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광학면을 구비한 복수의 광학소자 사이를 광정렬하는 광정렬 장치로서,
마이크로미터를 포함하는 바(bar) 형상의 경통(100)과,
상기 바 형상의 경통(100) 내부에 설치된 광도파로(60)와 상기 경통(100)의
제2광학소자측 단면에 위치한 렌즈 시스템(70)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 광정렬 장치
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제 1 항에 있어서,
상기 경통(100)은 열 및 압력에 강한 스테인레스 스틸의 재질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광정렬 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 경통(100)은 길이조절이 가능하고, 상기 광도파로(60)는 상기 경통의 최대 길이까지 플렉서블하게 연장되는 것을 특징으로 하는 광정렬 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 광도파로(60)와 렌즈 시스템(70)은 광로를 형성하고, 상기 렌즈 시스템(70)은 상기 경통(100)의 일단부에 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광정렬 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 광도파로(60) 표면에 반사 부재가 장착되는 것을 특징으로 하는 광 정렬 장치
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복수의 광학소자 사이를 광정렬하는 광정렬 방법에 있어서,
복수의 광학소자 중 제 1 광학소자를 통과하고 광도파로(60)의 일단면 또는 광도파로 표면에 형성된 반사 부재에 의해서 반사되어 상기 제 1 광학소자(10)를 통과하여 되돌아온 빛의 세기를 측정하는 제 1 광 세기 측정 단계;
상기 제 1광 세기가 최대가 되도록 광도파로(60)와 렌즈시스템(70)으로 구성된 경통(100)을 조절하여 경통의 타단부를 위치시키는 단계;
상기 경통(100)을 통과하여 상기 제 1 광학소자(10)에 인접하여 광정렬이 이루어지는 제 2 광학소자(20)의 표면에서 반사되어 상기 경통(100)과 제 1 광학소자(10)를 통과하여 되돌아온 빛의 세기를 측정하는 제 2 광 세기 측정 단계;
상기 제 2 광 세기가 최대가 되도록 상기 경통을 조절하여 경통의 일단부를 위치시키는 단계를 포함하는 광정렬 방법
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복수의 광학소자 사이를 광정렬하는 광정렬 방법에 있어서,
복수의 광학소자 중 제 1 광학소자(10)를 통과하고 광도파로(60)의 일단면 또는 광도파로 표면에 형성된 반사 부재에 의해서 반사되어 상기 제 1 광학소자(10)를 통과하여 되돌아온 빛을 간섭계(40)를 사용하여 간섭무늬를 측정하는 제 1 간섭무늬 측정 단계;
상기 제 1 간섭무늬가 나타나도록 광도파로(60)와 렌즈시스템(70)으로 구성된 경통(100)을 조절하는 경통의 타단부를 위치시키는 단계;
상기 경통(100)을 통과하여 상기 제 1 광학소자(10)에 인접하여 광정렬이 이루어지는 제 2 광학소자(20)의 표면에서 반사되어 상기 경통(100)과 제 1 광학소자(10)를 통과하여 되돌아온 빛을 간섭계(40)를 사용하여 제 2 간섭무늬를 측정하는 제 2 간섭무늬 측정 단계;
상기 제 2 간섭무늬가 나타나도록 상기 경통을 조절하여 경통의 일단부를 위치시키는 단계를 포함하는 광정렬 방법
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