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포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2014034706
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 LED 에피웨이퍼 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 수십초 이내의 단시간에 에피웨이퍼의 PL 특성을 검사할 수 있는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치 및 그 방법을 제공한다. 이를 위한 본 발명은 검사대상 LED 에피웨이퍼의 발광파장보다 짧은 파장을 갖는 광을 출력하는 조명부와; 상기 조사된 광에 의해 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광에 대한 영상을 획득하는 촬영부와; 상기 촬영부의 전단에 설치되어 상기 방출광중 미리 설정된 파장 대역의 광을 통과시키는 다수의 대역통과필터로 이루어진 필터부와; 상기 획득된 영상에서 상기 LED 에피웨이퍼에 대응하는 세부영역 별로 그 세기를 연산하고, 상기 다수의 대역통과필터 각각에 대하여 상기 촬영부에서 획득된 다수의 영상을 기초로, 해당 세부영역의 세기가 가장 큰 파장 대역을 해당 세부영역의 방출광 파장으로 하여 파장 및 세기가 표시되는 영상을 생성하는 영상처리부;를 포함하는 것을 특징으로 한다. 상기와 같은 구성에 의해 본 발명은 에피웨이퍼 상의 위치에 따른 PL 파장 및 세기 분포를 확인할 수 있고 수십초 이내의 단시간에 검사할 수 있는 효과가 있다. 포토루미네선스, 이미징, 에피웨이퍼, 검사
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC G01N 21/9501(2013.01) G01N 21/9501(2013.01) G01N 21/9501(2013.01) G01N 21/9501(2013.01) G01N 21/9501(2013.01)
출원번호/일자 1020090124608 (2009.12.15)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1089787-0000 (2011.11.29)
공개번호/일자 10-2011-0067843 (2011.06.22) 문서열기
공고번호/일자 (20111207) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.15)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종석 대한민국 경기 안산시 단원구
2 김형태 대한민국 서울특별시 서대문구
3 김승택 대한민국 경기 성남시 분당구
4 정훈 대한민국 서울 광진구
5 박효영 대한민국 서울특별시 강서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층(반포동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 충청남도 천안시 서북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.15 수리 (Accepted) 1-1-2009-0773981-97
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2010-5161401-06
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.05.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0042135-54
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.05.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0287501-89
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0433941-44
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0433937-61
8 등록결정서
Decision to grant
2011.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0696725-81
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2012-5068733-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090658-47
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검사대상 LED 에피웨이퍼의 발광파장보다 짧은 파장을 갖는 광을 출력하는 조명부와; 상기 출력된 광에 의해 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광에 대한 영상을 획득하는 촬영부와; 상기 촬영부의 전단에 설치되어 상기 방출광중 미리 설정된 파장 대역의 광을 통과시키는 다수의 대역통과필터로 이루어진 필터부와; 상기 획득된 영상에서 상기 LED 에피웨이퍼에 대응하는 세부영역 별로 그 세기를 연산하고, 상기 다수의 대역통과필터 각각에 대하여 상기 촬영부에서 획득된 다수의 영상을 기초로, 해당 세부영역의 세기가 가장 큰 파장 대역을 해당 세부영역의 방출광 파장으로 하여 파장 및 세기가 표시되는 영상을 생성하는 영상처리부;를 포함하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 조명부의 출력광의 파장을 조절하고, 상기 필터부의 통과대역을 순차적으로 선택하는 제어부와; 상기 영상처리부에서 처리된 영상을 디스플레이하는 디스플레이부;를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
3 3
검사대상 LED 에피웨이퍼의 발광파장보다 짧은 파장을 갖는 광의 세기를 변경하면서 출력하는 조명부와; 상기 출력된 광에 의해 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광에 대한 영상을 획득하는 촬영부와; 상기 촬영부의 전단에 설치되어 상기 방출광중 미리 설정된 파장 대역의 광을 통과시키는 필터부와; 상기 획득된 영상에서 상기 LED 에피웨이퍼에 대응하는 세부영역 별로 그 세기를 연산하고, 상기 출력된 광의 변경되는 세기에 대하여 상기 촬영부에서 획득된 다수의 영상을 기초로 해당 세부영역의 세기 변화율에 따라 상기 해당 세부영역의 방출효율로 표시되는 영상을 생성하는 영상처리부;를 포함하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 조명부의 출력광의 세기 및 파장을 조절하는 제어부와; 상기 영상처리부에서 처리된 영상을 디스플레이하는 디스플레이부;를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
5 5
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 영상처리부는 상기 획득된 영상이 그레이 스케일(grey scale) 또는 색상으로 표시되도록 연산하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
6 6
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 출력된 광을 상기 LED 에피웨이퍼에 균일하게 조사하는 확산부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
7 7
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 촬영부의 전단에 설치되어 상기 LED 에피웨이퍼의 영역을 최대로 하여 촬영하도록 하는 렌즈부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 렌즈부는 상기 LED 에피웨이퍼의 크기에 따라 배율이 결경되는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
9 9
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광의 세기 및 파장을 측정하는 스펙트럼 분석기를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 영상처리부는 상기 스펙트럼 분석기에서 측정된 광의 세기를 기초로 상기 다수의 영상 또는 서로 다른 LED 에피웨이퍼에 대한 영상에 표시되는 세기를 보정하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 장치
11 11
검사대상 LED 에피웨이퍼의 발광파장보다 짧은 파장을 갖는 광을 상기 LED 에피웨이퍼에 균일하게 조사하는 조사 단계와; 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광에 대한 영상을 다수의 대역통과필터를 통하여 획득하는 촬영 단계와; 상기 획득된 영상에서 상기 LED 에피웨이퍼에 대응하는 세부영역 별로 그 세기를 연산하고, 상기 다수의 대역통과필터 각각에 대하여 상기 획득된 다수의 영상을 기초로, 해당 세부영역의 세기가 가장 큰 파장 대역을 해당 세부영역의 방출광 파장으로 하여 파장 및 세기가 표시되는 영상을 생성하는 영상처리 단계;를 포함하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
12 12
제 10 항에 있어서, 상기 촬영 단계는 상기 다수의 대역통과필터를 순차적으로 선택하여 촬영하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
13 13
검사대상 LED 에피웨이퍼의 발광파장보다 짧은 파장을 갖는 광의 세기를 변경하면서 상기 LED 에피웨이퍼에 균일하게 조사하는 조사 단계와; 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광에 대한 영상을 다수의 대역통과필터를 통하여 획득하는 촬영 단계와; 상기 획득된 영상에서 상기 LED 에피웨이퍼에 대응하는 세부영역 별로 그 세기를 연산하고, 상기 조사된 광의 변경되는 세기에 대하여 상기 획득된 다수의 영상을 기초로 해당 세부영역의 세기 변화율에 따라 상기 해당 세부영역의 방출효율로 표시되는 영상을 생성하는 영상처리 단계;를 포함하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 영상처리 단계에서 생성된 영상을 디스플레이하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
15 15
제 11 항 또는 제 13 항에 있어서, 상기 영상처리 단계는 상기 획득된 영상이 그레이 스케일(grey scale) 또는 색상으로 표시되도록 연산하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
16 16
제 11 항 또는 제 13 항에 있어서, 상기 촬영 단계는 상기 LED 에피웨이퍼의 영역을 최대로 하여 촬영하도록 상기 LED 에피웨이퍼의 크기에 따라 촬영 배율을 결정하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
17 17
제 11 항 또는 제 13 항에 있어서, 상기 LED 에피웨이퍼로부터 방출되는 광의 세기 및 파장을 스펙트럼 분석기를 이용하여 측정하는 측정 단계를 추가로 포함하고, 상기 영상처리 단계는 상기 스펙트럼 분석기에서 측정된 광의 세기를 기초로 상기 다수의 영상 또는 서로 다른 LED 에피웨이퍼에 대한 영상에 표시되는 세기를 보정하는 것을 특징으로 하는 포토루미네선스 이미징을 이용한 LED 에피웨이퍼 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.