354-66
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.03.18 수리 (Accepted) 4-1-2016-5034922-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
일단에 전해질 분리막이 형성되고, 내부에 분광활성물질 및 전극전해질 용액이 충진되는 전극외부체; 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되는 내부전극; 및 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되며, 상기 전극전해질 용액으로 분석광을 출력하거나, 반사된 광파를 수집하는 흡광도 측정 탐침을 포함하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 분광활성물질은 적외선, 자외선, 가시광선 중 어느 하나 이상의 빛을 흡수하는 화학성분을 포함하는 물질인 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 흡광도 측정 탐침의 출력 분석광의 파장은 140 ∼ 5,000 nm 인 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 10 wt% 이하인 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 1
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 0
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 흡광도 측정 탐침은 광섬유 (optical fiber), 광 튜브 (capillary optical tube), 분광 반사경 (optical reflector), 빛이 전해질을 투과할 수 있게 하는 분광 셀 (optical cell) 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
8 8
청구항 1에 있어서, 상기 내부전극은 금속, 전도성 비금속, 금속 염화물, 금속 산화물 및 금속 황화물 중 하나 이상을 포함하는 재료로 형성된 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
9 9
청구항 8에 있어서, 상기 금속 및 전도성 비금속 재료는 은(Ag), 수은(Hg), 구리(Cu), 백금(Pt), 금(Au), 니켈(Ni), 티타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 유리질 탄소(Glassy Carbon), 흑연(Graphite) 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 전해질 내 분광활성물질이 함유된 기준전극
10 10
일단에 전해질 분리막이 형성되고, 내부에 분광활성물질 및 전극전해질 용액이 충진되는 전극외부체, 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되는 내부전극 및 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되며, 상기 전극전해질 용액으로 분석광을 출력하거나, 반사된 광파를 수집하는 흡광도 측정 탐침을 포함하는 기준전극; 상기 흡광도 측정 탐침으로 수집된 광파의 스펙트럼 파장을 분석하여 흡광도를 측정하는 분광측정기; 및 상기 분광측정기로 측정된 흡광도에 따라 상기 기준전극의 기준전위 변화에 관한 보정신호를 출력하는 기준전위 교정기;를 포함하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
11 11
일단에 전해질 분리막이 형성되고, 내부에 분광활성물질 및 전극전해질 용액이 충진되는 전극외부체, 상기 전극외부체에 설치되며 상기 전극전해질 용액에 잠기게 형성되는 내부전극을 포함하는 기준전극; 상기 기준전극으로 분석광을 주사하는 광원; 상기 광원에서 나와 상기 기준전극의 내부 전극전해질을 통과한 광파를 수집하는 광검출기; 상기 광검출기로 수집된 광파의 스펙트럼 파장을 분석하여 흡광도를 측정하는 분광측정기; 및 상기 분광측정기로 측정된 흡광도에 따라 상기 기준전극의 기준전위 변화에 관한 보정신호를 출력하는 기준전위 교정기;를 포함하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
12 12
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광활성물질은 적외선, 자외선, 가시광선 중 어느 하나 이상의 빛을 흡수하는 화학성분을 포함하는 물질인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
13 13
청구항 10 에 있어서, 상기 흡광도 측정 탐침의 출력 분석광의 파장은 140 ∼ 5,000 nm 인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
14 14
청구항 11 에 있어서, 상기 광원의 출력 분석광의 파장은 140 ∼ 5,000 nm 인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
15 15
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 10 wt% 이하인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
16 16
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 1
17 17
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광활성물질의 초기 농도는 0
18 18
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광측정기의 측정 파장 영역은 150 ∼ 2,400 nm 범위인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
19 19
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 분광측정기의 측정 파장 영역은 200 ∼ 1,600 nm 범위인 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
20 20
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 기준전위 교정기는 상기 분광측정기로 측정된 흡광도를 이용하여 상기 전극전해질의 농도변화를 계산하고, 상기 농도변화에 따른 기준전위의 변화를 계산하는 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
21 21
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서, 상기 기준전위 교정기는 상기 분광측정기로 측정된 흡광도의 대수값과 기준전위의 선형 관계를 이용하여, 상기 기준전극의 기준전위 변화를 계산하는 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
22 22
청구항 11에 있어서, 상기 전극외부체는 투명한 재질의 재료로 형성되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 전위 자동보정 장치
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP04830002 JP 일본 FAMILY
2 JP21288240 JP 일본 FAMILY
3 US08016992 US 미국 FAMILY
4 US20090288949 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2009288240 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP4830002 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 US2009288949 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US8016992 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.