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테스트용 태그 부착 단계;
상기 테스트용 태그가 부착된 제품 케이스를 RFID 리더, 상기 제품 케이스를 이동시키는 컨베이어를 포함하는 컨베이어 RFID 인식 프로세스 환경 하에서 상기 태그의 인식 여부를 테스트하는 단계;
상기 태그의 인식률에 영향을 주는 환경변수를 변경시키면서 소정의 횟수만큼 상기 테스트를 반복하여 상기 태그의 인식성공률을 산출하는 단계;
상기 RFID 리더가 상기 태그를 인식하는 평균횟수를 계산하여 상기 리더의 평균인식률을 산출하는 단계; 및
상기 인식성공률 및 평균인식률을 이용하여 상기 제품 케이스 표면의 최적 부착 위치를 선정하는 단계를 포함하되,
상기 인식성공률은,
상기 제품케이스가 상기 컨베이어를 복수 회에 걸쳐 통과하는 동안에 상기 태그를 인식 성공한 횟수의 비율이고,
상기 평균인식률은,
상기 제품케이스가 상기 컨베이어를 1회 통과하는 동안에 상기 태그를 인식한 횟수의 평균이며,
상기 인식성공률 및 평균 인식률은 상기 제품 케이스에 부착된 모든 테스트용 태그에 대하여 산출되고,
상기 선정단계는,
상기 인식성공률이 가장 높은 태그들 중 평균인식률이 가장 높은 테스트용 태그의 부착 위치를 최적 부착 위치로 선정하고,
상기 태그는,
가로, 세로 두 방향의 열십자 형태로 상기 제품 케이스 표면에 부착되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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제1항에 있어서,
태그의 인식거리를 측정하는 태그 성능 측정단계; 및
측정결과를 이용하여 테스트용 태그를 선정하는 단계
를 더 포함하는 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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3
제2항에 있어서, 상기 테스트용 태그를 선정하는 단계는
태그 성능 측정결과, 평균 인식거리를 가지는 태그만을 선정하는 것인 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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제1항에 있어서,
상기 제품 케이스의 표면은 복수의 테스트용 태그가 부착되도록 매트릭스 형태로 블록화된 것인 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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5
제1항에 있어서, 상기 테스트용 태그 부착단계는
상기 테스트용 태그를 상기 제품 케이스의 정면, 측면, 상단에 각각 부착하는 것인 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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제1항에 있어서, 상기 태그는
EPC 코드(Electronics Product Code)가 인코딩된 것을 특징으로 하는 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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삭제
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제1항에 있어서,
상기 제품 케이스 표면 중 상기 테스트용 태그가 부착되는 위치에는 시리얼 코드가 매핑되어 있는 것인 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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제1항에 있어서, 상기 환경변수는
상기 컨베이어의 속도, 상기 리더의 출력크기, 상기 테스트용 태그, 상기 RFID 리더 또는 상기 RFID 리더의 안테나 각도를 포함하는 것인 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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제1항에 있어서, 상기 인식성공률
상기 RFID 리더가 상기 테스트용 태그를 인식한 횟수와 상기 테스트 횟수의 비율인 것을 특징으로 하는 RFID 태그의 최적 부착 위치 검출방법
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