요약 | 본 발명은 광학식 표면 측정 장치 및 방법에 관한 것으로서, 측정대상물의 표면에서 각 지점의 미세한 높이변화(단차)나 돌출, 요입, 표면손상, 표면거칠기 등의 표면 상태를 광학식으로 정확히 측정할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 기존 간섭계의 2π-모호성과 포커스 에러 시그널의 한계를 극복하기 위해 간섭계의 신호 및 PSD(Position Sensitive Detector)의 포커스 에러 시그널을 함께 이용함으로써, 측정대상물의 미세한 표면 상태를 보다 정확히 측정할 수 있는 광학식 표면 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 간섭계, PSD, 포토다이오드, 비점수차, 포커스 에러 시그널, FES |
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Int. CL | G01B 11/24 (2006.01) G01B 11/25 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020090017175 (2009.02.27) |
출원인 | 서강대학교산학협력단, 연세대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1085014-0000 (2011.11.14) |
공개번호/일자 | 10-2010-0098152 (2010.09.06) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20111121) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2009.02.27) |
심사청구항수 | 11 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 서강대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 |
2 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이승엽 | 대한민국 | 서울특별시 용산구 |
2 | 김경업 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 |
3 | 김재현 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 |
4 | 조규만 | 대한민국 | 서울특별시 강북구 |
5 | 박영규 | 대한민국 | 인천광역시 남구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한라특허법인(유한) | 대한민국 | 서울시 서초구 강남대로 ***(서초동, 남강빌딩 *층) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 서강대학교산학협력단 | 서울특별시 마포구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2009.02.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0124844-06 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2009.04.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0239080-94 |
3 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 [Appointment of Agent] Report on Agent (Representative) |
2009.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0587403-66 |
4 | [출원인변경]권리관계변경신고서 [Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status |
2009.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0587770-07 |
5 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2009.09.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0602580-26 |
6 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2010.12.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
7 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.01.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0001821-62 |
8 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.01.19 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0034614-73 |
9 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.03.21 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0204580-50 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.03.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0204579-14 |
11 | 등록결정서 Decision to grant |
2011.09.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0554243-90 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.12.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5252006-10 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
16 | 대리인선임신고서 Report on Appointment of Agent |
2015.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-5033520-42 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.01.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5005781-67 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.01.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5014626-89 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 측정대상물(1) 표면에 레이저광을 조사하고 상기 표면에서 반사된 레이저광을 입력받아 표면과의 거리에 따른 간섭신호를 출력하는 간섭계(13)와; 상기 간섭계(13)에서 조사된 레이저광을 투과시켜 측정대상물 표면의 측정지점에 초점을 형성하기 위한 오브젝트 렌즈(3)와; 측정대상물(1)의 위치 조정을 위한 전동스테이지(2)와; 측정대상물 표면에서 반사된 레이저광을 분리하는 빔스플리터(4)와; 상기 빔스플리터(4)에서 분리된 레이저광을 집광시키는 콜리매터 렌즈(5)와; 상기 콜리매터 렌즈(5)에 의해 집광된 레이저광을 통과시켜 비점수차를 발생시키는 비점수차 렌즈(6)와; 상기 비점수차 렌즈(6)를 통과한 레이저광을 입력받아 측정대상물 표면과의 거리에 따른 FE(Focus Error) 신호를 출력하는 FE 신호출력부와; 상기 간섭계(13)로부터 출력되는 간섭신호와 상기 FE 신호출력부에서 출력되는 FE 신호를 입력받아 이를 기초로 거리변화를 연산하고 그로부터 표면 단차를 포함하는 표면 상태 정보를 획득하는 제어부(12); 를 포함하는 광학식 표면 측정 장치 |
2 |
2 청구항 1에 있어서, 상기 FE 신호출력부는, 상기 측정대상물 표면과의 거리에 따른 광량을 검출하는 PSD(Position Seinsitive Detector)와; 상기 PSD에서 검출된 광량 신호를 FE 신호로 변환시키는 연산자(8,9,10)와; 상기 연산자(8,9,10)를 통해 출력되는 아날로그 FE 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 컨버터(11); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 장치 |
3 |
3 청구항 2에 있어서, 상기 PSD는 광량 검출을 위한 4분할 포토다이오드(4D-PD)(7)를 포함하고, 상기 4분할 포토다이오드에서 분할된 포토다이오드 영역별로 출력되는 신호가 상기 연산자(8,9,10)에 의해 조합되어 FE 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 장치 |
4 |
4 청구항 2에 있어서, 상기 PSD는 4분할 가능한 포토다이오드 어레이 또는 CCD 어레이를 포함하고, 4분할된 각 영역의 소자로부터 출력되는 신호가 상기 연산자(8,9,10)에 의해 조합되어 FE 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 장치 |
5 |
5 청구항 1에 있어서, 상기 제어부(12)로부터 출력되는 표면 상태 정보를 표시하여 주는 디스플레이(14)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 장치 |
6 |
6 (a) 간섭계로부터 전동스테이지에 고정된 측정대상물 표면 내 기준점으로 레이저광이 조사되는 단계와; (b) 오브젝트 렌즈를 통해 측정대상물 표면의 기준점에 레이저광의 초점이 형성된 상태에서 상기 전동스테이지에 고정된 측정대상물을 광축 방향으로 이동시키는 단계와; (c) 측정대상물의 이동 동안 상기 표면에서 반사된 레이저광이 빔스플리터를 거쳐 간섭계로 입력되고, 동시에 상기 빔스플리터에서 분리된 레이저광이 콜리매터 렌즈 및 비점수차 렌즈를 통과하여 FE 신호출력부로 입력되는 단계와; (d) 표면상태 획득을 위한 제어부가 상기 간섭계에서 표면과의 거리에 따른 간섭신호와 상기 FE 신호출력부에서 표면과의 거리에 따른 FE(Focus Error) 신호를 동시에 입력받아 두 신호로부터 참조데이터를 획득하여 저장하는 단계와; (e) 레이저광을 조사하되, 측정대상물을 광축 방향의 수직방향으로 이동시켜 표면 내에서의 측정지점을 이동하는 동시에 상기 제어부가 간섭계의 간섭신호와 FE 신호출력부의 FE 신호를 입력받아 상기 간섭신호 및 FE 신호, 상기 참조데이터를 기초로 거리변화를 연산하고 그로부터 표면 단차를 포함하는 표면 상태 정보를 획득하는 단계; 를 포함하는 광학식 표면 측정 방법 |
7 |
7 청구항 6에 있어서, 상기 제어부는 상기 간섭계의 간섭신호로부터 얻어지는 일정 주기를 갖는 거리변화 신호를 상기 FE 신호와 중첩시켜 두 신호값이 일치하는 값들을 상기 참조데이터로 획득하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 방법 |
8 |
8 청구항 7에 있어서, 상기 두 신호값이 일치하는 값들은 상기 거리변화 신호의 각 주기마다 얻어지는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 방법 |
9 |
9 청구항 7에 있어서, 상기 제어부는 (d) 단계에서 상기 두 신호값이 일치하는 값들을 임계값으로 사용하여 FE 신호값을 임계값들과 비교한 후 특정 상, 하 임계값 사이에 위치됨을 판별하여, 임계값 사이의 각 구간별로 미리 정해진 n 값들 중 판별된 상, 하 임계값 사이 구간에 상응하는 n 값을 산출하고, 산출된 상기 n 값과 상기 간섭신호로부터 얻은 거리변화값을 이용하여 실제 거리변화값을 연산하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 방법 |
10 |
10 청구항 9에 있어서, 상기 n 값과 상기 간섭신호로부터 얻은 거리변화값을 이용하여 하기 식(1)로부터 실제 거리변화값을 연산하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 방법 |
11 |
11 청구항 6에 있어서, 측정자로 하여금 측정결과를 확인할 수 있도록 디스플레이에 의해 상기 제어부로부터 출력되는 표면 상태 정보가 표시되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학식 표면 측정 방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP22204085 | JP | 일본 | FAMILY |
2 | US08289525 | US | 미국 | FAMILY |
3 | US20100220337 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP2010204085 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
2 | US2010220337 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
3 | US8289525 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 서울시정개발연구원 | 연세대학교 산학협력단 | 기술기반구축사업 | 나노기술을 이용한 바이오 융합산업 혁신 클러스터 |
특허 등록번호 | 10-1085014-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20090227 출원 번호 : 1020090017175 공고 연월일 : 20111121 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20110928 청구범위의 항수 : 11 유별 : G01B 11/24 발명의 명칭 : 광학식 표면 측정 장치 및 방법 존속기간(예정)만료일 : 20191115 |
순위번호 | 사항 |
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1 |
(권리자) 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구... |
1 |
(권리자) 서강대학교산학협력단 서울특별시 마포구... |
2 |
(의무자) 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구... |
2 |
(권리자) 서강대학교산학협력단 서울특별시 마포구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 237,000 원 | 2011년 11월 15일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 197,400 원 | 2014년 11월 17일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 209,240 원 | 2016년 01월 05일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 221,080 원 | 2017년 02월 24일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 362,600 원 | 2017년 10월 23일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 274,540 원 | 2018년 12월 26일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2009.02.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0124844-06 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2009.04.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0239080-94 |
3 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 | 2009.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0587403-66 |
4 | [출원인변경]권리관계변경신고서 | 2009.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0587770-07 |
5 | [출원서등 보정]보정서 | 2009.09.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0602580-26 |
6 | 선행기술조사의뢰서 | 2010.12.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
7 | 선행기술조사보고서 | 2011.01.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0001821-62 |
8 | 의견제출통지서 | 2011.01.19 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0034614-73 |
9 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.03.21 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0204580-50 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.03.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0204579-14 |
11 | 등록결정서 | 2011.09.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0554243-90 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.12.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5252006-10 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
16 | 대리인선임신고서 | 2015.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-5033520-42 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.01.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5005781-67 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.01.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5014626-89 |
기술번호 | KST2014034458 |
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자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 서강대학교 |
기술명 | 광학식 표면 측정 장치 및 방법(OPTICAL SURFACE MEASURING APPARATUS AND METHOD) |
기술개요 |
본 발명은 광학식 표면 측정 장치 및 방법에 관한 것으로서, 측정대상물의 표면에서 각 지점의 미세한 높이변화(단차)나 돌출, 요입, 표면손상, 표면거칠기 등의 표면 상태를 광학식으로 정확히 측정할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 기존 간섭계의 2π-모호성과 포커스 에러 시그널의 한계를 극복하기 위해 간섭계의 신호 및 PSD(Position Sensitive Detector)의 포커스 에러 시그널을 함께 이용함으로써, 측정대상물의 미세한 표면 상태를 보다 정확히 측정할 수 있는 광학식 표면 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 간섭계, PSD, 포토다이오드, 비점수차, 포커스 에러 시그널, FES |
개발상태 | 기술개발진행중 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 표면측정 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 라이센스 |
사업화적용실적 | 해당사항 없음 |
도입시고려사항 | 상용화를 위한 기술지도 가능 |
과제고유번호 | 1345096262 |
---|---|
세부과제번호 | 과09A1113 |
연구과제명 | 글로벌물리인력양성사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서강대학교 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200903~201302 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | 기타 |
과제고유번호 | 1345096271 |
---|---|
세부과제번호 | 핵C6A1103 |
연구과제명 | 의공학응용바이오센서및액츄에이터사업팀 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서강대학교 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | BT(생명공학기술) |
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