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위성체 얼라인먼트 측정 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2014034639
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위성체 얼라인먼트 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 위성체를 탑재하여 회전각도를 변화시킬 수 있는 회전 테이블, 지구 중력방향의 지지대에 고정되며 레벨링되는 반사경, 상기 지지대와 이격된 위치에 고정 설치되는 수직툴링바, 상기 수직툴링바에 상하 수직 이동 가능하게 설치되고 상기 반사경과 자동 시준하여 기준각을 설정하고, 제1 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제1 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 기준 데오드라이트, 이동 가능 스탠드에 설치되며 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준 가능하여 제2 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제2 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 이동용 데오드라이트, 상기 회전각도, 상기 기준각, 상기 제1 측정 대상의 면경 각도, 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 이용하여 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산하는 데이터 처리부를 포함한다. 이로 인해, 본 발명에서는 위성체에 설치되는 센서 및 장비들의 방향성을 계산할 수 있고, 복수의 데오드라이트를 상호 시준하여 동시에 하나 이상의 센서 및 장비들의 방향성을 측정하여 측정 시간을 단축할 수 있는 효과를 기대할 수 있다. 위성체, 얼라인먼트, 데오드라이트, 반사경, 수직툴링바
Int. CL G01C 9/00 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) B64G 1/22 (2006.01) B64G 1/24 (2006.01)
CPC G01B 11/27(2013.01) G01B 11/27(2013.01) G01B 11/27(2013.01) G01B 11/27(2013.01)
출원번호/일자 1020080138132 (2008.12.31)
출원인 한국항공우주연구원
등록번호/일자 10-1059435-0000 (2011.08.19)
공개번호/일자 10-2010-0079599 (2010.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20110825) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.12.31)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최정수 대한민국 대전광역시 동구
2 조영호 대한민국 대전광역시 유성구
3 윤용식 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2008-0909814-47
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.05.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.06.16 수리 (Accepted) 9-1-2010-0036668-46
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.02.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0091696-76
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2011-0278832-28
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.04.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0278834-19
7 등록결정서
Decision to grant
2011.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0457650-61
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
위성체에 설치되는 면경이 부착된 복수의 측정 대상의 얼라인먼트를 측정하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템에 있어서, 바닥에 기저부가 고정되고 상기 위성체를 탑재하여 회전각도를 변화시킬 수 있는 회전 테이블, 지구 중력방향의 지지대에 고정되며 레벨링되는 반사경, 상기 지지대와 이격된 위치에 고정 설치되는 수직툴링바, 상기 수직툴링바에 상하 수직 이동 가능하게 설치되고 상기 반사경과 자동 시준하여 기준각을 설정하고, 제1 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제1 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 기준 데오드라이트, 이동 가능 스탠드에 설치되며 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준 가능하여 제2 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제2 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 이동용 데오드라이트, 그리고 상기 회전각도, 상기 기준각, 상기 제1 측정 대상의 면경 각도, 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 이용하여 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산하는 데이터 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
2 2
제1항의 상기 데이터 처리부가 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산함에 있어서, 상기 기준 데오드라이트는 상기 반사경과 자동 시준한 기준각을 상기 이동용 데오드라이트와 공유하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
3 3
제1항에 있어서, 상기 이동 가능 스탠드에 설치되는 상기 이동용 데오드라이트는 복수개로서 상호 시준하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
4 4
제1항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경을 자동 시준한 상태에서 상기 기준 데오드라이트에서 측정된 상기 제1 면경 각도가 An 일 때, 상기 제1 면경의 실제 각도(An*)를 An*=An-Rn 와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
5 5
제1항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경이 자동 시준한 각도가 An_Ⅰ 이고, 상기 기준 데오드라이트에서 상기 이동용 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 An_Ⅱ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 제2 면경과 자동 시준한 각도가 Bn_Ⅰ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 Bn_Ⅱ 일 때, 상기 이동용 데오드라이트의 기준각(Bn*)을 Bn* = Bn_Ⅱ + 180°+ An_Ⅰ-An_Ⅱ- Rn와 같이 계산하고, 상기 제2 면경의 실제 각도(Sn)를 Sn = Bn_Ⅰ- Bn*와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
6 6
제1항에 있어서, 상기 수직툴링바는 상기 기준 데오드라이트를 바닥면으로부터 0
7 7
제1항에 있어서, 상기 이동 가능 스탠드의 높이는 상기 수직툴링바의 높이보다 낮은 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
8 8
수직툴링바에 설치되는 기준 데오드라이트와 적어도 하나 이상의 이동용 데오드라이트를 이용하여 위성체에 설치되는 복수의 측정 대상의 얼라인먼트를 측정하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법에 있어서, (a) 상기 위성체가 설치되는 회전 테이블의 회전각도를 변화시켜 상기 위성체를 회전하는 단계, (b) 제1 측정 대상의 면경과 상기 기준 데오드라이트를 자동 시준하여 상기 제1 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 단계, (c) 상기 이동용 데오드라이트와 제2 측정 대상의 면경을 자동 시준하여 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 단계, (d) 지구 중력방향에 대해 레벨링되는 반사경과 상기 기준 데오드라이트를 자동 시준하여 기준각을 읽어들이는 단계, (e) 상기 기준 데오드라이트와 상기 이동용 데오드라이트를 상호 시준하여 상기 기준각을 공유하는 단계, 그리고 (f) 상기 회전각도, 상기 기준각, 상기 제1 측정 대상의 면경 각도, 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 이용하여 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산하는 단계를 포함하며, 상기 (a) 단계에서 (f) 단계를 반복 수행하여 상기 위성체에 설치되는 상기 측정 대상들의 얼라인먼트를 측정하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
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제8항에 있어서, 상기 (f) 단계에서는, 상기 회전 테이블이 n번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경을 자동 시준한 상태에서 상기 기준 데오드라이트에서 측정된 상기 제1 면경 각도가 An 일 때, 상기 제1 면경의 실제 각도(An*)를 An*=An-Rn 와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
10 10
제8항에 있어서, 상기 (f) 단계에서는, 상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경이 자동 시준한 각도가 An_Ⅰ 이고, 상기 기준 데오드라이트에서 상기 이동용 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 An_Ⅱ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 제2 면경과 자동 시준한 각도가 Bn_Ⅰ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 Bn_Ⅱ 일 때, 상기 이동용 데오드라이트의 기준각(Bn*)을 Bn* = Bn_Ⅱ + 180°+ An_Ⅰ-An_Ⅱ- Rn와 같이 계산하고, 상기 제2 면경의 실제 각도(Sn)를 Sn = Bn_Ⅰ- Bn*와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.