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위성체에 설치되는 면경이 부착된 복수의 측정 대상의 얼라인먼트를 측정하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템에 있어서,
바닥에 기저부가 고정되고 상기 위성체를 탑재하여 회전각도를 변화시킬 수 있는 회전 테이블,
지구 중력방향의 지지대에 고정되며 레벨링되는 반사경,
상기 지지대와 이격된 위치에 고정 설치되는 수직툴링바,
상기 수직툴링바에 상하 수직 이동 가능하게 설치되고 상기 반사경과 자동 시준하여 기준각을 설정하고, 제1 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제1 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 기준 데오드라이트,
이동 가능 스탠드에 설치되며 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준 가능하여 제2 측정 대상의 면경과 자동 시준하여 제2 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 이동용 데오드라이트, 그리고
상기 회전각도, 상기 기준각, 상기 제1 측정 대상의 면경 각도, 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 이용하여 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산하는 데이터 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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제1항의 상기 데이터 처리부가 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산함에 있어서,
상기 기준 데오드라이트는 상기 반사경과 자동 시준한 기준각을 상기 이동용 데오드라이트와 공유하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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제1항에 있어서,
상기 이동 가능 스탠드에 설치되는 상기 이동용 데오드라이트는 복수개로서 상호 시준하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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제1항에 있어서,
상기 데이터 처리부는,
상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경을 자동 시준한 상태에서 상기 기준 데오드라이트에서 측정된 상기 제1 면경 각도가 An 일 때, 상기 제1 면경의 실제 각도(An*)를 An*=An-Rn 와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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5
제1항에 있어서,
상기 데이터 처리부는,
상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경이 자동 시준한 각도가 An_Ⅰ 이고, 상기 기준 데오드라이트에서 상기 이동용 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 An_Ⅱ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 제2 면경과 자동 시준한 각도가 Bn_Ⅰ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 Bn_Ⅱ 일 때, 상기 이동용 데오드라이트의 기준각(Bn*)을 Bn* = Bn_Ⅱ + 180°+ An_Ⅰ-An_Ⅱ- Rn와 같이 계산하고,
상기 제2 면경의 실제 각도(Sn)를 Sn = Bn_Ⅰ- Bn*와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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제1항에 있어서,
상기 수직툴링바는 상기 기준 데오드라이트를 바닥면으로부터 0
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제1항에 있어서,
상기 이동 가능 스탠드의 높이는 상기 수직툴링바의 높이보다 낮은 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 시스템
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8
수직툴링바에 설치되는 기준 데오드라이트와 적어도 하나 이상의 이동용 데오드라이트를 이용하여 위성체에 설치되는 복수의 측정 대상의 얼라인먼트를 측정하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법에 있어서,
(a) 상기 위성체가 설치되는 회전 테이블의 회전각도를 변화시켜 상기 위성체를 회전하는 단계,
(b) 제1 측정 대상의 면경과 상기 기준 데오드라이트를 자동 시준하여 상기 제1 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 단계,
(c) 상기 이동용 데오드라이트와 제2 측정 대상의 면경을 자동 시준하여 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 측정하는 단계,
(d) 지구 중력방향에 대해 레벨링되는 반사경과 상기 기준 데오드라이트를 자동 시준하여 기준각을 읽어들이는 단계,
(e) 상기 기준 데오드라이트와 상기 이동용 데오드라이트를 상호 시준하여 상기 기준각을 공유하는 단계, 그리고
(f) 상기 회전각도, 상기 기준각, 상기 제1 측정 대상의 면경 각도, 상기 제2 측정 대상의 면경 각도를 이용하여 상기 제1 및 제2 측정 대상의 방향성을 계산하는 단계를 포함하며,
상기 (a) 단계에서 (f) 단계를 반복 수행하여 상기 위성체에 설치되는 상기 측정 대상들의 얼라인먼트를 측정하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
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제8항에 있어서,
상기 (f) 단계에서는,
상기 회전 테이블이 n번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경을 자동 시준한 상태에서 상기 기준 데오드라이트에서 측정된 상기 제1 면경 각도가 An 일 때, 상기 제1 면경의 실제 각도(An*)를 An*=An-Rn 와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
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제8항에 있어서,
상기 (f) 단계에서는,
상기 회전 테이블이 n 번째 회전한 회전각도가 Rn이고, 상기 기준 데오드라이트와 상기 반사경이 자동 시준한 각도가 An_Ⅰ 이고, 상기 기준 데오드라이트에서 상기 이동용 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 An_Ⅱ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 제2 면경과 자동 시준한 각도가 Bn_Ⅰ 이고, 상기 이동용 데오드라이트에서 상기 기준 데오드라이트와 상호 시준한 각도가 Bn_Ⅱ 일 때, 상기 이동용 데오드라이트의 기준각(Bn*)을 Bn* = Bn_Ⅱ + 180°+ An_Ⅰ-An_Ⅱ- Rn와 같이 계산하고,
상기 제2 면경의 실제 각도(Sn)를 Sn = Bn_Ⅰ- Bn*와 같이 계산하는 것을 특징으로 하는 위성체 얼라인먼트 측정 방법
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