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광물의 정성 또는 정량분석을 하기 위한 X선 회절분석시, 측정대상 시료(S)가 부정방위 상태로 홀더에 충진될 수 있도록 하기 위해,
시료가 충진되는 충진부(11)가 일면에 형성되는 홀더(10)와;
상기 충진부(11)가 형성된 홀더(10)의 일면에 대응되며 밀착되는 보호부재(20)와;
상기 충진부(11)의 입구(12)에 대응되도록 배출구(32)가 위치되는 유도부재(30)와;
상기 홀더(10), 보호부재(20), 유도부재(30)를 상호간 밀착하여 직립설치시키는 고정부재(40)와;
상기 유도부재(30)의 상부에 위치되어, 측정대상 시료(S)가 불규칙하게 분산 낙하 될 수 있도록 하는 거름부재(50);
로 구성되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치
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제 1항에 있어서,
상기 유도부재(30)는
상기 보호부재(20)의 일면에 밀착되는 연장편(33)을 배출구(32)측에 형성하며, 상기 유도부재(30)의 배출구(32) 형상은 충진부(11)의 입구(12)와 대응되는 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치
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제 2항에 있어서,
상기 고정부재(40)는
상기 충진부(11)의 입구(12)가 형성된 반대측에서 홀더(10), 보호부재(20), 연장편(33)을 집어, 상기 충진부(11)의 입구(12)가 상부를 향하도록 홀더(10)를 직립으로 설치고정함으로써, 상기 거름부재(50)와 유도부재(30)를 거친 측정대상 시료(S)가 충진부(11)에 수직방향으로 불규칙하게 분산 낙하되며 충진될 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치
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제 1항에 있어서,
X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치는
상기 충진부(11)에 측정대상 시료(S)가 충진시킨 후, 측정대상 시료(S)의 측정을 위해 보호부재(20)와 유도부재(30)를 제거하게 되는 경우, 상기 충진부(11)에서 X선이 측정되는 면적의 시료 일부만을 남기고 나머지 측정대상 시료(S)를 제거한 후, 측정대상 시료(S)가 제거된 부분에는 시료가 외부 충격에 흔들리지 않도록 충진부(11)의 입구(12)에 수평 높이 조절부재(60)를 삽입 설치하는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치
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제 1항에 있어서,
X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치는
상기 측정대상 시료(S)로 5 내지 10 마이크로미터(㎛)로 분쇄된 광물이 사용되며, 상기 측정대상 시료(S)가 통과될 수 있도록 300 마이크로미터 크기의 메쉬를 가지는 거름부재(50)가 사용되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치
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